3

BAB II

TINJAUAN PUSTAKA

2.1 Pengujian Metalografi

Menurut Van Der Voort (1988), metalografi adalah salah satu ilmu tentang

logam yang mempelajari dan menyajikan struktur mikro maupun topografi logam,

fasa-fasa, ukuran butir dan distribusinya, serta sifat-sifat logam serta paduannya

dengan menggunakan peralatan mikroskop. Metalografi merupakan pengujian dan

pengamatan terhadap strukutur butir suatu logam. Dalam pengamatan secara

metalografi dapat diperoleh gambaran struktur butiran suatu logam. Pengujian

metalografi harus menggunakan bantuan dari mikroskop optik.

Sedangkan menurut Avner (1964), Metalografi adalah suatu ilmu yang

mempelajari tentang struktur makro dan mikro dari suatu logam, bisa juga diartikan

sebagai ilmu yang mempelajari tentang sifat mekanik dan sifat fisik dari suatu

material atau logam. Secara umum, metalografi merupakan disiplin ilmu yang

mempelajari karakteristik mikrostruktur suatu logam dan paduan logam.

Metalografi menjadi sebuah studi struktur fisik dan komponen logam yang

menggunakan mikroskop untuk mengetahui perkiraan sifat-sifat fisik dengan

mengenali ciri khusus mikronya[2]. Metalografi merupakan gambaran mikro pada

permukaan logam yang sudah dipreparasi.

Uji Metalografi merupakan suatu proses yang bertujuan untuk memperoleh

gambar yang menunjukan struktur mikro sebuah logam atau paduan. Melalui Proses
 4

ini kita dapat mengetahui struktur dari suatu logam atau paduan dengan

memperjelas batas-batas butir logam sehingga dapat langsung dilihat dengan

menggunakan mikroskop dan diambil gambarnya. Pengujian metalografi

dimaksudkan untuk melihat perubahan struktur pada sebuah logam atau paduan

setelah dilakukan pengelasan dari logam murni[3]. Ada beberapa metode yang

dipakai yaitu: mikroskop (optik maupun elektron), difraksi ( sinar-X, elektron dan

neutron), analasis (X-ray fluoresence, elektron mikroprobe) dan juga stereometric

metalografi[4]. Analisis metalografi secara kuantitatif merupakan pengujian yang

cukup penting dalam proses fabrikasi suatu logam karena dapat digunakan untuk

menentukan fasa yang terbentuk, kekompakan struktur, ukuran butir, dan berbagai

karakteristik fisis lainnya[5]. Pengamatan metalografi dengan mikroskop umumnya

dibagi menjadi dua, yaitu[5]:

1. Metalografi makro, yaitu pengamatan struktur dengan perbesaran 10 –

100 kali.

2. Metalografi mikro, yaitu pengamatan struktur dengan perbesaran di atas

100 kali.

2.2 Struktur Mikro

Struktur mikro adalah gambaran dari kumpulan fasa-fasa yang dapat

diamati melalui teknik metalografi. Struktur mikro suatu logam dapat dilihat

dengan menggunakan mikroskrop. Pengujian struktur mikro yang menggunakan

Micro Hardenes Tester dengan pembesaran foto diperoleh dari perkalian lensa

obyektif dan okuler. Lensa obyektif yang dipakai 10x, lensa okuler 10x sehingga
 5

perbesaran bisa mencapai 100x. Pada jarak 10 setrip pada foto untuk perbesaran

100x adalah 100 µm.

2.3 Struktur Logam

Dalam keadaan padat logam mempunyai bentuk kristal, dan atom-atom

tersusun mengikuti pola geometri tertentu sewaktu membeku. Sedangkan pada saat

kristal yang satu bertemu dengan kristal lainnya yang sedang tumbuh, pertumbuhan

kedua kristal tersebut terhenti dan permukaan singgungnya disebut batas butir.

Butir logam dapat dilihat dengan bantuan mikroskop setelah permukaan logam

tersebut dihaluskan, dipoles dan dietsa dengan asam tertentu yang dapat

menampilkan batas-batas butir. Kekerasan maupun ukuran butir tergantung pada

jenis dan paduan logam itu sendiri.

Dalam suatu logam terdapat gambaran dari kumpulan fasa-fasa yang dapat

diamati yang disebut dengan struktur mikro logam. Untuk melihat struktur mikro

tersebut ada sebuah pengujian yang sering digunakan yaitu metalografi.

Metalografi ini bisa digunakan untuk melihat struktur mikro serta fasa-fasa yang

terbentuk didalamnya. Fasa yang akan terbentuk dipengaruhi oleh temperatur

pemanasan dan kandungan karbon pada logam tersebut tersebut. Adapun fasa yang

akan terbentuk adalah sebagai berikut:

a. Ferit (α – iron)

Merupakan struktur besi pada temperatur ruang, ferit lunak dan mudah

dibentuk, biasanya dikomersialkan dalam bentuk murni. Memiliki kekuatan

tarik hingga 45000 psi dan pada temperature dibawah 767 ℃ bersifat
 6

ferromagnetic. Ferit memiliki kelarutan yang rendah terhadap karbon. Ferit

memiliki sel satuan atom BCC (Body Center Cubic).

b. Austenit (γ – iron)

Merupakan fasa stabil besi pada temperatur antara 910 – 1400 ℃.

Austenit juga lunak dan mudah dibentuk sehingga sangat cocok untuk

proses fabrikasi seperti fogging dan rolling. Memiliki kelarutan yang cukup

baik pada karbon yaitu 2 % dan bersifat paramagnetic.

c. δ – iron

Merupakan fasa stabil besi pada suhu diatas 1400℃ dan memiliki

struktur kristal BCC (Body Center Cubic). Sifatnya hampir sama dengan

ferite dan sangat sedikit larut dalam karbon namun msih lebih baik

dibandingkan dengan ferit.

d. Sementit ( Fe3C )

Strukturnya ortorombik dan mengandung 6,67% karbon. Jika

dibandingkan dengan astenite dan ferit, sementit sangat keras dan tetapi

getas karena adanya Fe3C dan ferit.

e. Fe – C Eutectoid

Jika Fe – C eutectoid diturunkan temperaturnya maka akan terbentuk

ferrit dan Fe3C yang berasal dari austenit pada komposisi eutectoid.

Mikrostruktur yang terbentuk berupa lamellar dan biasa disebut Pearlite,

merupakan kondisi yang paling diinginkan pada pembuatan baja.

2.4 Macam-Macam Mikroskop dan Penggunaannya

Mikroskop alat yang sering digunakan peneliti untuk melihat benda yang
 7

berukuran kecil atau struktur dari material. Model mikroskop yang bermacam-

macam menjadikan cara penggunaan yang berbeda sehingga perlu adanya ulasan

tentang alat ini. Tulisan ini menyajikan cara kerja mikroskop optik, Scanning

Electron Microscopy (SEM), dan Transmition Electron Microskopy (TEM) serta

cara membuat spesimen yang digunakan untuk TEM[5]. Berikut penjelasan dari

masing-masing mikroskop.

2.4.1 Mikroskop Optik

Mikroskop optik mempunyai bagian-bagian seperti Gambar 2.1

dibawah ini:
Eye or Camera

Eyepiece

Virtual Image Formed by Eyepiece

Objective Lens
Object Plane Specimen

Condensor Lens

Lamp Filament

Gambar 2.1 Skematik Mikroskop Optik[6]

Cara kerja dari mikroskop optik adalah dari cahaya lampu yang

dibiaskan oleh lensa kondensor, setelah melewati lensa kondensor sinar

mengenai spesimen dan diteruskan oleh lensa objektif. Lensa objektif

ini merupakan bagian yang paling penting dari mikroskop karena dari
 8

lensa ini dapat diketahui perbesaran yang dilakukan mikroskop. Sinar

yang diteruskan oleh lensa objektif ditangkap oleh lensa okuler dan

diteruskan pada mata atau kamera. Pada mikroskop ini mempunyai

batasan perbesaran yaitu dari 400 X sampai 1400 X.

2.4.2 Mikroskop Scanner Electron

Scanning electron microscope atau mikroskop pemindai elektron

adalah sebuah mikroskop elektron yang digunakan untuk menyelidiki

permukaan dari objek solid secara langsung[6]. Pada mikroskop ini dapat

dilakukan perbesaran 10-300000x. Adapun cara kerja dari mikroskop

scanning electron adalah sinar dari lampu dipancarkan pada lensa

kondensor, sebelum masuk pada lensa kondensor ada pengatur dari

pancaran sinar elektron yang ditembakkan. Sinar yang melewati lensa

kondensor diteruskan lensa objektif yang dapat diatur maju mundurnya.

Sinar yang melewati lensa objektif diteruskan pada spesimen yang

diatur miring pada pencekamnya, spesimen ini disinari oleh deteksi x-

ray yang menghasikan sebuah gambar yang diteruskan pada layar

monitor. Adapun hasil pengamatan yang dihasilkan dapat dilihat pada

Gambar 2.2 berikut.

Gambar 2.2 Hasil Pengamatan dengan SEM[6]

 9

2.4.3 Mikroskop Transmission Electron

Cara kerja dari mikroskop ini adalah diterangkan elektron

ditembakkan dari electron gun yang kemudian melewati oleh dua lensa

kondensor yang berguna menguatkan dari elektron yang ditembakkan.

Setelah melewati dua lensa kondensor elektron diterima oleh spesimen

yang tipis dan berinteraksi, karena spesimen tipis maka elektron yang

berinteraksi dengan spesimen diteruskan pada tiga lensa yaitu lensa

objektif, lensa intermediate dan lensa proyektor. Lensa objektif

merupakan lensa utama dari TEM karena batas penyimpangannya

membatasi dari redolusi mikroskop, lensa intermediate sebagai penguat

dari lensa objektif dan untuk lensa proyektor gunanya untuk

menggambarkan pada layar flourescent yang ditangkap film fotografi

atau kamera CCD. Pada mikroskop transmission electron,skematik dari

mikroskop ini dapat dilihat pada Gambar 2.3.

Accelator
Electron gun
1st Condensor Lens
Spesimen 2nd Condensor Lens
Objective Lens
Intermediate Lens
Projector Lens
Flourescent
Screen
Photographic Film
CCD Camera

Gambar 2.3 Skematik TEM[6]

 10

2.5 Tahapan Kerja Preparasi

Sebelum dilakukan pengamatan mikrostruktur dengan mikroskop maka

diperlukan preparasi sampel terlebih dahulu. Semakin sempurna preparasi sampel

maka semakin jelas gambar struktur mikro yang diperoleh. Adapun tahap preparasi

metalografi secara umum antara lain:[7]

2.5.1 Penentuan Wilayah Sampel ( Sampling)

Tahapan kerja preparasi benda uji yang pertama adalah penentuan

wilayah sampel dari benda yang diuji,sampel ini harus bersifat representatif.

Dalam pemotongan dan pengambilan sampel, perlu diperhatikan wilayah

daerah kerja sampel yang akan diamati yang biasanya disebut sebagai

bidang orientasi dasar, yaitu:[7]

a. Bidang transversal adalah bidang yang tegak lurus terhadap arah

sumbu deformasi panas.

b. Bidang planar adalah bidang yang sejajar dengan sumbu

pengerjaan dan memiliki luas permukaan yang paling besar dan

yang paling sering bersinggungan dengan rol.

c. Bidang longitudinal adalah bidang yang tegak lurus terhadap

bidang planar dan sejajar dengan arah pengerjaan.

Pemilihan sampel yang tepat dari suatu benda uji studi mikroskop

optik merupakan hal yang sangat penting. Pemilihan sampel tersebut

didasarkan pada tujuan pengamatan yang hendak dilakukan. Pengambilan

sampel harus direncanakan sedemikian sehingga menghasilkan sampel

yang sesuai dengan kondisi rata-rata bahan atau kondisi di tempa-tempat

tertentu (kritis) dengan memperhatikan kemudahan pemotongan pula.

 11

2.5.2 Pemotongan (Cutting)

Pemilihan sampel yang tepat dari suatu benda uji studi mikroskop

optik merupakan hal yang sangat penting. Pemilihan sampel tersebut

didasarkan pada tujuan pengamatan yang hendak dilakukan. Pada umumnya

bahan komersial tidak homogen sehingga satu sampel yang diambil dari

suatu volume besar tidak dapat dianggap representatif. Pengambilan sampel

harus direncanakan sedemikian sehingga menghasilkan sampel yang sesuai

dengan kondisi rata-rata bahan atau kondisi ditempat-tempat tertentu (kritis)

dengan memperhatikan kemudahan pemotongan pula. Secara garis besar,

pengambilan sampel dilakukan pada daerah yang akan diamati

mikrostruktur maupun makrostrukturnya. Sebagai contoh untuk

pengamatan mikrostruktur material yang mengalami kegagalan, maka

sampel diambil sedekat mungkin pada daerah kegagalan (pada daerah kritis

dengan kondisi terparah), untuk kemudian dibandingkan dengan sampel

yang diambil dari daerah yang jauh dari daerah gagal. Perlu diperhatikan

juga bahwa dalam proses memotong, harus dicegah kemungkinan deformasi

dan panas yang berlebihan. Oleh karena itu, setiap proses pemotongan harus

diberi pendinginan yang memadai.

Teknik pemotongan sampel dapat dilakukan dengan :

(a) Pematahan : untuk bahan getas dan keras.

(b) Pengguntingan : untuk baja karbon rendah yang tipis dan lunak.

(c) Penggergajian : untuk bahan yang lebih lunak dari 350 HB.

(d) Pemotongan abrasi.

 12

(e) Electric discharge machining : untuk bahan dengan

konduktivitas baik di mana sampel direndam dalam fluida

dielektrik lebih dahulu sebelum dipotong dengan memasang

catu listrik antara elektroda dan sampel.

2.5.3 Mounting

Spesimen yang berukuran kecil atau memiliki bentuk yang tidak

beraturan akan sulit untuk ditangani, khususnya ketika dilakukan

pengamplasan dan pemolesan akhir. Sebagai contoh adalah spesimen yang

berupa kawat, spesimen lembaran metal tipis, dan potongan tipis. untuk

memudahkan penanganannya, maka spesimen-spesimen tersebut harus

ditempatkan pada suatu media, yaitu media mounting. Media mounting yang

dipilih haruslah sesuai dengan material dan jenis reagent etsa yang akan

digunakan. Pada umumnya mounting menggunakan material plastik

sintetik. Materialnya dapat berupa resin (castable resin) yang dicampur

dengan hardener atau bekelit.

2.5.4 Pengamplasan (Grinding)

Sampel yang telah dipotong atau sampel yang telah terkorosi

memiliki permukaan yang kasar. Permukaan yang kasar ini harus diratakan

agar pengamatan struktur mudah untuk dilakukan. Pengamplasan dilakukan

dengan menggunakan kertas amplas silicon carbit (SiC) dengan berbagai

tingkat kekasaran yang ukuran butir abrasinyadinyatakan dengan mesh,

 13

yaitu kombinasi dari 220, 330, 500, 600, 800, dan 1000. Ukuran grit

pertama yang dipakai tergantung pada kekerasan permukaan dan kedalaman

kerusakan yang ditimbulkan oleh pemotongan.

Hal yang harus diperhatikan pada saat pengamplasan adalah

pemberian air. Air berfungsi sebagai pemindah geram, memperkecil

kerusakan akibat panas yang timbul yang dapat merubah struktur mikro

sampel dan memperpanjang masa pemakaian kertas amplas. Hal lain yang

harus diperhatikan saat pengamplasan adalah ketika melakukan perubahan

arah pengamplasan. Arah yang baru adalah 45℃ atau 90℃ terhadap

sebelumnya.

2.5.5 Pemolesan (Polishing)

Setelah diamplas sampai halus, sampel harus dilakukan pemolesan.

Pemolesan bertujuan untuk memperoleh permukaaan sampel yang halus

bebas goresan dan mengkilap seperti cermin dan menghilangkan

ketidakteraturan sampel hingga orde 0,01 μm. Permukaan sampel yang akan

diamati dibawah mikroskop harus benar-benar rata. Apabila permukaan

sampel kasar atau bergelombang, maka pengamatan struktur mikro tersebut

akan sulit untuk dilakukan karena cahaya yang datang dari mikroskop

dipantulkan secara acak oleh permukaan sampel.

Tahap pemolesan dimulai dengan pemolesan kasar terlebih dahulu

kemudian dilanjutkan dengan pemolesan halus. Hal tersebut bertujuan

untuk agar kotoran yang masih menempel dapat terangkat sekaligus.

 14

Kemudian, tahapan pemolesan dilanjutkan dengan pemolesan halus untuk

menghilangkan sisa-sisa kotoran yang masih menepel. Ada tiga metode

pemolesan antara lain sebagai berikut:[7]

1. Pemolesan Elektrolit Kimia

Hubungan rapat arus dan tegangan bervariasi untuk larutan

elektrolit dan material yang berbeda dimana tegangan terbentuk

lapisan tipis pada permukaan dan hamper tidak ada arus yang lewat.

Maka, terjadi proses etsa. Sedangkan, pada tegangan tinggi terjadi

proses pemolesan.

2. Pemolesan Kimia Mekanis

Merupakan kombinasi anatra etsa kimia dan pemolesan

mekanisyang dilakukan serentak diatas piringan halus. Partikel

pemoles abrasive dicampur dengan larutan pengetsa yang umum

digunakan.

3. Pemolesan Elektro Mekanis (Metode Reinacher)

Merupakan kombinasi antara pemolesan elektrolit dan mekanis

pada piring pemoles.

2.5.6 Etsa (Etching)

Etsa merupakan proses penyerangan atau pengikisan batas butir

secara selektif dan terkendali dengan pencelupan kedalam larutan pengetsa

baik menggunakan listrik maupun tidak ke permukaan sampel sehingga

detil struktur yang akan diamati akan terlihat jelas dan tajam. Untuk
 15

beberapa material, mikrostruktur baru muncul jika diberikan zat etsa.

Sehingga perlu pengetahuan yang tepat untuk memilih zat etsa yang tepat.

Etsa dibagi menjadi dua proses, yaitu:

1. Etsa Kimia

Merupakan proses pengetsaan dengan menggunakan larutan

kimia diamana zat etsa yang digunakan ini memiliki karakteristik

tersendiri sehingga pemilihannya disesuaikan dengan sampel yang

akan diamati.

2. Etsa Elektron

Merupakan proses etsa dengan menggunakan reaksi elektroetsa.

Cara ini dilakukan dengan pengaturan tegangan dan kuat arus listrik

serta waktu pengetsaan. Etsa jenis ini biasanya khusus untuk

stainlesss steel karena dengan etsa kimia susah untuk menentukan

strukturnya.