Rapport de Travaux Pratiques 1 (TP1) -
Groupe GMA 1
Méthode d’Analyse par Diffraction des Rayons X
(DRX)
Auteur : Manus AI Date : Décembre 2025
Partie 1 : Théorie de l’Analyse DRX
1.1. But de l’Analyse DRX
L’objectif principal de l’analyse par Diffraction des Rayons X (DRX) est de
caractériser la structure cristalline des matériaux. Cette technique permet notamment
:
L’identification des phases cristallines présentes dans un échantillon
(analyse qualitative et quantitative) [1].
La détermination des paramètres de maille et de la symétrie du réseau
cristallin.
L’étude de la microstructure, incluant la taille des cristallites et les micro-
contraintes [2].
1.2. Principe de la DRX
Le principe de la DRX repose sur l’interaction des rayons X avec les plans atomiques
d’un matériau cristallin. Lorsqu’un faisceau de rayons X monochromatique frappe
un cristal, la diffraction (interférence constructive) se produit uniquement lorsque la
Loi de Bragg est satisfaite :
nλ = 2d sin(θ)
Où n est un entier, λ est la longueur d’onde des rayons X, d est la distance
interréticulaire, et θ est l’angle de Bragg. Chaque pic de diffraction sur le
diffractogramme correspond à un ensemble spécifique de plans cristallins [3].
1.3. Mode Opératoire Général
Le mode opératoire standard pour l’analyse DRX sur poudre (méthode la plus
courante) est le suivant :
1. Préparation de l’échantillon : L’échantillon est broyé finement pour garantir
une orientation aléatoire des cristallites et monté sur un porte-échantillon.
2. Acquisition : L’échantillon est irradié par un faisceau de rayons X. Le détecteur
balaye une plage d’angles 2θ (configuration θ − 2θ ), enregistrant l’intensité
des rayons X diffractés.
3. Analyse : Les données brutes (diffractogramme) sont traitées pour identifier les
positions des pics. Ces positions sont ensuite comparées à des bases de données
cristallographiques pour l’identification des phases [1].
Partie 2 : Reproduction et Analyse des Courbes DRX
Conformément aux consignes, les données brutes du fichier Excel ont été traitées pour
reproduire les diffractogrammes. Les corrections de nomenclature suivantes ont été
appliquées :
La série KNt a été renommée KMk.
La série PMj a été renommée FMj.
Le graphique ci-dessous présente les quatre diffractogrammes (KMk, FMj, Q, Lst) tels
qu’ils seraient reproduits sur un logiciel de tracé scientifique comme ‘Origin’ ou
‘Sigmaplot’.
2.1. Diffractogrammes Corrigés et Indexés
Indexation des courbes : Chaque courbe est clairement identifiée par sa légende,
correspondant aux échantillons KMk, FMj, Q, et Lst. Cette indexation permet de
distinguer les profils de diffraction de chaque matériau, facilitant l’analyse
comparative des phases cristallines présentes.
Références
[1] Analyse de matériaux par DRX (Diffraction des Rayons X). Filab. [Link]
moyens-techniques/analyse-et-caracterisation-des-materiaux-par-diffraction-des-
rayons-x-drx-en-laboratoire/filab-caracterise-vos-mineraux-par-drx/ [2] Méthodologie
d’analyse des contraintes résiduelles par … HAL Open Science.
[Link] [3]
Analyse DRX (Diffraction rayons X) en laboratoire. YesWeLab.
[Link]