Reliability Bloc Diagram (RBD)
Sous la direction du
Mr. DERMOUCHE
Réalisé par :
▪ BENLOUNES Lounes
▪ LACHEKHAB Imad Eddine
Année Universitaire 2024 – 2025
INTRODUCTION :
La fiabilité des systèmes est un élément crucial dans la conception et la gestion des systèmes complexes,
car elle détermine leur capacité à fonctionner sans panne pendant une période donnée. Ce TP explore
l'influence des configurations série, parallèle et 2/3 sur la fiabilité globale d'un système.
Les systèmes en série dépendent de la fiabilité de chaque composant, car une défaillance entraîne l'arrêt
total du système. En revanche, les structures parallèles offrent une redondance, augmentant ainsi la
tolérance aux pannes. La configuration 2/3 combine ces approches, offrant un équilibre entre robustesse et
complexité.
En utilisant le logiciel GRIF pour simuler ces configurations et en comparant les résultats avec les
formules théoriques, ce TP permet de mieux comprendre l'impact des choix de conception sur la fiabilité
des systèmes. Cela constitue une base essentielle pour l'ingénierie des systèmes critiques où la continuité
de service est primordiale.
Objectif :
● Analyser la fiabilité des systèmes en configurations série, parallèle et 2/3.
● Tracer les courbes de fiabilité, d'indisponibilité et de taux de défaillance équivalent avec le
module Bfiab du logiciel GRIF.
● Comparer la fiabilité de la structure 2/3 avec celle de la 1/3.
● Vérifier les résultats obtenus par simulation avec des calculs théoriques pour valider les modèles
utilisés.
[Link] de fiabilité et réalisation dans le module Bfiab du logiciel GRIF :
● Schéma de défaillance du système présenté en Figure 1 :
● Les blocs de fiabilité correspondant aux deux systèmes :
o Système séries
o Système parallèle :
Système 1 :
Système 2 :
[Link] et courbes de fiabilité et d’indisponibilité :
● En prenant 𝜆 = 10−6 pour les composants :
o Système séries :
● La fiabilité R(t) d’un système soumis à une loi exponentielle est donnée par :
R(t) = 𝑒 −𝜆𝑡
● L’indisponibilité U(t) est donnée par :
𝑈(𝑡) = 1 − 𝑅(𝑡) = 1 − 𝑒 −𝜆𝑡
o Système parallèle :
𝑅(𝑡) = 1 − ( 1 − 𝑒 −𝜆𝑡 )2
● Les courbes :
o Système séries :
1) La fiabilité R(t) :
2) L’indisponibilité U(t) :
3) Taux de défaillance :
o Système parallèle :
Système 1 :
1) La fiabilité R(t) :
2) L’indisponibilité U(t) :
3) Taux de défaillance :
Système 2 :
1) La fiabilité R(t) :
2) L’indisponibilité U(t) :
3) Taux de défaillance :
[Link] des Coupes et Vérification des Calculs :
1) Comparaison de Fiabilité :
Les structures 2/3 et 1/3 diffèrent par leur tolérance aux pannes :
● Structure 2/3 : Le système fonctionne tant qu'au moins 2 des 3 composants sont opérationnels.
Cette configuration offre une redondance, permettant au système de rester fonctionnel même
en cas de panne d'un composant. Cela améliore la fiabilité globale car le système tolère une
défaillance sans interruption de service.
● Structure 1/3 : Le système fonctionne uniquement si au moins 1 des 3 composants reste
opérationnel. Bien que cette structure présente un niveau de redondance, la probabilité de
défaillance est plus élevée comparée à la structure 2/3, car elle dépend de la survie d'un seul
composant.
- En analysant les courbes de fiabilité, on constate que la structure 2/3 présente une fiabilité nettement
supérieure à celle de 1/3 sur toute la période observée.
- Cela s'explique par sa capacité à tolérer une panne tout en maintenant le fonctionnement du système.
2) Vérification des Résultats par les Formules Théoriques :
● Structure 2/3 :
Le système fonctionne si au moins 2 composants sur 3 fonctionnent. La fiabilité est donnée par :
Avec :
● 𝐶(3,2) = 3 : le nombre de combinaisons possibles pour que 2 des 3 composants soient en état
de marche.
● 𝑒 −𝜆𝑡 : la fiabilité d'un composant individuel, avec 𝜆 = 1 × 10−6 .
On aura :
● Structure 1/3 :
Le système fonctionne si au moins 1 composant sur 3 fonctionne. La fiabilité est donnée par :
Avec :
On aura :
3) Vérification des Résultats
En comparant les résultats obtenus par simulation avec ceux calculés à l'aide des formules théoriques :
🡺 On observe une correspondance très précise.
● Pour la structure 2/3, la fiabilité reste élevée pendant une période plus longue, grâce à sa
capacité à tolérer une panne.
● Pour la structure 1/3, la fiabilité diminue plus rapidement car elle dépend de la survie d'au moins
un composant.
Conclusion
Ce TP a permis d'explorer en profondeur l'impact des configurations série, parallèle et 2/3 sur la fiabilité
des systèmes en utilisant le logiciel GRIF. Les résultats ont démontré que le choix de la structure influe
directement sur la tolérance aux pannes et la continuité de service.
La configuration en série, bien que simple, s'est révélée la moins fiable car une seule défaillance entraîne
l'arrêt complet du système. À l'inverse, la configuration parallèle a montré une fiabilité supérieure grâce à
sa redondance, permettant au système de continuer à fonctionner malgré plusieurs défaillances.
La structure 2/3 a offert un compromis optimal en combinant robustesse et flexibilité. Elle s'est distinguée
par sa capacité à tolérer une panne tout en maintenant le système opérationnel, ce qui en fait une solution
efficace pour les applications critiques nécessitant une haute disponibilité.
La comparaison avec la structure 1/3 a confirmé que la redondance accrue de la configuration 2/3
améliore considérablement la fiabilité globale. De plus, la validation des résultats par les formules
théoriques a renforcé la précision des simulations effectuées.
En conclusion, ce TP a mis en évidence l'importance du choix de la configuration dans la conception de
systèmes fiables. Il souligne également l'utilité des outils de simulation pour optimiser la performance des
systèmes complexes dans des secteurs où la fiabilité est cruciale.