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Fiabilité et Défaillances : Analyse MTBF

Le document présente une analyse de la fiabilité et des défaillances d'un système, incluant le calcul du MTBF, du taux de défaillance moyen et des probabilités de fonctionnement. Il aborde également les fonctions de fiabilité et de défaillance, ainsi que l'application de la loi de Weibull pour modéliser le comportement des défaillances. Enfin, il propose des actions pour réduire les défaillances, telles que l'amélioration des procédés de fabrication et la gestion thermique.

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Le document présente une analyse de la fiabilité et des défaillances d'un système, incluant le calcul du MTBF, du taux de défaillance moyen et des probabilités de fonctionnement. Il aborde également les fonctions de fiabilité et de défaillance, ainsi que l'application de la loi de Weibull pour modéliser le comportement des défaillances. Enfin, il propose des actions pour réduire les défaillances, telles que l'amélioration des procédés de fabrication et la gestion thermique.

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Exercice 1.

5 : Fiabilité et Défaillances

Partie 1 : Taux de défaillance et MTBF


Données : Nombre de composants testés : N = 500
Durée de test : ttest = 1000 h
Nombre de défaillances observées : n = 12
Temps avant défaillance (h) : 120, 250, 430, 560, 720, 890, 210, 380, 510, 670, 810, 950

1. Calcul du MTBF
Pn
i=1 ti 120 + 250 + 430 + 560 + 720 + 890 + 210 + 380 + 510 + 670 + 810 + 950 6500
MTBF = = = ≈5
n 12 12

2. Taux de défaillance moyen λ


1 1
λ= ≈ ≈ 0.001846 h−1
MTBF 541.67

3. Probabilité de fonctionnement sans défaillance pendant 5000 h


R(t) = e−λt ⇒ R(5000) = e−0.001846·5000 = e−9.23 ≈ 9.8 × 10−5
—

Partie 2 : Fonctions de fiabilité et de défaillance


Données : λ = 2 × 10−4 h−1

1. Expressions
R(t) = e−λt , F (t) = 1 − R(t) = 1 − e−λt , f (t) = λe−λt

2. Probabilité que 1000 < T < 2000


P (1000 < T < 2000) = R(1000) − R(2000)

R(1000) = e−0.0002·1000 = e−0.2 ≈ 0.8187

R(2000) = e−0.0002·2000 = e−0.4 ≈ 0.6703

P (1000 < T < 2000) ≈ 0.8187 − 0.6703 = 0.1484 ≈ 14.8%

1
3. Vérification que R(MTBF) = e−1
1 1
MTBF = = = 5000 h
λ 0.0002

R(MTBF) = R(5000) = e−0.0002·5000 = e−1 ≈ 0.3679


—

Partie 3 : Loi de Weibull


Données : β = 1.8, η = 1500 h, γ = 0

1. Expressions
β 1.8
R(t) = e−(t/η) = e−(t/1500)

 β−1  0.8
β t 1.8 t
h(t) = =
η η 1500 1500

2. Calcul de R(1000)
1.8 1.8
R(1000) = e−(1000/1500) = e−0.6667 ≈ e−0.513 ≈ 0.598

3. Taux de défaillance
β > 1 ⇒ taux de défaillance croissant (usure progressive)
—

Partie 4 : Arbre de défaillance


Données : Surchauffe : p1 = 0.02
Courte durée de vie : p2 = 0.01
Câble défectueux : p3 = 0.005
Soudure défaillante : p4 = 0.003

1. Arbre de défaillance
Événement sommet : Panne du composant
Causes : Surchauffe OR Courte durée de vie OR Câble défectueux OR Soudure défaillante

2. Probabilité totale
ptotal = 1 − (1 − p1 )(1 − p2 )(1 − p3 )(1 − p4 )

ptotal = 1 − (0.98 · 0.99 · 0.995 · 0.997) ≈ 1 − 0.96246 = 0.0375 ≈ 3.75%


—

2
Partie 5 : Synthèse et analyse
1. Comparaison à t = 1000 h
Rexponentielle (1000) ≈ 0.8187, RWeibull (1000) ≈ 0.598
¿ La loi de Weibull montre une fiabilité plus faible à 1000 h car elle modélise un taux de
défaillance croissant.

2. Actions de réduction des défaillances


• Amélioration des procédés de fabrication : contrôle qualité renforcé sur les soudures
et câbles.

• Gestion thermique : ajout de dissipateurs ou optimisation du refroidissement pour


réduire la surchauffe.

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