Platformdeelearningicurriculecontent

pentrunvmntulsuperiortehnic

TestareaSistemelor

[Link]
 MODELE LOGICE ALE DEFECTELOR

Testarea funcionrii unui sistem electric digital, cu o complexitate arbitrar, are loc
pe toat durata existenei acestuia. Defectele pot apare pe durata proiectrii (erori de
proiectare), manufacturrii, asamblrii, depozitrii i utilizrii ori ntreinerii acestuia.

Cea mai mare parte a defectelor au o apariie determinat, fiind cauzate de procese
imperfecte de proiectare, manufacturare etc. Aceasta face ca n afara stabilirii
funcionrii eronate, s fie de interes i determinarea precis a cauzei care a condus la
malfuncionarea respectiv i localizarea acesteia, fcndu-se astfel perfectibil
procesul corespunztor.
Se consider, n general, pentru circuite i dispozitive trei mari modaliti de testare:
Testarea static sau funcional,
Testarea dinamic sau parametric i
Testarea la viteza nominal de lucru.
Testarea static sau funcional se efectueaz prin aplicarea unor vectori binari de
valori pe liniile de intrare i analiznd starea stabil a linilor de ieire n vederea
determinrii comportamentului funcional corect.
Cea de-a doua modalitate de testare, cea parametric, verific comportamentul
semnalelor corelat cu factorul timp, implicnd anumite msurtori ale nivelelor de
tensiune i curent.
A treia modalitate este similar primei dar are loc la viteze de funcionare apropiate
vitezei maxime de operare. Aceast testare are eficien crescut n raport cu celelalte
dou i este preferat atunci cnd sunt testate dispozitive sau circuite cu complexitate
ridicat (pentru care testarea parametric este nepractic) sau atunci cnd sunt testate
dispozitive dinamice, cum ar fi memoriile dinamice.

n modul cel mai general cu putin testarea unei entiti (fie aceasta un sistem,
modul, plac de circuite etc.) const din aplicarea unor secvene de valori (vectori de
valori) liniilor de intrare ale acesteia, concomitent cu observarea secvenelor de valori
produse pe liniile de ieire i compararea acestora cu valorile omoloage de referin.
Valorile omoloage de referin pot fi anterior calculate i stocate (obinute printr-un
model simulat etc.) sau pot fi produse n timp real de o entitate etalon, creia i se
aplic aceleai condiii. Comparaia dintre entitatea testat i cea etalon pune n
eviden orice discrepan n funcionarea entitii testate, n raport cu cea de referin.
Orice discrepan se spune, generic, c reprezint o eroare, a crei cauz se apreciaz
c este un defect fizic. Defectele fizice pot fi parametrice sau logice.

Defectele parametrice afecteaz frecvent magnitudinea unui parametru al entitii

testate cauznd schimbarea unui anumit factor cum ar fi viteza, curentul sau
tensiunea. Astfel de defecte se declar n raport cu anumite criterii prin care se
stabilete cnd anume au fost depite abaterile tolerate.

1
1. Modelele defectelor logice

Un defect logic reprezint o modelare a urmrii unui defect fizic asupra

comportamentului entitii modelate, fiind caracterizabil prin faptul c modific
funcionarea acesteia. Un astfel de defect logic tipic, frecvent considerat, este fixarea
unui semnal logic w, spre exemplu, la o valoare constant (unu sau zero, valori
logice). Dac semnalul w este blocat n valoarea constant unu, acest fapt se noteaz,
tradiional, prin w b-l-1 (respectiv w b-l-0, dac valoare constant este zero). Multe
dintre defectele comune din circuitele electrice, cum ar fi ntreruperea sau
scurtcircuitarea unor linii de circuit, se pot modela, depinznd de tehnologie, prin
defecte blocaje simple (singulare) sau multiple.
Deoarece n modelarea sistemelor se difereniaz comportamentul logic de cel
dinamic (relaia cu timpul), se disting defecte funcionale i defecte de ntrziere.

Avantajele modelrii defectelor fizice prin defectele logice sunt:

Problema analizei defectelor se transfer din sfera fizic n cea logic, cu
avantajul reducerii gradul de complexitate al problemei prin faptul c
numeroase defecte fizice distincte se pot modela prin acelai defect fizic
(complexitatea defectelor logice este mult mai redus comparativ cu cea a
defectelor fizice).
Multe dintre defectele logice sunt independente de tehnologie, n sensul c
acelai model al defectului se aplic mai multor tehnologii. n acest mod
metodele de testare i diagnoz dezvoltate pentru un astfel de model pot fi
utilizate n cazul unor defecte fizice al cror efect asupra comportamentului
unui circuit este incomplet cunoscut sau, este mult prea complicat ca s fie
analizat.

Modelul logic al unui defect poate fi explicit sau implicit. Un model explicit definete
un univers al defectelor, n care fiecare defect este individual identificat i, n
consecin, defectele ce trebuie analizate sunt explicit enumerate. Modelul explicit
devine mai puin practic atunci cnd universul defectelor respective devine prohibitiv
de mare.
Un model implicit al defectului definete universul defectelor printr-o identificare
generic a defectelor respective prin enunarea proprietilor ce le caracterizeaz

Specificnd un defect logic i un model al sistemului, este necesar s se poat

determina funcionarea logic a sistemului n prezena defectului respectiv. Din acest
motiv, modelarea defectelor este dependent de modelarea utilizat pentru sistemul
respectiv. Defectele definite n conjuncie cu un model structural sunt referite ca fiind
defecte structurale efectul acestora se va reflecta prin modificarea interconexiunilor
componentelor. Defectele funcionale sunt definite n raport cu modelul funcional i
pot, spre exemplu, modifica funcionalitatea unei componente sau pot inhiba o
operaie la nivel transfer ntre registre.

Chiar dac defectele tranzitorii i intermitente nu sunt defecte tocmai rar ntlnite,
modelarea lor este complex necesitnd date statistice asupra probabilitii lor de
apariie. Aceste date sunt necesare pentru determinarea numrului de experimente de
testare, decuplate funcionrii nominale, repetate pentru maximizarea probabilitii
deteciei unui defect ce se manifest uneori, aleatoriu, n sistemul testat. Aceste date
nu sunt, uzual, disponibile. Defectele tranzitorii i intermitente sunt mai eficient

2
abordate prin testarea n regim nominal de funcionare. n cele ce urmeaz vor fi
considerate numai defectele permanente.

Se va presupune ntotdeauna ca n sistem este prezent un singur defect, n absena unei

meniuni explicite care s specifice contrariul. Aceast ipotez a defectului singular,
ipotez dealtfel simplificatoare, este justificat prin strategia testrii frecvente, care
stabilete c trebuie s se testeze suficient de des un sistem pentru ca probabilitatea
apariiei a mai mult de un defect, ntre dou experimente de testare consecutive, s fie
suficient de mic. Astfel, dac intervalele de ntreinere ale unui sistem activ sunt prea
lungi, este posibil s se ntlneasc defecte multiple.

Exist, totui, situaii n care testarea frecvent nu este suficient pentru evitarea
apariiei defectelor multiple:
1) Ceea ce poate apare ntr-un sistem real ntre doua experimente de testare este
un defect fizic, existnd anumite defecte fizice care se manifest ca defecte
logice multiple. Aceast situaie este n mod deosebit verificabil n cazul
circuitelor cu densitate mare, unde multe defecte fizice pot afecta o arie
coninnd mai multe componente.
2) n sistemele recent manufacturate, naintea primei lor testri, defectele
multiple sunt foarte probabile.
3) Dac experimentul de testare nu detecteaz fiecare defect singular (ceea ce
este, n mod uzual, cazul), atunci circuitul poate conine unul dintre defectele
nedetectate n orice moment, iar apariia unui al doilea defect ntre dou
experimente de test consecutive, face s apar un defect multiplu.

Dar chiar i atunci cnd sunt prezente defecte multiple, testele deduse n ipoteza
defectului unic sunt, uzual, aplicabile pentru detecia defectelor multiple, deoarece n
majoritatea cazurilor, un defect multiplu poate fi detectat prin teste proiectate pentru
defectele singulare individuale ce compun respectivul defect multiplu.

Modelele defectelor structurale,n general, presupun c toate componentele din sistem

nu au defecte, fiind afectate doar interconexiunile acestora. Defectele tipice care
afecteaz interconexiunile sunt scurtcircuitele (prescurtat, adesea, scurturi) i
ntreruperile. Un scurtcircuit se formeaz prin conectarea unor puncte ce nu au fost
intenionate s fie conectate, n timp ce o ntrerupere este format prin desfacerea
nedorit a unei conexiuni. n anumite tehnologii un scurtcircuit ntre o linie de
alimentare, sau de mas, i o linie de semnal poate face ca semnalul s rmn la un
nivel de tensiune fixat, spre exemplu. Defectul logic corespunztor const din
blocarea la o valoare logic fixat v (v fiind 0 sau 1) a unei linii w, i se noteaz,
tradiional, prin w b-l-v. Un scurtcircuit ntre dou linii de semnal poate face s apar,
n funcie de tehnologie, o nou funcie logic. Defectul logic reprezentnd un astfel
de scurtcircuit este referit ca fiind un defect punte (bridging fault). Depinznd de
tehnologie, funcia introdusa de un defect punte poate fi SAU ori I. Depinznd att
de liniile scurtcircuitate dintr-un circuit dat ct i de tehnologia utilizat, un astfel de
defect poate face ca un circuit combinaional s devin secvenial (stabil sau oscilant).

Efectul unei ntreruperi asupra unei linii de semnal unidirecionale neramificate w, n

multe tehnologii, este deconectarea unei intrri dintr-o poart. Aceast intrare ajunge
s aib o valoare constant anumit, fcnd astfel s apar un defect blocaj la valoarea
respectiv, aa cum se poate vedea n figura 1(a).

3
 linie deschis linie blocat

(a)

trunchi ramificaie

ntrerupere

linii
blocate

(b)

Figura 1. Linii blocate cauzate de

ntreruperi.
(a) Blocaj singular,
(b) Blocaj multiplu.

Acelai efect poate s rezulte, de asemenea, dintr-un defect fizic intern al componentei
care conduce linia w, dar fr s se poat accesa cele dou capete ale liniei nu se pot
diferenia cele dou cazuri. Aceast difereniere, nu este necesar n testarea la nivelul
pinilor terminali, dealtfel, pentru c se presupune c linia de semnal, n ntregimea sa,
este blocat la valoarea respectiv.
De remarcat c un singur defect logic, i anume linia w blocat la o valoare logic
(zero sau, 1) poate reprezenta mai multe de defecte fizice distincte:
ntreruperea liniei w,
un scurtcircuit al liniei w la o linie de alimentare, sau
orice alt defect intern corespunztor componentei, care conduce linia w,
blocnd aceast linie la valoarea respectiv.

O ntrerupere a unei linii de semnal fr ramificaii poate conduce la un defect blocaj

multiplu ce cuprinde un subset al liniilor sale ramificate, aa cum s-a ilustrat n figura
1(b). Dac se restrng consideraiile numai asupra modelul blocajului singular, atunci
sunt de considerat fiecare defect blocaj al unei singure ramificaii, separat de defectul
trunchiului.

n abordarea macro pentru modelarea ierarhic, fiecare componenta este expandata n

modelul sau structural intern. Totui daca componentele sunt individual testate
naintea asamblrii lor, atunci poate fi suficient sa se testeze numai defectele ce
afecteaz interconexiunile acestora. n consecin nu se consider defecte interne ale
componentelor ci doar defecte asociate bornelor / pinilor, lor de I/E. Aceasta ipotez
de restrngere a defectelor este referit, in genere, ca fiind modelul defectului de pin
(born).