SMART TESTING RACK

Plataforma Inteligente de Teste

SMART_TESTING_RACK_REV03 (03/17)
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 ÍNDICE 

1. DESCRIÇÃO GERAL .......................................................................................................................................................... 4

1.1 Descrição Funcional ..........................................................................................................................................................4
1.1.1 A Plataforma ................................................................................................................................................................6
1.1.2 RACK das Entradas .....................................................................................................................................................7
1.1.3 RACK do Transformador 01 .......................................................................................................................................8
1.1.4 RACK do Transformador 02 .......................................................................................................................................9
1.1.5 RACK dos Alimentadores .........................................................................................................................................10
2. MEDIÇÃO ........................................................................................................................................................................ 11
2.1 Esquema de Ligação ......................................................................................................................................................11
3. INTERFACE LOCAL .......................................................................................................................................................... 13
3.1 Controle Via Frontal do IED ............................................................................................................................................13
3.1.1 Tela de Controle/Seleção Geral ............................................................................................................................14
3.1.2 Tela de Comando dos Biestáveis ...........................................................................................................................15
3.1.3 Tela de Índice das SEs ..............................................................................................................................................15
3.2 Conjunto das Telas de Comando Local ......................................................................................................................16
3.2.1 Simuladores de Entrada ...........................................................................................................................................16
3.2.1 Simuladores de Transformador ...............................................................................................................................16
3.2.1 Simuladores de CSC .................................................................................................................................................17
3.2.1 Simuladores de Alimentador ...................................................................................................................................17
3.3 Exemplo de teclas funcionais (F1-F14) e LEDs ............................................................................................................18
3.3.1 Teclas Funcionais .......................................................................................................................................................18
3.3.2 LEDs ..............................................................................................................................................................................18
4. INTERFACE REMOTA........................................................................................................................................................ 19
4.1 Menu Inicial .......................................................................................................................................................................19
4.2 Telas dos IEDs de Entrada ...............................................................................................................................................20
4.3 Telas dos IEDs de Transformador ...................................................................................................................................21
4.4 Telas dos IEDs de Alimentadores ...................................................................................................................................24
4.5 Exemplo de Troca de Descrições das EDs/SDs ...........................................................................................................26
4.6 Comandos nas EDs dos IEDs ..........................................................................................................................................27
4.7 Os Biestáveis ......................................................................................................................................................................27
4.8 Tela de Controle das Medidas ......................................................................................................................................33
4.9 Tela de Indicação de Trip ..............................................................................................................................................34
4.10 Tela de Arquitetura ........................................................................................................................................................36
4.11 Tela do Unifilar.................................................................................................................................................................37
5. CONSIDERAÇÕES FINAIS ............................................................................................................................................... 41

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Smart Testing Rack III
 DESCRIÇÃO GERAL 

1. DESCRIÇÃO GERAL

1.1 DESCRIÇÃO FUNCIONAL

A padronização de qualquer sistema traz inúmeras facilidades no seu desenvolvimento e manutenção.
Contudo, quando falamos de Subestações, sabemos que ainda existe uma grande dificuldade na
padronização em sua totalidade, visto que nem sempre os equipamentos em campo são de modelos
iguais ou equivalentes.

Além disso existem diversos arranjos das SE’s que fazem com que a quantidade de pontos e
equipamentos monitorados e comandados varie imensamente.

Pensando em otimizar os testes de várias subestações, com configurações distintas, chegou-se à solução
da criação do Smart Testing Rack, ou seja, uma plataforma de testes inteligente que, com apenas um
comando do operador, adapta-se à Subestação a ser testada.

Com este comando, além de trocar as lógicas dos simuladores de modo automático, também foi feita
a automatização da descrição no supervisório INGESYS® IT de todas as Entradas e Saídas Digitais dos
IEDs da Subestação em teste.

Atualmente o sistema está configurado para simular 39 Subestações com configurações independentes
e totalmente distintas.

O que viabiliza uma solução deste tipo é a Padronização no Hardware dos Equipamentos fornecidos.

Como existe uma Padronização no Hardware, porém Não uma Padronização do Significado dado a
cada Entrada e Saída Digital de tais equipamentos em função da Subestação configurada, sem a
montagem de uma “Plataforma Inteligente”, a cada teste de Subestação é necessário fazer uma
revisão da fiação da Plataforma.

Por exemplo, consideremos duas Subestações utilizando IEDs de hardwares iguais, porém com as
seguintes configurações:

Figura 1 - Lista de ED/SD

Para testar a Subestação A, necessitamos de um biestável com seus contatos de estado conectados às
duas primeiras Entradas Digitais, e de 3 sinalizações simples vindas, por exemplo, de chaves do tipo micro
switches. Para o comando do biestável, utilizaríamos as duas primeiras saídas.

No entanto, para fazer testes com a Subestação B, necessitaríamos trocar as fiações de estado do
biestável que simula o estado do disjuntor da AT para a ED1-3 e ED1-4 (que para a SE A utilizava apenas
micro switch), além de acrescentar um novo biestável para fazer o papel da Seccionadora de AT
(modificando fiação de entrada e acrescentando nova fiação de saída).

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Smart Testing Rack 4
 DESCRIÇÃO GERAL 

A ideia do Smart Test Rack é de montar uma plataforma cuja fiação não tenha que ser nunca alterada
e instalar IEDs com a função de simuladores que fiquem responsáveis por toda a inteligência e simulação
dos biestáveis necessários.

Para isso, foram projetados Racks independentes de acordo com as seguintes aplicações:

• Rack das Entradas

• Rack do Transformador 01
• Rack do Transformador 02
• Rack dos Alimentadores

Cada Rack é composto por IEDs Idênticos aos entregues no fornecimento das Subestações da ELEKTRO
e por IEDs chamados de Simuladores.

Dentro de cada Rack, todas as Entradas digitais dos IEDs que fazem o papel dos IEDs da Subestação
são fiadas a Saídas digitais dos IEDs Simuladores. E todas suas Saídas digitais a Entradas digitais dos IEDs
Simuladores.

Também foram instalados relés auxiliares que são comandados pelas Saídas digitais dos Simuladores
para possibilitar um controle remoto de inserção e extração de uma determinada medida de um IED
sem a necessidade de realizar modificações na fiação da caixa e teste para injeção de correntes e
tensões.

A parada da caixa de teste também é realizada por saídas digitais do simulador que é ativada em
função de TRIP gerado pelo IED da Subestação (podendo ainda ser acionada por comando do
operador para teste de fiação).

Os Racks são independentes entre si e toda troca de dados entre eles é realizada por envio/recepção
de GOOSEs entre os IEDs Simuladores.

Cada Simulador (a exceção dos Simuladores de CSC) simula o comportamento de 14 Biestáveis,

incluindo simulação de indefinição e falha na sua comutação quando do recebimento de um
comando e a possibilidade de parametrização dos tempos de comutação dos contatos e seu tempo
para indicação de equipamento indefinido.

O Simulador de CSC está configurado para simular o comportamento de um comutador de TAPs, com
as funções de Aumentar/Diminuir TAP, CSC Local/Remoto, Mini Disjuntor CSC Ligado/Desligado, além de
todas as indicações envolvendo a indicação do TAP (Indicação da posição do TAP em BCD, posição
Máxima/Mínima atingida, indicação da comutação em curso).

De modo esquemático, temos o seguinte:

Figura 2 - Esquema da Plataforma

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 DESCRIÇÃO GERAL 

1.1.1 A Plataforma

Figura 3 - Desenho da Plataforma

Figura 4 - Foto da Plataforma

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 DESCRIÇÃO GERAL 

1.1.2 RACK das Entradas

Modelo: INGEPAC EF MD 1 B C A CDXXXX KK C DLL6AAA

Código: FC3663
IED Tipo: RPE1 – C1
Nome de Projeto: RL1
Aplicação: Sobrecorrente de Entrada Principal – C1
EDs/SDs: 57 EDs + 37 SDs + 1 SD de HW

Modelo: INGEPAC EF MD 1 B C A CDXXXX KK C DLL6AAA

Código: FC3663
IED Tipo: RPE1 – C2
Nome de Projeto: RL2
Aplicação: Sobrecorrente de Entrada Principal – C2
EDs/SDs: 57 EDs + 37 SDs + 1 SD de HW

Modelo: INGEPAC EF MD 1 B C A CDXXXX KK C PPPPAAA

Código: FC3890
IED Tipo: SIMU – C1
Nome de Projeto: RL4
Aplicação: Simulador para RPE1-C1
EDs/SDs: 70 EDs + 68 SDs + 1 SD de HW

Modelo: INGEPAC EF MD 1 B C A CDXXXX KK C PPPPPPA

Código: FC3756
IED Tipo: SIMU – C2
Nome de Projeto: RL5
Aplicação: Simulador para RPE1-C2
EDs/SDs: 70 EDs + 68 SDs + 1 SD de HW

Bornes para injeção de correntes e tensões

Bornes para parada da caixa de teste (TRIP dos IEDs)

Figura 5 - Rack das Entradas

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 DESCRIÇÃO GERAL 

1.1.3 RACK do Transformador 01

Modelo: OTBBBBBBBBBBBBBBBBBBTT9999UMMHPHH09
Código: MAR1130 (HIRSCHMANN)
Nome de Projeto: SW

Modelo: INGEPAC EF MD 1 B C A CDXXXX KK C DLL6AAA

Código: FC3663
IED Tipo: RL1 – TR1
Nome de Projeto: RL1
Aplicação: Sobrecorrente do Transformador
EDs/SDs: 57 EDs + 37 SDs + 1 SD de HW

Modelo: INGEPAC EF TD 0 B C A CDXXXX KK C D6AAAAA

Código: FC3665
IED Tipo: RL2 – TR1
Nome de Projeto: RL2
Aplicação: Diferencial do Transformador
EDs/SDs: 25 EDs + 21 SDs + 1SD de HW

Modelo: INGEPAC EF CD 1 B C A CDXXXX KK C DXXAAAA

Código: FC3666
IED Tipo: RL3 – TR1
Nome de Projeto: RL3
Aplicação: Relé 90 do Transformador
EDs/SDs: 49 EDs + 13 SDs + 1 SD de HW

Modelo: INGEPAC EF MD 1 B C A CDXXXX KK C PPPPAAA

Código: FC3890
IED Tipo: CSC – TR1
Nome de Projeto: RL4
Aplicação: Simulador para RL3
EDs/SDs: 70 EDs + 68 SDs + 1 SD de HW

Modelo: INGEPAC EF MD 1 B C A CDXXXX KK C PPPPPPA

Código: FC3756
IED Tipo: SIMU – TR1
Nome de Projeto: RL5
Aplicação: Simulador para RL1 e RL2
EDs/SDs: 102 EDs + 102 SDs + 1 SD de HW

Bornes para injeção de correntes e tensões

Bornes para parada da caixa de teste (TRIP dos IEDs)

Modelo: PC INDUSDRIAL UNO

Código: UNO-4683-BTO
Nome de Projeto: PC
Aplicação: IHM/GW da Subestação + Supervisório Simulador

Figura 6 - Rack do Transformador 01

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Smart Testing Rack 8
 DESCRIÇÃO GERAL 

1.1.4 RACK do Transformador 02

Modelo: INGEPAC EF MD 1 B C A CDXXXX KK C DLL6AAA

Código: FC3663
IED Tipo: RL1 – TR2
Nome de Projeto: RL1
Aplicação: Sobrecorrente do Transformador
EDs/SDs: 57 EDs + 37 SDs + 1 SD de HW

Modelo: INGEPAC EF TD 0 B C A CDXXXX KK C D6AAAAA

Código: FC3665
IED Tipo: RL2 – TR2
Nome de Projeto: RL2
Aplicação: Diferencial do Transformador
EDs/SDs: 25 EDs + 21 SDs + 1SD de HW

Modelo: INGEPAC EF CD 1 B C A CDXXXX KK C DXXAAAA

Código: FC3666
IED Tipo: RL3 – TR2
Nome de Projeto: RL3
Aplicação: Relé 90 do Transformador
EDs/SDs: 49 EDs + 13 SDs + 1 SD de HW

Modelo: INGEPAC EF MD 1 B C A CDXXXX KK C PPPPAAA

Código: FC3890
IED Tipo: CSC – TR2
Nome de Projeto: RL4
Aplicação: Simulador para RL3
EDs/SDs: 70 EDs + 68 SDs + 1 SD de HW

Modelo: INGEPAC EF MD 1 B C A CDXXXX KK C PPPPPPA

Código: FC3756
IED Tipo: SIMU – TR2
Nome de Projeto: RL5
Aplicação: Simulador para RL1 e RL2
EDs/SDs: 102 EDs + 102 SDs + 1 SD de HW

Bornes para injeção de correntes e tensões

Bornes para parada da caixa de teste (TRIP dos IEDs)

Figura 7 - Rack do Transformador 02

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Smart Testing Rack 9
 DESCRIÇÃO GERAL 

1.1.5 RACK dos Alimentadores

Modelo: INGEPAC EF MD 1 B C A CDXXXX KK C 2AAAAAA

Código: FC3664
IED Tipo: 1º ALIM
Nome de Projeto: RL1
Aplicação: Sobrecorrente do Alimentador
EDs/SDs: 14 EDs + 12 SDs + 1 SD de HW

Modelo: INGEPAC EF MD 1 B C A CDXXXX KK C 2AAAAAA

Código: FC3664
IED Tipo: 2º ALIM
Nome de Projeto: RL2
Aplicação: Sobrecorrente do Alimentador
EDs/SDs: 14 EDs + 12 SDs + 1 SD de HW

Modelo: INGEPAC EF MD 1 B C A CDXXXX KK C 2AAAAAA

Código: FC3664
IED Tipo: 2º ALIM
Nome de Projeto: RL3
Aplicação: Sobrecorrente do Alimentador
EDs/SDs: 14 EDs + 12 SDs + 1 SD de HW

Modelo: INGEPAC EF MD 1 B C A CDXXXX KK C PPPPAAA

Código: FC3890
IED Tipo: SIMU – AL
Nome de Projeto: RL5
Aplicação: Simulador para 1º ALIM / 2º ALIM / 3º ALIM
EDs/SDs: 70 EDs + 68 SDs + 1 SD de HW

Bornes para injeção de correntes e tensões

Bornes para parada da caixa de teste (TRIP dos IEDs)

Figura 8 - Rack dos Alimentadores

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Smart Testing Rack 10
 MEDIÇÃO 

2. MEDIÇÃO

2.1 ESQUEMA DE LIGAÇÃO

Uma das grandes vantagens do Smart Testing Rack é a possibilidade de controle do circuito de medição
dos IEDs de modo Remoto.

O projeto foi pensado de modo que os fechamentos de corrente não sejam feitos diretamente nos IEDs,
e assim possamos conectar todos os Racks com as correntes seriadas.

Graças ao esquema de relés auxiliares comandados pelas Saídas digitais dos Simuladores, conseguimos
remotamente indicar se uma determinada grandeza deve fazer parte do circuito de medição da
plataforma sem necessidade de alterar nenhuma fiação.

Por exemplo, suponhamos 2 Racks, cada um com 2 IEDs da Subestação com medida de Ia e 1 IED
Simulador. Consideremos ainda que temos a disposição para teste uma caixa que é capaz de injetar
uma única Corrente nos IEDs.

Em um sistema convencional, para testar disparos e medições de modo independente nos IEDs (sem
alterar nenhum ajuste de habilitação/ desabilitação de funções) necessitaríamos modificar
manualmente a fiação da caixa de teste para cada um dos 4 IEDs (fazendo a corrente passar apenas
por sua Ia).

No Smart Testing Rack poderíamos deixar a caixa conectada em todos os IEDs (corrente em série) e, de
modo Remoto, indicar se queremos ou não que um IED participe do circuito.

Figura 9 - Esquema de Ligação da Medição

Na representação acima vemos que a corrente aplicada pela Caixa de Teste, circularia pelo
transformador de medição de Ia dos 4 IEDs (IED1/2/3/4).

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Smart Testing Rack 11
 MEDIÇÃO 

No entanto podemos, via IED Simulador acionar uma SD que indique que devemos remover a medição
de Ia em alguns dos IEDs.

Por exemplo, ativando as SDs que acionam os Relés Auxiliares (R.A.) 1, 3 e 4, conseguiríamos fazer com
que a corrente injetada circulasse apenas pelo IED2, possibilitando um ensaio individual desta proteção.

Figura 10 - Exemplo de Exclusão de Medições

Esse comando de Retirada de uma determinada medição de um IED específico pode ser realizado
tanto via comando frontal no simulador, quanto Remotamente via Supervisório.

Isso abre uma infinidade de possibilidades de Testes Remotos ao operador, visto que não há nenhuma
necessidade de intervenção em termos de fiação para que modifiquemos o circuito em teste.

ATENÇÃO: Recomendamos que esta operação com o circuito de medição seja sempre realizada com
a caixa de testes desligada.

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Smart Testing Rack 12
 INTERFACE LOCAL 

3. INTERFACE LOCAL

3.1 CONTROLE VIA FRONTAL DO IED

Figura 11 - Interface Local do IED

A função básica dos Simuladores é de acionar determinadas saídas digitais para ativar as Entradas dos
IEDs em teste. Adicionalmente também foi implementada a funcionalidade do controle da inserção e
extração das medições (função esta chamada por “Retirar Medição” no display).

O acionamento das saídas do simulador pode ocorrer de modo automático, se a saída está associada
à indicação de estado de um biestável por exemplo; ou de modo intencional pelo operador para as
indicações simples.

Cada um dos 14 biestáveis existentes em cada simulador pode ser controlado via ativação de Entrada
Digital (ED) do simulador, ou via comando do operador de modo individual para colocá-los nas posições
de Aberto, Fechado, Indefinido a 00 ou Indefinido a 11.

Existe ainda a possibilidade de colocar todos os biestáveis do simulador na sua posição inicial, posição
esta configurada de acordo com cada uma das Subestações a serem testadas (Biestável inicia
Fechado, Aberto ou Indefinido 00) por meio do botão “INICIAL” configurado na primeira tela do display.

Com relação às indicações simples, suponhamos que temos a SD2-8 do IED simulador fiada à ED2-6 do
IED em teste (RL1 por exemplo), e esta ED por sua vez indica “Disj. Entrada C1 - Falta Vcc Motor”.

Quando queremos simular a indicação de falta Vcc do Motor do disjuntor, basta indicarmos ao
simulador que ative sua SD2-8. Contudo, como a fiação é fixa dentro da plataforma, fazemos uma
relação interna na programação do IED para que não precisemos saber onde está conectada cada
SD do simulador, e assim possamos a comandar diretamente a ATIVAÇÃO DA ED2-6 no RL1 através do
simulador.

Como temos 14 teclas funcionais (F1-F14) programáveis, para agilizar os comandos, foi realizada uma
configuração de display que permite que o usuário selecione o grupo de comandos que quer realizar e
na sequência comande um determinado elemento através das teclas de F1 a F14.

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 INTERFACE LOCAL 

3.1.1 Tela de Controle/Seleção Geral

Estrutura da Tela de Controle/Seleção Geral para os IEDs Simuladores de Biestáveis:

Indicação numérica da SE
ativa no Simulador
Seleção de Grupo de
Comandos para Teclas F1-F14:
Comando para colocar
Biestáveis
todos os biestáveis do
simulador na sua Posição
Seleção de Grupo de Inicial (Fechado, Aberto ou
Comandos para Teclas F1-F14:
Indefinido 00)
Ativação das EDs do IED da SE
(por meio de ativação de SDs
do Simulador)

Seleção de Grupo de
Comandos para Teclas F1-F14:
Retirar Medidas do Circuito de
Medição

Figura 12 - Tela de Controle/Seleção do Simulador de Biestáveis

Estrutura da Tela de Controle/Seleção Geral para os IEDs Simuladores de CSC:

Indicação numérica da SE
ativa no Simulador
Seleção de Grupo de
Comandos para Teclas F1-F14:
Controles do CSC Comandos e indicações
relativas ao CSC

Seleção de Grupo de
Comandos para Teclas F1-F14:
Ativação das EDs do IED da SE
(por meio de ativação de SDs
do Simulador)

Seleção de Grupo de
Comandos para Teclas F1-F14:
Retirar Medidas do Circuito de
Medição

Figura 13 - Tela de Controle/Seleção do Simulador de CSC

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 INTERFACE LOCAL 

3.1.2 Tela de Comando dos Biestáveis

Estrutura das Telas de Comando dos Biestáveis para os IEDs Simuladores de Biestáveis:

Comando para ativar ou

desativar a Simulação de
Falha do biestável quando da Indicação de comutação
recepção de um comando de para a Abertura ou para o
comutação. Fechamento Em Curso

Representação da Posição do
Biestável: Comando para Indefinir a
• Aberto 11 o Biestável
• Fechado
• Indefinido
Comando para Indefinir a
00 o Biestável

Figura 14 - Tela de Comando dos Biestáveis

Em cada Simulador existem 4 telas deste tipo, para comportar os 14 Biestáveis existentes:

Figura 15 - Conjunto de Telas dos Biestáveis

3.1.3 Tela de Índice das SEs

Estrutura da Tela de Índice para os IEDs Simuladores de Biestáveis e CSC:

Indicação numérica da SE
ativa no Simulador

Lista com o Índice Numérico

e a Sigla correspondente à
Subestação.
A configuração está
preparada para simular 39
subestações sem
necessidade de recarregar
configuração. A troca entre
as SEs se dá por um
comando no Supervisório.

Figura 16 - Tela de Índice das SEs

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 INTERFACE LOCAL 

3.2 CONJUNTO DAS TELAS DE COMANDO LOCAL

3.2.1 Simuladores de Entrada

Figura 17 - Telas dos Simuladores de Entrada

3.2.1 Simuladores de Transformador

Figura 18 - Telas dos Simuladores de Transformador

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 INTERFACE LOCAL 

3.2.1 Simuladores de CSC

Figura 19 - Telas dos Simuladores de CSC

3.2.1 Simuladores de Alimentador

Figura 20 - Telas dos Simuladores de Alimentador

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Smart Testing Rack 17
 INTERFACE LOCAL 

3.3 EXEMPLO DE TECLAS FUNCIONAIS (F1-F14) E LEDS

3.3.1 Teclas Funcionais

Como as Teclas Funcionais (F1-F14) podem realizar comandos distintos em função do Grupo de
Comandos ativado no Display, cada Tecla recebe as identificações dos possíveis comandos a
serem realizados.

Exemplo para Teclas Funcionais do Simulador de Alimentador:

Figura 21 - Exemplo de Teclas Funcionais

3.3.2 LEDs
Para os Simuladores de Biestáveis, nos LEDs de uso geral foram configuradas as seguintes
indicações:
• Biestável Abrindo
• Biestável Fechando
• Indicação do Estado da Comunicação com todos os outros Simuladores
• Indicação de envio de Ajustes em curso
• Indicação de envio de CID em curso

Para os Simuladores de CSC, nos LEDs de uso geral foram configuradas as seguintes indicações:
• Indicação dos bits do TAP em BCD
• Indicação do Estado da Comunicação com todos os outros Simuladores
• Indicação de envio de Ajustes em curso
• Indicação de envio de CID em curso

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Smart Testing Rack 18
 INTERFACE REMOTA 

4. INTERFACE REMOTA
Além de todas as telas configuradas para o display frontal dos IEDs Simuladores que possibilitam o total
controle dos IEDs a serem testados, foi configurado, no supervisório INGESYS® IT, um conjunto de telas
altamente adaptativo à SE Testada.

Graças ao uso de diversos Scripts, conseguimos alterar a apresentação do supervisório de modo que esta
represente fielmente, dentre os IEDs presentes na plataforma, aqueles que realmente fazem parte da
Subestação testada no momento.

Todos os textos das Entradas e Saídas Digitais da Subestação também são automaticamente preenchidos
com uma simples seleção de Subestações.

Além de facilitar e agilizar imensamente os testes, podemos ocupar como uma base de consulta essa
descrição automática de todas as EDs e SDs concentrando em um único supervisório diversas Subestações
simultaneamente.

Mas o trunfo desta interface Remota, aliada à padronização do Hardware dos equipamentos das diversas
Subestações, é sem dúvida a possibilidade de realização de Testes Remotos sem a necessidade de nenhuma
intervenção local com os equipamentos.

Na sequência, apresentaremos algumas telas do supervisório desenvolvido para a aplicação da ELEKTRO.

4.1 MENU INICIAL

Em função da seleção da Subestação em Teste, todos os atalhos e telas têm seu comportamento
alterados.

Nos exemplos abaixo, vemos que para o Teste da Subestação de Cabreúva 02 (CAV02), dos quatro
Racks da plataforma, todos fazem parte do teste.

Já para o Teste da Subestação de São Luiz do Paraitinga 01 (SLP01), como não existem IEDs de Entrada
e nem Alimentadores INGETEAM na aplicação, o supervisório oculta tais IEDs.

Figura 22 - Menu Inicial (CAV02)

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Smart Testing Rack 19
 INTERFACE REMOTA 

Figura 23 - Menu Inicial (SLP01)

A seguir apresentaremos as telas de Entradas e Saídas do IEDs de Cabreúva 02 (CAV02), lembrando que
todas as descrições mudam em função da SE em Teste.

4.2 TELAS DOS IEDS DE ENTRADA

Figura 24 - EN01 - RPE1 (CAV02)

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Smart Testing Rack 20
 INTERFACE REMOTA 

Figura 25 - EN02 - RPE1 (CAV02)

4.3 TELAS DOS IEDS DE TRANSFORMADOR

Figura 26 - TR01 - RL1 (CAV02)

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Smart Testing Rack 21
 INTERFACE REMOTA 

Figura 27 - TR01 - RL2 (CAV02)

Figura 28 - TR01 - RL3 (CAV02)

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Smart Testing Rack 22
 INTERFACE REMOTA 

Figura 29 - TR02- RL1 (CAV02)

Figura 30 - TR02 - RL2 (CAV02)

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Smart Testing Rack 23
 INTERFACE REMOTA 

Figura 31 - TR02 - RL3 (CAV02)

4.4 TELAS DOS IEDS DE ALIMENTADORES

Figura 32 - ALIM - 1º AL (CAV02)

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Smart Testing Rack 24
 INTERFACE REMOTA 

Figura 33 - ALIM - 2º AL (CAV02)

Figura 34 - ALIM - 3º AL (CAV02)

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Smart Testing Rack 25
 INTERFACE REMOTA 

4.5 EXEMPLO DE TROCA DE DESCRIÇÕES DAS EDS/SDS

A seguir vemos a mesma tela do IED “TR01 – RL1” para duas SEs distintas (CAV01 x SLP01). Vemos que a
quantidade de Entradas e Saídas e sua disposição é a mesma, no entanto a função delas é alterada
em função da SE. Essa troca de descrição de todos as EDs/SDs é realizada automaticamente, apenas
com a troca da seleção da SE na tela do Menu Inicial.

Lembramos que para testar SEs tão distintas como as exemplificadas abaixo, não é necessária nenhuma
alteração de fiação na plataforma.

Figura 35 - Descrição das EDs/SDs de CAV02

Figura 36 - Descrição das EDs/SDs de SLP01

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Smart Testing Rack 26
 INTERFACE REMOTA 

4.6 COMANDOS NAS EDS DOS IEDS

Nas telas dos IEDs, podemos ativar e desativar todas as EDs do equipamento em teste. Abaixo segue o
exemplo da simulação de Falta Vcc do Motor do 52-01 (ED2-6):

Figura 37 - Ativar ED do IED da SE

Figura 38 - Desativar ED do IED da SE

Nas operações acima o que estamos realmente fazendo são ativações e desativações de Saídas do
Simulador. Contudo, como o Hardware do IED em teste é padronizado, sempre teremos a mesma
relação entre “SD do Simulador” x “ED do IED em teste” e assim conseguimos representar e identificar o
comando diretamente com a nomenclatura da ED do IED em teste.

4.7 OS BIESTÁVEIS
Os Biestáveis, simulados nos IEDs Simuladores, podem ter os tempos de comutação dos contatos e seu
tempo para indicação de equipamento indefinido parametrizados pelo usuário.

Para facilitar os ajustes, foram externados os tempos para a simulação dos biestáveis que serão utilizados
como Disjuntores dos que serão utilizados como Seccionadoras, conforme figura abaixo. No entanto é
possível separar os ajustes de todos os 14 Biestáveis de cada simulador de modo independente se
necessário.

Figura 39 - Parâmetros dos Biestáveis

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 INTERFACE REMOTA 

Nas telas dos IEDs Simuladores podemos ver todos os Biestáveis que estão sendo utilizados para a SE em
teste. Cada biestável é representado pelo conjunto de indicações ilustradas abaixo:

Figura 40 - Comandos dos Biestáveis

Para realizar os comandos de comutação de estado sobre os biestáveis, basta clicar na sua
representação de posição e selecionar o comando desejado:

Figura 41 - Comando de Abrir o Biestável

Figura 42 - Comando de Fechar o Biestável

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 INTERFACE REMOTA 

Do mesmo modo, podemos comandar a colocação (CMD ON) ou retirada (CMD OFF) da simulação
de falha do Biestável:

Figura 43 - Colocar/Retirar Falha do Biestável

Podemos simular a Indefinição a 11 do biestável (irá ativar ambas as EDs de Equipamento Aberto e
Fechado no IED em teste):

Figura 44 - Simular Indefinição a 11

Podemos simular a Indefinição a 00 do biestável (irá desativar ambas as EDs de Equipamento Aberto e
Fechado no IED em teste):

Figura 45 - Simular Indefinição a 00

Como cada Simulador (a exceção dos Simuladores de CSC) simula o comportamento de 14 Biestáveis,
podemos ver a representação de todos estes biestáveis nas telas do Simulador.

Nas figuras abaixo podemos ver o exemplo com as telas dos Simuladores, apresentando todos os 14
Biestáveis disponíveis em cada Simulador. No IED Simulador dos Alimentadores, na plataforma aplicada
à ELEKTRO, representamos 12 biestáveis para termos uma divisão igualitária entre os 3 alimentadores
simulados deixando os outros 2 para uma aplicação futura.

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 INTERFACE REMOTA 

Figura 46 - Tela dos Simuladores de Entrada (Completa)

Figura 47 - Tela dos Simuladores de Transformador (Completa)

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 INTERFACE REMOTA 

Figura 48 - Tela dos Simuladores de Alimentador (Completa)

Em função da SE em teste, os biestáveis recebem o número operacional do equipamento que está

simulando e aqueles que não são utilizados, nem aparecem na tela.

Na sequência podemos ver um exemplo com as telas dos Simuladores da SE Cabreúva 02 (CAV02):

Figura 49 - Tela dos Simuladores de Entrada (CAV02))

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 INTERFACE REMOTA 

Figura 50 - Tela dos Simuladores de Transformador (CAV02)

Figura 51 - Tela dos Simuladores de Alimentador (CAV02)

Como em cada SE temos vários biestáveis, podemos forçar a inicialização do estado de todos em uma
determinada posição inicial (previamente definida e configurada nos simuladores).

Essa inicialização pode ser feita em cada simulador independente ou em todos os biestáveis da SE
simultaneamente através da seguinte tela:

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 INTERFACE REMOTA 

Figura 52 - Inicialização dos Biestáveis (CAV02)

Assim como todas as telas apresentadas, esta também acompanha a estrutura da SE em teste. Como
exemplo, uma SE sem IEDs de Entradas e Alimentadores:

Figura 53 - Inicialização dos Biestáveis (SLP01)

4.8 TELA DE CONTROLE DAS MEDIDAS

Na tela de Controle das Medidas, representamos as medidas que cada IED pode realizar e nela
podemos selecionar se queremos “Excluir” ou “Inserir” uma medição de um determinado IED conforme
detalhado no item 2 “Medição”.

Figura 54 - Tela de Controle das Medidas (CAV02)

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 INTERFACE REMOTA 

Para excluir uma medida do circuito, basta clicar sobre a sua indicação e selecionar “Excluir”.

ATENÇÃO: Recomendamos que esta operação com o circuito de medição seja sempre realizada com
a caixa de testes desligada.

Figura 55 - Excluir/Inserir Medidas do Circuito

Quando não existe um determinado IED ou painel na SE em teste, também ocultamos automaticamente
a sua representação na tela de controle da Medição:

Figura 56 - Tela de Controle das Medidas (SLP01)

4.9 TELA DE INDICAÇÃO DE TRIP

Na tela de Indicação de TRIP, além de visualizar se um determinado IED está gerando um Trip (verificado
mediante atuação de uma saída digital especificada em projeto), podemos também forçar o
fechamento do circuito correspondente para teste de fiação e parada de caixa de injeção de
medição, por exemplo.

As saídas de Trip são fiadas a bornes na chapa frontal de cada rack para facilitar a ligação com a caixa
de testes.

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 INTERFACE REMOTA 

No RL2 dos painéis dos Transformadores, podemos ainda selecionar qual circuito de Trip deverá ativar a
indicação de “TRIP RL2” (circuito de Alta ou Baixa do Transformador).

Figura 57 - Tela de Indicação de TRIP (CAV02)

Quando não existe um determinado IED ou painel na SE em teste, também ocultamos automaticamente
a sua representação na tela de indicação de Trip:

Figura 58 - Tela de Indicação de TRIP (SLP01)

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4.10 TELA DE ARQUITETURA

Na tela de Arquitetura representamos os Racks e IEDs que fazem parte da SE em Teste. Como o
supervisório comunica apenas com os IEDs Simuladores, os demais IEDs são sempre representados em
cinza, apenas para indicar a sua presença no rack.

Se clicarmos sobre os IEDs simuladores, abrimos automaticamente uma janela para fazer ping em seu IP.
Caso o IED não esteja comunicando, este é representado com um X vermelho sobreposto e com seu
endereço IP também em vermelho.

Figura 59 - Tela de Arquitetura (CAV02)

Quando não existe um determinado IED ou painel na SE em teste, também ocultamos automaticamente
a sua representação na tela de Arquitetura:

Figura 60 - Tela de Arquitetura (SLP01)

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 INTERFACE REMOTA 

4.11 TELA DO UNIFILAR

Para facilitar o teste e evitar que o operador necessite saber exatamente em qual simulador um
determinado biestável está sendo simulado, dispomos da tela do Unifilar da Subestação em Teste.

Nela organizamos os biestáveis conforme o diagrama Unifilar da SE e ainda acrescentamos botões de

acesso às demais telas detalhadas nos tópicos anteriores.

Figura 61 - Tela do Unifilar (CAV02)

Clicando em um determinado equipamento, abrimos uma janela com todos os comandos possíveis de
serem realizados no biestável correspondente:

Figura 62 - Comando de Abertura do 52-01

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 INTERFACE REMOTA 

Figura 63 - Inserção de Falha no 52-01

Figura 64 - Indicação de Falha sobre o 52-01

Podemos também indefinir os equipamentos via unifilar:

Figura 65 - Indicação de Indefinição do 52-01

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 INTERFACE REMOTA 

No CSC, podemos comandar a mudança da posição de TAP:

Figura 66 - CSC - Comutação de TAP

Inserir ou retirar a simulação de falha do CSC:

Figura 67 - CSC - Inserir/Retirar Falha

Desligar ou Ligar o mini disjuntor do CSC:

Figura 68 - CSC - Desligar/Ligar Mini Disjuntor

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 INTERFACE REMOTA 

Comutar o estado da chave 43LR do CSC:

Figura 69 - CSC - Comutar entre Local/Remoto 43LR

Os comandos dados nas telas dos Simuladores e na tela do Unifilar são os mesmos, ficando assim a
critério do operador a escolha por onde realizar o ensaio.

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 CONSIDERAÇÕES FINAIS 

5. CONSIDERAÇÕES FINAIS
A solução do Smart Testing Rack é um grande exemplo dos benefícios que temos ao padronizar soluções.

Graças à padronização dos IEDs utilizados nas aplicações do fornecimento da INGETEAM à ELEKTRO foi
possível a concepção da plataforma apresentada neste documento.

Dentre vários benefícios que a plataforma nos traz, podemos destacar os seguintes:

• Agiliza os testes possibilitando a rápida troca entre SEs testadas sem necessidade de intervenção em
fiação;

• Desvincula os testes de plataforma dos testes dos painéis, de modo que a montagem dos painéis em
campo independe dos testes em plataforma, podendo inclusive ocorrer de forma concomitante,
reduzindo assim o cronograma total de obra;

• Uma vez que a SE está energizada, a plataforma pode ser utilizada para testar funções e automatismos
sem necessidade de desligamento da SE;

• Devido a automatização da medição, que permite o acesso remoto, é possível minimizar custos com
deslocamento para o cliente com despesas de translado e estadia de inspetores;

• O acesso remoto possibilita que várias regionais descentralizadas da empresa possam acessar a
plataforma para realizar testes específicos de sua localidade;

• Auxilia em treinamentos internos na empresa, já que simula a operação dos equipamentos da própria
SE;

Adicionalmente, o projeto foi pensado como uma solução passível de ser aplicada a outros clientes em
outras topologias. Item imprescindível para tanto é a Padronização de Hardware dos IEDs (independente de
seu modelo e fabricante) de modo a aumentar a abrangência da aplicação da plataforma no maior
número de SEs possível.

Como os Racks foram desenvolvidos de modo independentes entre si, conforme sua função (Entradas,
Transformadores e Alimentadores), e toda troca de dados entre eles é realizada por envio/recepção de
GOOSEs entre os IEDs Simuladores, é possível ampliar a plataforma de testes conforme necessidade do
cliente. Por exemplo, ampliando um Rack completo de Alimentadores.

Graças à troca de mensagens estar concentrada nos IEDs Simuladores, podemos inclusive inserir
equipamentos da SE que não trabalhem na norma IEC61850, pois estes são integrados unicamente via fiação
aos IEDs Simuladores.

Por todas as considerações acima citadas, podemos afirmar que o Smart Testing Rack é um produto que traz
inúmeros benefícios à companhia acarretando em redução de custos diretos e indiretos em implantação ou
manutenção de SEs existentes.

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