if

ct
lle
co
n
no
et
e
i qu
un
e
ag
us
à
q ue
ni
tro
ec
él
n
io
rs
Ve

COLLEGE FRANCAIS DE METROLOGIE

1 Rue Gaston Boissier - 75724 PARIS Cedex 15 – [Link]
Toute reproduction ou représentation intégrale ou partielle, faite par quelque procédé que ce soit, sans l’auto-
risation de l’éditeur est illicite et constitue une contrefaçon sanctionnée par les articles L 335-2 et suivants du
Code de la propriété intellectuelle. Seules sont autorisées les copies ou les reproductions strictement réservées
à l’usage privé du copiste et non destinées à une utilisation collective, ainsi que les analyses et courtes citations
justifiées par le caractère critique, scientifique ou d’information de l’oeuvre dans laquelle elles sont
incorporées sous réserve du respect des dispositions légales prévues (L 122-4 et L 122-5, L 122-10 à L 122
-12). © Collège Français de Métrologie – Éditions 2013 – Imprimé en Union Européenne – Dépôt légal :
janvier 2014 – ISBN : 978-2-36233-125-1
 LES GUIDES TECHNIQUES
DU COLLÈGE FRANÇAIS DE MÉTROLOGIE

if
ct
lle
co
n
no
et
OPTIMISATION
e
qu
DES PÉRIODICITÉS D’ÉTALONNAGE :
i
un
LA MÉTHODE OPPERET
e
ag
us
à
ue
q
ni
tro
ec
él
n
io
rs
Ve
 LE COLLÈGE FRANÇAIS
DE MÉTROLOGIE
Le Collège Français de Métrologie (CFM) est une association Loi 1901 qui rassemble des

if
intervenants du monde de la mesure : responsables de laboratoires et de centres techniques,

ct
fabricants et prestataires, utilisateurs de moyens de mesure en entreprise, universitaires…

lle
Fondé avec le soutien du Ministère chargé de l’Industrie, du Laboratoire National de

co
Métrologie et d’Essais (LNE), du Centre Technique des Industries Aérauliques et Thermiques
(CETIAT) et de Peugeot Citroën Automobiles (PSA), le Collège Français de Métrologie

n
s’appuie aujourd’hui sur un vaste réseau d’associations françaises et internationales spécia-

no
lisées dans la mesure.

et
Désormais, ce sont plus de 300 adhérents : des industriels, universitaires et scientifiques
regroupés afin de progresser rapidement et à moindre coût dans leurs domaines d’activités

e
et d’échanger sur leurs préoccupations. i qu
un

LA MÉTROLOGIE, À QUOI ÇA SERT ?

e

Pour qu’elle apporte toute sa valeur ajoutée, la métrologie doit être vue différemment :
ag

les entreprises doivent sortir du dogme de la « mesure juste » pour entrer dans l’ère de la
us

« mesure maîtrisée ».
à

Cette évolution permet d’envisager les choses sous un angle novateur : apprendre à mesurer
pour produire «mieux» plutôt que pour seulement savoir si les produits sont conformes.
ue

Comprendre les outils de la métrologie permet de se poser les bonnes questions et d’analy-
q
ni

ser son besoin réel, du début à la fin de son processus de fabrication quel qu’il soit.
tro

La fonction métrologie est donc stratégique dans la gestion de l’entreprise, quel que soit son
domaine d’activité et la grandeur mesurée : mécanique, électronique, agroalimentaire, chimie,
ec

pharmacie, médical, environnement, biologie, aéronautique, spatial, nucléaire, agriculture,…

él

C’est cette analyse que le Collège Français de Métrologie veut porter et transmettre au
n

travers de toutes ses actions.

io
rs
Ve

LE PLUS VASTE CENTRE DE RESSOURCES SUR LA MÉTROLOGIE

Grâce à son réseau, le Collège Français de Métrologie permet à tous d’échanger, de proposer
des pistes de réflexion et de partager ses propres expériences : l’information est accessible
immédiatement pour trouver facilement les réponses à ses questions, la mise en relation est
facilitée, les contacts sont ouverts,…
 LE CFM PROPOSE UN ENSEMBLE D’INFORMATIONS,
À TRAVERS DE GRANDS ÉVÉNEMENTS OU DES ATELIERS
THÉMATIQUES, AVEC NOTAMMENT :
le Congrès International de Métrologie, organisé en année impaire,

if
●

les J’M, rencontre nationale de la mesure, organisée en année paire,

ct
●

les journées techniques, regroupant une cinquantaine de participants

lle
sur des thèmes précis,
●

co
des groupes de travail, portant par exemple sur «l’impact de la nouvelle

n
définition Etalonnage du VIM 3 », ou « la spectrophotométrie »,
●

no
des guides techniques,

et
●

des données en ligne : FAQ et Actes des Congrès Internationaux

de Métrologie depuis 1999,
●

e
qu
le Guide des Prestataires, Conseils, Editeurs et Fabricants adhérents
de l’association,
●
i
un

et une veille technologique constante.

e

●
ag

Parce que la mesure est une composante essentielle

us

de la performance économique, le Collège Français

à

de Métrologie rassemble pour vous le meilleur

ue

des savoirs et la mesure devient un atout.

q
ni
tro
ec
él
n
io
rs
Ve

Collège Français de Métrologie

1 rue Gaston Boissier – 75724 Paris Cedex 15 – France
info@[Link]

[Link]
Ve
rs
io
n
él
ec
tro
ni
que
à
us
ag
e
un
iqu
e
et
no
n
co
lle
ct
if
Ve
rs
io
n
él
ec
tro
ni
que
à
us
ag
e
un
iqu
e
et
no
n
co
lle
ct
if
Ve
rs
io
n
él
ec
tro
ni
que
à
us
ag
e
un
iqu
e
et
no
n
co
lle
ct
if
 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

1. INTRODUCTION
La qualité des produits fabriqués dans les entreprises et la qualité des essais effectués dans les
laboratoires sont dépendantes de la qualité des mesures effectuées pour élaborer ces produits ou
SRXU HIIHFWXHU OHV HVVDLV /D TXDOLWp GHV PHVXUHV GpSHQG G¶XQ FHUWDLQ QRPEUH GH SDUDPqWUHV
paUPL OHVTXHOV ILJXUHQW OHV FRQGLWLRQV G¶HQYLURQQHPHQW WHPSpUDWXUH K\JURPpWULH SUHVVLRQ
DWPRVSKpULTXH« GHVRSpUDWHXUVFKDUJpVGHVPHVXUHVHWGHO¶LQVWUXPHQWGHPHVXUHXWLOLVp TXL
VHUD DXVVL GpQRPPp pTXLSHPHQW GH PHVXUH GH FRQWU{OH HW G¶HVVDL  TXL GRit être « juste ». Ceci
VLJQLILHTXHOHUpVXOWDWGHPHVXUHTX¶LOGRQQHpYHQWXHOOHPHQWFRUULJpjERQHVFLHQWG¶XQHHUUHXU

if
LVVXH G¶XQ FHUWLILFDW G¶pWDORQQDJH GRLW rWUH DXVVL  SURFKH TXH SRVVLEOH GH OD YDOHXU  TX¶RQ

ct
recherche.

lle
1.1 LA DERIVE DES INSTRUMENTS DE MESURE

co
2U F¶HVW XQ SKpQRPqQHELHQ FRQQX WRXV OHV LQVWUXPHQWV GH PHVXUHGpULYHQW GDQV OH WHPSV 8Q
instrument de mesure « juste ª DXMRXUG¶KXL QH OH VHUD SHXW-rWUH SOXV GHPDLQ SDUFH TX¶LO DXUD

n
no
dérivé !
Les causes de dérive sont multiples et variées et nous pouvons citer les plus fréquentes :

et
x &HOOHVG¶RULJLQHPpFDQLTXHWHOOHVTXHFKRFVHWYLEUDWLRQV1RXVSRXYRQVFLWHUSDUH[HPSOHOHV
thermo-K\JURJUDSKHV TXL VRQW SUDWLTXHPHQW LQWUDQVSRUWDEOHV SDUFH TX¶LOV VRQW WUqV VHQVLEOHV

e
aux chocs et vibrations et très vite déréglés,

x qu
/¶XVXUH HQ SDUWLFXOLHU HQ PpWURORJLH GLPHQVLRQQHOOH SDU H[HPSOH GDQV OH FDV GHV FDOLEUHV j
i
un
limites,

x /¶R[\GDWLRQDXVVLELHQHQPpFDQLTXHTX¶HQpOHFWULFLWp
e

x
ag

/HYLHLOOLVVHPHQWGHVFRPSRVDQWVDXVVLELHQHQPpFDQLTXHTX¶HQpOHFWURQLTXH

x Les IDXVVHV PDQLSXODWLRQV HW OHV VXUFKDUJHV DSSOLTXpHV j O¶HQWUpH GHV pTXLSHPHQWV GH
us

PHVXUHGHFRQWU{OHVHWG¶HVVDLV

x
à

/HV FRQGLWLRQV G¶XWLOLVDWLRQ GH O¶LQVWUXPHQW GH PHVXUH SRXVVLqUH KXPLGLWp KDXWH
température « 
ue

x Le vieillissement des matériaux de base. &¶HVWDLQVLTXHO¶RQSHXWVXSSRVHUTX¶XQHEXUHWWHHQ

q

verre graduée peut évoluer dans le temps et donner un volume erroné parce que le verre a
ni

évolué,
tro

x La quaOLWpLQWULQVqTXHGHO¶LQVWUXPHQW
ec

x /HWDX[G¶XWLOLVDWLRQ
él

x HWF«
n
io

&HWWHOLVWHQ¶HVWSDVH[KDXVWLYHHWLOVHUDLWSRVVLEOHGHWURXYHUG¶DXWUHVFDXVHVGHGpULYH/DIUDXGH
rs

pratiquée par exemple en déréglant une balance, peut-être considérée comme une cause de
Ve

dérive volontaire pratiquée souvent aux GpSHQV GX FRQVRPPDWHXU VL O¶LQVWUXPHQW GH PHVXUH HVW
utilisé à des fins de transactions commerciales.

COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE 7

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

3RXU WHUPLQHU VXU FHWWH QRWLRQ GH GpULYH QRXV SRXYRQV PHQWLRQQHU FH TXH O¶RQ WURXYH GDQV OHV
spécifications des multimètres numériques. Les constructeurs indiquent en général 3 niveaux
G¶H[DFWLWXGH : sur une durée de 24 heures, de 3 PRLVHWGHPRLV&HFLVLJQLILHTXHVLO¶XWLOLVDWHXU
veut la meilleure exactitude avec ce multimètre il doit le ré-étalonner, et vraisemblablement
O¶DMXVWHU  WRXWHV OHV  KHXUHV 3DU FRQWUH VL XQH H[DFWLWXGH PR\HQQH OXL VXIILW XQ ré-étalonnage
annuel sera suffisant. Dans cet exemple la dérive systématique a été prise en compte dès la

if
FRQFHSWLRQGHO¶LQVWUXPHQWHWO¶XWLOLVDWHXUHVWDYHUWL

ct
lle
1.2 LES EQUIPEMENTS DE MESURE DERIVENT, QUE FAUT-IL FAIRE ?

co
La réponse apportée à ce problème est connue et appliquée dans le monde entier. Pour maîtriser

n
FHWWH GpULYH OHV XWLOLVDWHXUV PHWWHQW HQ SODFH XQ V\VWqPH GH YpULILFDWLRQ RX HW  G¶pWDORQQDJH

no
périodique. Pour étalonner ou vérifier un instrument de mesure, on le compare à un étalon
« raccordé » DX[ pWDORQV QDWLRQDX[ &¶HVW HQ JpQpUDO DVVH] VLPSOH HW OHV PpWKRGHV GH

et
UDWWDFKHPHQW VRQW SUDWLTXpHV FRXUDPPHQW GDQV O¶LQGXVWULH HW OHV ODERUDWRLUHV 0DLV DYHF TXHOOH

e
périodicité :
x
x
Tous les jours ? i qu
un
Toutes les semaines ?
x Tous les ans ?
e

That is the question !

ag
us

Historiquement
Sans vouloir remonter aux Sumériens ou aux civilisations Mayas pour savoir quelles étaient les
à

périodicités de vérification des clepsydres ou des gnomons, il est assez facile de voir dans certains
ue

musées à caractère un peu scientifique des séries de mesure de volume de liquides portant un
q

certain nombre de sceaux régaliens correspondant aux vérifications périodiques effectuées par
ni

è
des agents du royaume assermentés. Ceci se passait au 18 siècle et avant et probablement
tro

è
encore au 19 sièFOH&¶pWDLWOHGpEXWGHODSUDWLTXHGHODPpWURORJLHOpJDOH
ec

Quelle était la périodicité de la vérification ? Probablement 12 mois, cycle naturel a priori ni trop
él

FRXUW HW QL WURS ORQJ SHUPHWWDQW DX[ VXUYHLOODQWV GX UR\DXPH G¶H[HUFHU OHXU DXWRULWp j LQWHrvalles
réguliers.
n
io
rs

Depuis, dans tous les pays industrialisés, cette pratique se perpétue et permet de surveiller la
Ve

plupart des instruments de mesure contribuant à la réalisation de transactions commerciales et à

la facturation de quantité de matière (masVHV YROXPHV pQHUJLH pOHFWULTXH «  HW DXVVL OHV
instruments de mesure dont les résultats contribuent soit à la santé des individus soit à
O¶HQYLURQQHPHQWGDQVOHTXHOQRXVYLYRQV
La périodicité de la vérification est encore très souvent de 12 mois.

8 COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

Dans O¶LQGXVWULH FHWWH QRWLRQ GH YpULILFDWLRQ SpULRGLTXH HVW EHDXFRXS SOXV UpFHQWH HW HVW
QpFHVVDLUHPHQW SRVWpULHXUH DX[ GpEXWV GH O¶qUH LQGXVWULHOOH 'qV TXH OHV SUHPLHUV PRWHXUV
G¶DXWRPRELOHV RQW pWp IDEULTXpV GHV SUREOqPHV GH PHVXUH GLPHQVLRQQHOOH VRQW DSSDrus et la
notion de « cales étalons » et de « calibres à limites ªV¶HVWYLWHLPSRVpH/DPpWURORJLHPRGHUQH
LQGXVWULHOOH WHOOH TXH QRXV OD FRQQDLVVRQV DXMRXUG¶KXL pWDLW QpH HW OD QRWLRQ GH YpULILFDWLRQ
périodique allait vite passer du domaine de la métrologie légale au domaine industriel.

if
/¶LQGXVWULHDpURQDXWLTXHO¶LQGXVWULHDXWRPRELOHO¶LQGXVWULHQXFOpDLUHO¶LQGXVWULHG¶DUPHPHQWRQWpWp

ct
les principaux vecteurs de développement de la métrologie. Confrontés aux problèmes de dérive

lle
des instruments de mesure, ces industries ont mis en place des programmes de vérification

co
SpULRGLTXHGHVpTXLSHPHQWVGHPHVXUHGHFRQWU{OHVHWG¶HVVDLVHQFKRLVLVVDQWWUqVVRXYHQWGHV
périodicités annuelles comme en métrologie légale.

n
no
2. METHODES PRATIQUEES POUR DETERMINER LES PERIODICITES

et
e
Parmi les documents traitant du sujet nous pouvons citer celui qui est certainement le plus connu

qu
SDUFHTX¶LODpWpSXEOLpSDUO¶2,0/ 2UJDQLVDWLRQ,QWHUQDWLRQDOHGHOD0pWURORJLH/pJDOH ,OV¶DJLWGX
Document n° 10 intitulé « Conseils pour la détermination des intervalles de ré-étalonnage des
i
un
pTXLSHPHQWVGHPHVXUHXWLOLVpVGDQVOHVODERUDWRLUHVG¶HVVDLV » édité en 1984 et révisé par ILAC
(International Laboratory Accreditation Cooperation) en 2001.
Ce document décrit assez brièvement 5 méthodeVGHUpYLVLRQGHVLQWHUYDOOHVG¶pWDORQQDJH
e
ag

x Méthode 1 : Ajustement automatique ou en « escalier »

us

&KDTXHIRLVTX¶XQLQVWUXPHQWHVWpWDORQQpGHIDoRQURXWLQLqUHO¶LQWHUYDOOHVXLYDQWHVWDXJPHQWpVL
O¶LQVWUXPHQW D pWp WURXYp j O¶LQWpULHXU GHV WROpUDQFHV RX GLPLQXp V¶LO D pWp WURXYp HQ GHKRUV GHV
à

tolérances.
ue

x Méthode 2 : Carte de contrôle

q

2Q FKRLVLW GHV SRLQWV G¶pWDORQQDJH VLJQLILFDWLIV HW RQ SODFH OHV UpVXOWDWV VXU XQ JUDSKLTXH HQ
ni

fonction du temps. A partir de ce graphique on calcule à la fois la dispersion et la dérive. A partir

tro

GHFHVFKLIIUHVRQFDOFXOHO¶LQWHUYDOOHRSWLPDO
ec

x Méthode 3 7HPSVG¶XWLOLVDWLRQ
él

/¶LQWHUYDOOH GH Up-pWDORQQDJH HVW H[SULPp HQ KHXUHV G¶XWLOLVDWLRQ HW QRQ HQ XQLWp FDOHQGDLUH
n

/¶LQVWUXPHQW HVW PXQL G¶XQ LQGLFDWHXU GX WHPSV pFRXOp HW est renvoyé pour étalonnage quand
io

O¶LQGLFDWHXUDWWHLQWXQHYDOHXUVSpFLILpH
rs

x Méthode 4 &RQWU{OHHQFRXUVG¶XWLOLVDWLRQRXHVVDLjO¶DLGHG¶XQHERLWHQRLUH
Ve

/HVSDUDPqWUHVFULWLTXHVVRQWYpULILpVIUpTXHPPHQWjO¶DLGHG¶XQDSSDUHLOGHYpULILFDWLRQSRUWDWLIou
PLHX[ G¶XQH © boite noire » spécialement conçue pour vérifier les paramètres sélectionnés. Si la
« boite noire ª PRQWUH TXH O¶LQVWUXPHQW HVW KRUV WROpUDQFHV FH GHUQLHU HVW UHWRXUQp SRXU
étalonnage complet.

COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE 9

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

x Méthode 5 : Approche statistique

4XDQG LO V¶DJLW GH O¶pWDORQQDJH G¶XQ JUDQG QRPEUH G¶LQVWUXPHQWV LGHQWLTXHV F¶HVW-à-dire de
JURXSHV G¶LQVWUXPHQWV OHV LQWHUYDOOHV GH Up-pWDORQQDJH SHXYHQW rWUH UHYXV HQ V¶DLGDQW GH
méthodes statistiques.

Un deuxième document établi par le NCSL aux États-Unis et révisé en 1996 a pour titre
« Establishment and adjustment of calibration intervals ». Il présente aussi 5 méthodes :

if
x Méthode A1 :

ct
&RQVLVWHjDXJPHQWHUO¶LQWHUYDOOHHQOHPXOWLSOLDQWSDUXQFRHIILFLHQW!VLO¶LQVWUXPHQWGHPHVXUH

lle
est dans les tolérances et inversement à diminuer cet intervalle en le multipliant par un coefficient

co
V¶LOHVWKRUVWROpUDQFHV

x Méthode A2 :

n
no
Cette méthode utilise un programme de modification des intervalles en tenant compte du degré de
« hors tolérance ªGHO¶LQVWUXPHQWGHPHVXre

et
x Méthode A3 :

e
'DQVFHWWHPpWKRGHODPRGLILFDWLRQGHO¶LQWHUYDOOHHVWHIIHFWXpHHQFRQVLGpUDQWO¶pWDWPpWURORJLTXH
qu
GHO¶LQVWUXPHQWDXPRPHQWGHVDYpULILFDWLRQHWGHVHVSUpFpGHQWHVYpULILFDWLRQV
i
un
x Méthode A4 :
'DQVFHWWHPpWKRGHO¶DPSOLWXGHGHFKDTXHPRGLILFDWLRQG¶LQWHUYDOOHHVWIRQFWLRQGHVPRGLILFDWLRQV
e
ag

SUpFpGHQWHV /HV PRGLILFDWLRQV GHYLHQQHQW GH SOXV HQ SOXV IDLEOHV MXVTX¶j FH TX¶XQ LQWHUYDOOH
optimum soit atteint.
us

x Méthode A5 :
à

Les méthodes statistiques.

q ue

Parmi les autres pratiques rencontrées daQVO¶LQGXVWULHSRXUJDUDQWLUODTXDOLWpGHVPHVXUHVQRXV

ni

pouvons mentionner les 2 exemples suivants :

tro

x La vérification systématique avant utilisation. Exemple : les clés dynamométriques.

/¶RSpUDWHXUGLVSRVHG¶XQpWDORQGHUpIpUHQFHjSUR[LPLWpGHVRQSRVWHde travail, il vérifie, avec cet
ec

pWDORQ O¶LQGLFDWLRQ GH OD FOp G\QDPRPpWULTXH PHVXUDQW XQ FRXSOH GH IRUFH VRLW DYDQW FKDTXH
utilisation de la clef soit tous les jours avant de commencer son opération de serrage.
él

x La vérification systématique après utilisation. Exemple : les calibres à limites. Les calibres à
n

limites sont distribués aux opérateurs par un magasinier. Ils sont récupérés chaque jour et vérifiés
io

DYDQWG¶rWUHPLVGHQRXYHDXHQVHUYLFH
rs

,OHVWjQRWHUTXHO¶$)125DUpXQLGHSXLVSOXVLHXUVDQQpHV XQJURXSHGHWUDYDLOGRQWO¶REMHFWLIHVW
Ve

de réaliser un document normatif traitant du sujet : le fascicule de documentation FD X 07-014 :

« Détermination optimisée des intervalles de confirmation métrologique des équipements de
mesure ».
Ce groupe de travail, dans lequel ont pris part des membres du groupe chargé de la méthode
233(5(7DWHUPLQpVHVWUDYDX[HWO¶$)125a publié ce document.
La participation croisée de certains (BEA Métrologie et DELTA MU Conseil) dans les 2 groupes a
SHUPLVG¶DVVXUHUODFRKpUHQFHHQWUHFHTXLGHYLHQGURQWOHVGRFXPHQWVGHUpIpUHQFHQDWLRQDX[

10 COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

Ainsi, les deux approches peuvent être utilisées de façon totalement indépendantes ou se
compléter et chaque métrologue FRQFHUQp SDU OH VXMHW SRXUUD j ORLVLU V¶LQVSLUHU GH FHV RXWLOV
cohérents.

3. POURQUOI OPPERET ?
/¶LGpH GH GpSDUW HVW GH SURSRVHU XQH PpWKRGH GH GpWHUPLQDWLRQ GH OD SpULRGLFLWp GH YpULILFDWLRQ

if
G¶XQ LQVWUXPHQW GH PHVXUH RX G¶XQH IDPLOOH G¶LQVWUXPHQWV GH PHVure qui tienne compte des

ct
différents facteurs qui peuvent influencer cette périodicité.

lle
En effet toutes les méthodes citées précédemment, hormis la future FD X 07-014, sont basées sur

co
O¶REVHUYDWLRQ GHV GpULYHV VDQV SUHQGUH HQ FRQVLGpUDWLRQ O¶XVDJH UpHO GH O¶LQVWUXPHQW HW VRQ
LQWpJUDWLRQ GDQV OH SURFHVVXV GH PHVXUH 3DU H[HPSOH FKDTXH UHVSRQVDEOH G¶HQWUHSULVH RX

n
G¶DWHOLHU GH IDEULFDWLRQ VH WURXYH FRQIURQWp MRXUQHOOHPHQW j OD QRWLRQ GH ULVTXH LQGXVWULHO WUqV

no
souvent pour des questions économiques pour diminuer des coûts de production ou pour réduire
des délais de fabrication. En considérant un processus de mesure intégré dans une ligne de

et
production il peut « prendre le risque ª G¶DXJPHQWHU OD GXUpH VpSDUDQW  pWDORQQDJHV LO HQ
résultera automatiquement un gain financier immédiat qui pourra peut être, mais il en accepte le

e
ULVTXHrWUHVXLYLG¶XQHQRQTXDOLWp !

qu
'¶DXWUHVIDFWHXUVG¶LQIOXHQFHVRQWjSUHQGUHHQFRQVLGpUDWLRQFRPPHSDUH[HPSOHOHVFRQGLWLRQV
i
un
G¶XWLOLVDWLRQRXWRXWVLPSOHPHQWOHFR€WGHO¶pWDORQnage ou de la vérification.
3DUWDQWGHFHWWHLGpH SULVHHQFRPSWHGHVIDFWHXUVG¶LQIOXHQFH XQHpWXGHDpWpLPDJLQpHDXVHLQ
e

du groupe de réflexion « Métrologie » de EADS et il a été démontré que la méthode appliquée à

ag

GLYHUVHVFDWpJRULHVG¶LQVWUXPHQWVGHPHVXUHSHUPHWWDLWG¶DUULYHUVLPSOHPHQWjXQHSpULRGLFLWpWUqV
réaliste et en général plus longue que celle qui était appliquée.
us

En résumé, les méthodes traditionnelles entraînent des sur-qualités. Pourquoi OPPERET ? Tout
à

simplement pour permettre aux entreprises de réduire le coût des étalonnages !

ue

eYLGHPPHQW O¶HQWUHSULVH TXL DSSOLTXHUD OD PpWKRGH GHYUD pFULUH XQ GRFXPHQW HQ SUpFLVDQW OD
démarche suivie pour pouvoir justifier les périodicités adoptées auprès de ses clients ou auprès
q

G¶XQDXGLWHXU
ni
tro

4. LA METHODE OPPERET
ec

4.1 PRINCIPE DE LA METHODE

él

OPPERET SRXU 23WLPLVDWLRQ GHV 3(5LRGLFLWpV G¶(7DORQQDJH HVW XQH PpWKRGH TXL SHUPHW
n

G¶HVWLPHUOHPHLOOHXUPRPHQWSRXUUp-étalonner les instruments de mesure. Ni trop tôt pour éviter

io

un surcoût, ni trop tard pour éviter une mesure non valable. Cette méthode ne se contente pas
rs

VHXOHPHQW GH VXLYUH OD GpULYH G¶XQ LQVWUXPHQW (OOH LQWqJUH DXVVL OD QRWLRQ GH ULVTXH HW WRXV OHV
Ve

facteurs qui peuvent dégrader ou améliorer la qualité de la mesure, sans oublier les contraintes de
FR€W RX G¶RUJDQLVDWLRQ 3RXU OHV LQLWLDWHXUV GH FHWWH PpWKRGH F¶HVW XQ SHX GH ERQ VHQV PLV HQ
équation.
x 233(5(7 HVW XQH DSSURFKH IRQGpH VXU O¶DQDO\VH GX ULVTXH TXL SHUPHW G¶RSWLPLVHU OHV
SpULRGLFLWpVG¶pWDORQQDJHpTXLSHPHQWSDUpTXLSHPHQW

COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE 11

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

x Pour mettrHHQ°XYUHFHWWHPpWKRGHLOHVWQpFHVVDLUHGHGpILQLUOHVGLIIpUHQWVFULWqUHVTXL
interviennent dans le choix de la périodicité. Ces critères peuvent être de différentes natures :
PpWURORJLTXHpFRQRPLTXHRUJDQLVDWLRQQHOOHULVTXHDFFHSWpSDUO¶HQWUHSULVH«
x La méthode est conçue de manière à être intégrée dans des logiciels de gestion de parc
d'instruments de mesure.

4.2 PRISE EN COMPTE DES FACTEURS D¶INFLUENCE

if
/D PpWKRGH 233(5(7 V¶HIIRUFH GH SUHQGUH HQ FRPSWH OHV IDFWHXUV VXVFHSWLEOHV GH PRGLILHU OD

ct
lle
qualLWpG¶XQHPHVXUH4X¶LOV¶DJLVVHGHIDFWHXUVDJJUDYDQWV OHULVTXH FRPPHO¶XWLOLVDWLRQLQWHQVLYH
GHO¶pTXLSHPHQWGHPDQXWHQWLRQVQRPEUHXVHV«RXGHIDFWHXUVGLWVG¶pYLWHPHQW UpGXLUHOHULVTXH

co
en diminuant la probabilité d'une mesure incorrecte) comme la redondance des mesures, le suivi

n
VWDWLVWLTXHGHO¶pTXLSHPHQW«

no
Par exemple si un micromètre est utilisé par un seul technicien expérimenté dans un laboratoire il
aura plus de chance de donner une « bonne ªPHVXUHTXHV¶LOSDVVHHQWUHOHVPDLQVGHSOXVLHXUV

et
RSpUDWHXUVSHXDWWHQWLRQQpVGDQVO¶HQYLURQQHPHQWSRXVVLpUHX[GHO¶DWHOLHU

e
qu
Autre exemple VLRQPHWOHPrPHFDLOORXWRXVOHVMRXUVVXUXQHPrPHEDODQFHHWTX¶RQREWLHQW
i
un
toujours la même valeur on peut raisonnablement penser que la balance donne une indication
FRUUHFWHPrPHVLHOOHQ¶HVWSDVIUDvFKHPHQWpWDORQQpH
e

'¶DXWUHVFRQWUDLQWHVSHXYHQWrWUHpJDOHPHQWSULVHVHQFRPSWH/HVFRQWUDLQWHVpFRQRPLTXHVELHQ
ag

sûr OHSUL[G¶pWDORQQDJHG¶XQSLHGjFRXOLVVHQ¶HVWSDVOHPrPHTXHFHOXLG¶XQH007 PDFKLQHj

us

meVXUHU WULGLPHQVLRQQHOOH  /HV FRQWUDLQWHV G¶RUJDQLVDWLRQ FRPPH OD SRO\YDOHQFH GHV

pTXLSHPHQWVOHVFUpQHDX[GHPDLQWHQDQFHLPSRVpVRXOHUHJURXSHPHQWGHVpWDORQQDJHVG¶XQH
à

PrPH IDPLOOH G LQVWUXPHQWV«SHXYHQW FRQVWLWXHU SDUIRLV XQ IUHLQ DX GpYHORSSHPHQW G¶Xne
ue

périodicité adaptée à chaque équipement.

q
ni

/D PpWKRGH 233(5(7 VXJJqUH VDQV SUpWHQWLRQ G¶rWUH H[KDXVWLYH  LWHPV F HVW-à-dire des
tro

thèmes de réflexion à partir desquels différents critères personnalisés pourront être identifiés.
ec

Certains de ces items soQWG¶RUGUHTXDQWLWDWLIG¶DXWUHVTXDOLWDWLIVHWLOVSHUPHWWHQWjSULRULGHVH

él

SRVHUOHVERQQHVTXHVWLRQV'HVFULWqUHVTXLHQGpFRXOHURQWWRXVQ¶RQWSDVODPrPHLPSRUWDQFH
On imagine aisément que dans de nombreux cas, les critères traitant du « risque » doivent peser
n
io

G¶DYDQWDJHTXHFHX[WUDLWDQWGH© O¶RUJDQLVDWLRQ ª/¶LQGXVWULHOGHYUDGRQFpJDOHPHQWFKRLVLUSRXU

rs

FKDTXH FULWqUH XQ FRHIILFLHQW GH SRQGpUDWLRQ ,O UHVWH DORUV j PHWWUH O¶HQVHPEOH GHV GRQQpHV HQ
Ve

équation comme nous le verrons plus loin.

Le choix de la méthode OPPERET impose de réunir un groupe de réflexion composé de
différentes compétences. Il est constitué évidemment du responsable Métrologie mais également
G¶XQ UHSUpVHQWDQW GH OD IRQFWLRQ 4XDOLWp GH OD SURGXFWLRQ GX 5 ' GHV $FKDWV « /D PXOWLWXGH
des compétences représentées est une garantie pour la pertinence des résultats obtenus mais
DXVVLSRXUO¶DFFHSWDWLRQSDUWRXWOHPRQGH HQLQWHUQHHWHQH[WHUQH GHVQRXYHOOHVSpULRGLFLWpV,O

12 COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

est chargé, en abordant les différents items proposés par la méthode (voir tableau ci-dessous), de
définir les différents critères de la méthode.

N° Items Signification

,O V¶DJLW GH SUHQGUH OD PHVXUH GHV FRQVpTXHQFHV OLpHV j GHV SUREOqPHV VXU OHV
Gravité des conséquences
1 mesures.
G¶XQHPHVXUHHUURQpH
Cet item peut être considéré directement comme un critère.
La capabilité des processus de mesure se définit comme le rapport entre la tolérance

if
j YpULILHU SDU UDSSRUW j O¶LQFHUWLWXGH GH PHVXUH TXL V¶H[SULPH j O¶XWLOLVDWLRQ GH
2 Capabilité processus

ct
O¶LQVWUXPHQW A priori, plus le coefficient de capabilité est petit, plus le risque de se
tromper en déclarant la conformité est grand.

lle
,O V¶DJLW GX © poids ª GH O¶LQVWUXPHQW GH PHVXUH GDQV OH SURFHVVXV GH PHVXUH TXL
O¶XWLOLVH &H SRLGV SHXW rWUH GpILQL ORUV GH O¶pYDOXDWLRQ GH O¶LQFHUWLWXGH GH PHVXUH HQ

co
3 Capabilité équipement FRPSDUDQWODYDULDQFHGXHjO¶LQVWUXPHQWjODVRPPHGHVYDULDQFHVTXLFRPSRVHQWOH
SURFHVVXV ,O SHXW rWUH pJDOHPHQW HVWLPp HQ FRPSDUDQW O¶(07 (UUHXU 0D[LPDOH
7ROpUpH jO¶LQFertitude de mesure.

n
/D GpULYH UHSUpVHQWH O¶pYROXWLRQ GH O¶LQVWUXPHQW GDQV OH WHPSV ,O FRQYLHQW GH

no
comparer cette dérive, qui peut être estimée rapidement par un modèle des moindres
FDUUpVj O¶(07 GH O¶LQVWUXPHQW ,OFRQYLHQW également de considérer la position de
4 'pULYHGHO¶pTXLSHPHQW
O¶LQVWUXPHQWSDUUDSSRUWjVRQ(078QLQVWUXPHQWTXLGpULYHHWTXLHVWSURFKHGHVD

et
OLPLWH VRQ (07  HVW SOXV j ULVTXH TX¶XQ LQVWUXPHQW TXL GpULYH GH OD PrPH IDoRQ
mais qui est éloigné de son E.M.T.

e
Cette information est souvent disponible sur la fiche de vie des instruments. Depuis
Intervention sur
5

qu
TX¶LOHVWVXLYLO¶LQVWUXPHQWD-t-LOIDLWO¶REMHWG¶RSpUDWLRQVG¶DMXVWDJHRXGHUpSDUDWLRQ ?
O¶pTXLSHPHQW
Le constructeur peut également donner des informations sur ce sujet.
&HUWDLQV IDFWHXUV SHUPHWWHQW GH GpWHFWHU XQH pYHQWXHOOH GpULYH G¶XQ pTXLSHPHQW
i
un
Lorsque les processus industriels sont sous contrôle, une valeur inattendue sera
Facteurs permettant de
6 rapidement détectée et la cause déWHUPLQpH $ O¶LQYHUVH GDQV XQ ODERUDWRLUH GH
déceler les anomalies
UHFKHUFKHOHFDUDFWqUHLQFRQQXGHO¶REMHWQHSHUPHWSDVGHGpWHFWHUXQHDQRPDOLH
e

OLpHjO¶LQVWUXPHQW
ag

/HV IDFWHXUV DJJUDYDQWV VRQW PXOWLSOHV /D IUpTXHQFH G¶XWLOLVDWLRQ OH QRPEUH
7 Facteurs aggravants G¶XWLOLVDWHXUV SRWHQWLHOV « 'DQV QRV H[HPSOHV OH QRPEUH GH F\FOH © Marche /
Arrêt », le type de stérilisation.
us

8 Contraintes de coûts eWDORQQDJHLPPRELOLVDWLRQDUUrWGHOLJQHV«

La question des contraintes opérationnelles pHUPHW G¶DERUGHU OHV SUREOqPHV OLpV j
à

O¶RUJDQLVDWLRQ HQ JpQpUDO GH OD IRQFWLRQ 0pWURORJLH HW GH VHV LQWHUDFWLRQV DYHF OHV
autres services. Certains critères peuvent être redondants avec des critères obtenus
9 Contraintes opérationnelles
ue

ORUV GH O¶DQDO\VH G¶DXWUHV LWHPV 'DQV FH FDV Ll ne faut évidemment pas les
considérer 2 fois (Exemple  /D PXOWLWXGH G¶XWLOLVDWHXUV SHXW rWUH XQH FRQWUDLQWH
q

opérationnelle considérée également dans les facteurs aggravants).

ni

'DQVXQSUHPLHUWHPSVHWDXUHJDUGGHO¶DFWLYLWpGHO¶HQWUHSULVHOHJURXSH sera chargé de définir

tro

les différents périmètres à considérer :

ec

4.2.1 Famille (ou regroupement) d¶instruments concernés : le périmètre de l¶étude

La méthode OPPERET fait appel à des notions statistiques en positionnant chaque instrument par
él

rapport à sa famille (voir 4-3 : Rappels statistiques). Ainsi, il convient de définir le périmètre de la
n

famille à laquelle les instruments individuels seront « comparés ». Pour définir ce périmètre, il suffit
io

en général de regrouper ensemble des instruments pour lesquels les mêmes critères pourront être
rs
Ve

considérés. Par exemple, le type de stérilisation à laquelle sont soumis les capteurs de
température est un facteur à considérer pour la détermination de la périodicité. Ce critère, par lui-
même, conduit à vouloir regrouper tous les capteurs de température dans le même périmètre et à
en exclure les tampons filetés qui ne sont évidemment pas concernés ! Par extension, on pourra
également considérer, dans ce périmètre, tous les instruments intervenant dans le domaine de la
température. De même, les appareils de mesure électrique sont sensibles aux nombres de cycle

COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE 13

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

« Marche-Arrêt ª TX¶LOV VXELVVHQW HW j OHXU kJH QRWLRQ GH FXYHWWH GH GpIDLOODQFH : au début,
probabilité de connaître des problèmes élevée puis une période au cours de laquelle cette
probabilité diminue considérablement et enfin le « début de la fin »). Ainsi, il sera sûrement
judicieux de les regrouper dans un même périmètre, différent des mesureurs de température. Les
périmètres peuvent être aussi considérés en foncWLRQ GH O¶XWLOLVDWLRQ GHV LQVWUXPHQWV &HUWDLQV
LQVWUXPHQWVVXUYHLOOHQWOHSURFHVVXVGHIDEULFDWLRQG¶DXWUHVPHVXUHQWOHVREMHWVUpDOLVpVG¶DXWUHV

if
encore interviennent au niveau de la maintenance ou du réglage du processus. Ces différences

ct
peuvent être le point de départ de la définition des périmètres.

lle
'DQVOHVSDUFVFRPSRVpVGHSHXG¶LQVWUXPHQWVLOVHUDSHXW-être nécessaire de tous les prendre

co
en compte dans le même périmètre. Dans ce cas, les critères retenus pourront tenir compte de la
disparité des instruments en choisissant, par exemple, un critère concernant le domaine ou la

n
IDPLOOHGHO¶LQVWUXPHQW YRLU-2-2).

no
Dans le cas des parcs plus conséquents, un regroupement sur le domaine de mesure et la famille

et
G¶LQVWUXPHQW V¶DYqUH VRXYHQW SHUWLQHQW (n effet, il est en général possible de définir des critères
FRPPXQV SRXU O¶HQVHPEOH GHV PHVXUHXUV GH WHPSpUDWXUH RX SRXU OHV DSSDUHLOV GH PHVXUH

e
pOHFWULTXHFRPPHQRXVO¶DYRQVYXSUpFpGHPPHQW
i qu
un
4.2.2 Critères à retenir
Une fois les périmètres définis, il convLHQW GH GpWHUPLQHU SRXU FKDFXQ OHV FULWqUHV TX¶LO HVW
e

nécessaire de retenir pour optimiser les périodicités.

ag

Le choix de ces critères se fait sous la forme de « brain storming » en évoquant chacun des items
us

du tableau ci-dessous. La discussion met alors en pYLGHQFHO¶HQVHPEOHGHVSDUDPqWUHVUpHOOHPHQW

LQIOXHQWV VXU OD SpULRGLFLWp TX¶LOV VRLHQW TXDQWLWDWLIV RX TXDOLWDWLIV &KDFXQ DSSRUWH DX JURXSH VD
à

préoccupation :
ue

x Le Métrologue apportera sa connaissance des instruments, des marques, des qualités

q

intrinsèTXHVGHVLQVWUXPHQWVGHVGpULYHVpYHQWXHOOHV«
ni

x
tro

La production mettra en évidence des problématiques de type « arrêt de ligne » ou risque lié à
XQHGpULYHVXELWHG¶XQLQVWUXPHQW
ec

x /H5 'SDUWLFLSHUDjODGpWHUPLQDWLRQGHVULVTXHVUpHOVSRXUO¶REMHWUpDOLVp (qui peut être une

él

PHVXUHGDQVOHFDVGHVODERUDWRLUHVG¶pWDORQQDJHRXG¶HVVDLV VXLWHjXQHPHVXUHHUURQpH
n

x /¶DFKHWHXUpYLGHPPHQWSRXUUDPHVXUHUHQWHUPHpFRQRPLTXHOHUDSSRUWHQWUHOHVJDLQVOLpV
io

DX[RSpUDWLRQVG¶pWDORQQDJHPRLQVIUpTXHQWHVHWOHVFRQVpTXHQFHVpYHQWXHOOHVG¶XQSUREOqPH
rs

non détecté,
Ve

x HWF«

Par exemple, pour revenir sur les capteurs de température, le groupe a considéré que le type de
stérilisation auquel sont soumis les capteurs de température est un facteur aggravant. De même, il

14 COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

a défini que la capabilité des instruments de mesure dans le domaine électrique est un facteur à
considérer.
Le groupe doit impérativement réfléchir autour de chacun des items proposés (Voir tableau
paragraphe 4-2) mais peut évidemment décider de ne pas tenir compte de tel ou tel facteur. Par
exemple, si la capabilité est inconnue, il pourra décider de ne pas tenir compte de ce paramètre.
1pDQPRLQVSRXUTXHODPpWKRGHIRQFWLRQQHELHQLOIDXWLPSpUDWLYHPHQWTX¶DXPLQLPXPFULWqUHV

if
soient retenus après avoir parcouru tous les items proposés.

ct
lle
Évidemment, les items proposés ne sont en aucun cas limitatif. Pour telle ou telle activité, le

co
JURXSHSRXUUDpYRTXHUWRXWDXWUHVXMHWTXLLQWHUIqUHDYHFODSpULRGLFLWpG¶pWDORQQDJHHWSRXUUDIDLUH

n
siens les critères qui en découleront !

no
4.2.3 La notation des instruments

et
Une fois les critères définis, il convient de recenser les différents cas possibles, pour chaque

e
critère, dans le cadre du périmètre défini. Que les facteurs soient Qualitatif ou Quantitatif, le

i qu
groupe propoVH G¶DWWULEXHU XQH QRWH FRPSULVHHQWUH -2 et + 2 à chaque instrument constituant le
SpULPqWUH GH O pWXGH 3DU FRQYHQWLRQ LO HVW GpFLGp TX¶XQH QRWH GH -2 tend à faire diminuer la
un
périodicité, une note de +2 tend, au contraire, à la faire augmenter.
e

Dans le cas des facteurs quantitatifs, la notation peut être faite de la façon suivante :
ag

x Capabilité (Rapport T/U) > 10 : +2

us

x Capabilité (Rapport T/U) entre 10 et 6 : +1

à

x Capabilité (Rapport T/U) entre 6 et 4 : 0

ue

x Capabilité (Rapport T/U) entre 4 et 2 : -1

x
q

Capabilité (Rapport T/U) < 2 : -2

ni

Évidemment, il convient de choisir les limites de la valeur du critère de façon cohérente avec les
tro

valeurs de chaque instrument dans le périmètre de l'étude. Dans le cas de la capabilité, si tous les
processus ont des valeurs comprises entre 4 et 1, voire moins, les trois premiers cas ne servent à
ec

rien et il aurait mieux valu prévoir la notation de la façon suivante :

él
n

x Capabilité (Rapport T/U) > 3 : +2

io

x Capabilité (Rapport T/U) entre 3 et 2 : +1

rs

x Capabilité (Rapport T/U) entre 2 et 1 : -1

Ve

x Capabilité (Rapport T/U) < 1 : -2

Note 'DQVFHFDVODQRWDWLRQV¶HIIHFWXHVXUSORWV DXOLHXGH HWODQRWHQ¶H[LVWHSDV

Il est aussi possible de prendre les notations suivantes sur 3 plots :

x Capabilité (Rapport T/U) > 3 : +2

COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE 15

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

x Capabilité (Rapport T/U) entre 3 et 1 : 0

x Capabilité (Rapport T/U) < 1 : -2

Pour les facteurs quantitatifs, il convient de bien identifier chaque cas possible. Pour la stérilisation
GHO¶H[HPSOHSULVLPDJLQRQVTX¶LOHQH[LVWHW\SHVHWTXHGDQVOH périmètre, certains instruments
ne soient pas soumis à une telle action aggravante :
x Aucune stérilisation : +2

if
ct
x Stérilisation de type 1 : 0

lle
x Stérilisation de type 2 : -2

co
Note 'DQVFHFDVODQRWDWLRQV¶HIIHFWXHVXUSORWV DXOLHXGH HWOHVQRWHV1 et -1 ne sont pas

n
disponibles.

no
Plus la description des cas correspondants à chaque note est précise, moins la dispersion de la

et
QRWDWLRQHVWLPSRUWDQWH,OIDXWLPDJLQHUTXHQ¶LPSRUWHTXLGRLWSRXYRLUHIIHFWXHUODQRWDWLRQVXUOD

e
base des informations dLVSRQLEOHV FR€W G¶pWDORQQDJH IUpTXHQFH GHV DMustages, type de
stérilisation,«  i qu
un
4.2.4 La pondération des critères
e

8QH IRLV OHV FULWqUHV HW OHXU QRWDWLRQ GpILQLV LO FRQYLHQW G¶DIIHFWHU XQH SRQGpUDWLRQ j FKDFXQ GHV
ag

critères. Il est évident que tous les critèrHV GDQV OH FRQWH[WH FRQVLGpUp Q¶RQW SDV OD PrPH
us

LPSRUWDQFH /H FR€W HVW LPSRUWDQW SRXU WRXW OH PRQGH PDLV ORUVTX¶RQ IDEULTXH GHV DYLRQV RQ
FRPSUHQGUDDLVpPHQWTX¶LOHVWPRLQVLPSRUWDQWTXHOHULVTXHOLpjXQpYHQWXHODFFLGHQWD\DQWSRXU
à

cause une mesure erronée.

ue

Pour définir les pondérations, il est possible de procéder de la façon suivante. Il faut imaginer que
q

chaque critère est inscrit sur une carte. On définit alors des tas de cartes en fonction de
ni

O¶LPSRUWDQFHUHODWLYHG¶XQHFDUWHSDUUDSSRUWjO¶DXWUH2QSUHQGOHVGHX[SUHPLHUVFULWqUHVHWRQVH
tro

GHPDQGHV¶LOVVRQWG¶DXVVLJUDQGHLPSRUWDQFH6LRXLLOVUHMRLJQHQWOHPrPHWDVVLQRQRn crée 2
tas. On considère le 3° critère et on se pose les mêmes questions pour savoir dans quel tas on
ec

positionne le 3° FULWqUH HW DLQVL GH VXLWH MXVTX¶DX GHUQLHU FULWqUH ,O Q¶HVW SDV QpFHVVDLUH GH FUpHU
él

plus de 3 ou 4 tas de cartes.

n

8QH IRLV OH UHJURXSHPHQW GHV FULWqUHV UpDOLVp RQ OHV FODVVH GDQV O¶RUGUH HW RQ DIIHFWH OHV
io

coefficients de pondération : 1 pour le tas le moins important, 2 pour le suivant, 3 pour le troisième
rs

et ainsi de suite. Si on veut marquer la différence sur le dernier tas, on peut lui affecter une
Ve

pondération supérieure au rang de son tas. Dans le cas où 3 tas ont été constitués, le troisième
pourra avoir une pondération de 3+1 = 4.

16 COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

4.3 RAPPELS STATISTIQUES : L¶ECART NORMALISE

/H FKDSLWUH VXLYDQW SUpVHQWDQW OD PLVH HQ pTXDWLRQ GH OD PpWKRGH IDLW DSSHO j OD QRWLRQ G¶pFDUW
normalisé. Cet outil statistique permet de positionner une valeur par rapport à la moyenne des
valeurs pour une même famille. Il se définit comme suit.
/¶pFDUWQRUPDOLVp (1 HVWOHUDSSRUWHQWUHG¶XQHSDUWODGLIIpUHQFHHQWUHXQHYDOHXUpWXGLpHHWOD

if
PR\HQQHGHVYDOHXUVREWHQXHVHWG¶DXWUHSDUWO¶pFDUWW\SHGHVYDOHXUV

ct
lle
EN = (xi ± xmoy) / s
Où :

co
x xi représente la valeur étudiée,

n
x xmoy représente la moyenne des valeurs obtenues pour le critère par tous les instruments de la

no
famille,
x VUHSUpVHQWHO¶pFDUWW\SHGHVYDOHXUVREWHQXHVSDUWRXVOHVLQVWUXPHQWVGHODIDPLOOH

et
e
/¶pFDUWQormalisé permet ainsi de donner un sens relatif à une valeur par rapport à une population
de valeurs. i qu
un
3DUH[HPSOHXQpOqYHTXLREWLHQWXQHQRWHGHDXQHWUqVERQQHQRWHGDQVO¶DEVROXPDLV
e

HOOH Q¶DXUD SDV OH PrPH © sens » si la moyenne de la classe est de 19,5 ou de 11,5. Dans le
ag

SUHPLHU FDV O¶pFDUW QRUPDOLVpHVWIDLEOH LQIpULHXU j ODQRWHGH HVW HQ IDLW© relativement
us

moyenne ª'DQVOHGHX[LqPHFDVO¶pFDUWQRUPDOLVpHVWLPSRUWDQWSURFKHGHODQRWHGH
est « relativement très bonne ».
à
ue

4.4 LA MISE EN EQUATION

q
ni

3RXUPHWWUHHQpTXDWLRQFHWWHPpWKRGHQRXVDYRQVYXTX¶LOHVWQpFHVVDLUHGHGpILQLUOHVGLIIpUHQWV
tro

critères qui interviennent dans le choix de la périodicité. Ces critères peuvent être de différentes
ec

natures : métrologiTXHpFRQRPLTXHULVTXHDFFHSWpSDUO¶HQWUHSULVH«
él

Ensuite, chacun des critères définis, notés C1, C2 « &n HVW DIIHFWp G¶XQ FRHIILFLHQW GH
SRQGpUDWLRQTXLSHXWYDULHUG¶XQHIDPLOOHG¶LQVWUXPHQWVjO¶DXWUHG¶XQHVRFLpWpjO¶DXWUH
n
io

Une fois définis, pouUFKDTXHIDPLOOHG¶LQVWUXPHQWVOHVFULWqUHVHWOHXUVFRHIILFLHQWVGHSRQGpUDWLRQ

rs

on affecte, pour chaque instrument de la famille et à chacun des critères, une note (entière)
Ve

comprise entre -2 et 2.
Par exemple, on définit les critères suivants dans le cas des instruments appartenant à la famille
« Électricité» :
x C1 : Possibilité de détecter une dérive éventuelle (redondance des mesures)
x C2 &RQGLWLRQVG¶XWLOLVDWLRQ
x C3 7DX[GHSUREOqPHVUHQFRQWUpVDYHFO¶LQVWUXPHQW

COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE 17

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

x C4 : Gravité des mesures réalisées avec le moyen

x C5 &R€WG¶pWDORQQDJH

On définit ensuite les pondérations associées à chacun des critères :

x C1 : Coefficient 2
x C2 : Coefficient 1
x C3 : Coefficient 2

if
ct
x C4 : Coefficient 3

lle
x C5 : Coefficient 1

co
Pour chaque instrument de la famille « Électricité», on affecte une note comprise entre -2 et 2 à

n
chaque critère :

no
MULTI 001

et
Critère Pondération Note Écart Normalisé
C1 2 2

e
C2
C3
1
2
0
i
-2
qu
un
C4 3 1
e

C5 1 -1
ag

Une fois que tous les instruments de la famille ont été notés sur chacun des critères, on calcule
us

pour un équipement particulier i « O¶pFDUWQRUPDOLVp » de sa note pour chaque critère.

à

Par exemple, la famille « Électricité» comporte 30 instruments différents (de MULTI001 à

ue

MULTI030). Sur le critère C1, les 30 instruments concernés ont obtenus les notes suivantes :
q
ni

Identification Note Identification Note Identification Note

tro

MULTI 001 2 MULTI 011 0 MULTI 021 2

MULTI 002 1 MULTI 012 0 MULTI 022 2
ec

MULTI 003 1 MULTI 013 1 MULTI 023 0

él

MULTI 004 2 MULTI 014 2 MULTI 024 0

MULTI 005 -2 MULTI 015 -2 MULTI 025 0
n

MULTI 006 -2 MULTI 016 -1 MULTI 026 -1

io

MULTI 007 1 MULTI 017 -1 MULTI 027 -2

rs

MULTI 008 0 MULTI 018 1 MULTI 028 0

MULTI 009 0 MULTI 019 2 MULTI 029 -1
Ve

MULTI 010 1 MULTI 020 0 MULTI 030 -2

La moyenne des notes est égale à : O¶pFDUWW\SHGHVQRWHVHVWpJDOj : 1,36

/¶pFDUWQRUPDOLVpGHO¶LQVWUXPHQW08/7,VHORQOHFULWqUH&HVWpJDOj :

ENC1 = (2 ± 0,13) / 1,36 = 1,37

18 COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

En répétant cette opération sur chacun des critères C1 à C5, on obtient, pour chaque instrument :

MULTI 001
Critère Pondération Note Ecart Normalisé
C1 2 2 1,37
C2 1 0 -0,67
C3 2 -2 -2,34
C4 3 1 0,12

if
C5 1 -1 -0,89

ct
Note  /¶pFDUW QRUPDOLVp SHUPHW GH VLWXHU O¶LQVWUXPHQW GDQV OD IDPLOOH GHV LQVWUXPHQWV OD QRWH

lle
LQGLYLGXHOOHQ¶D\DQWTX¶XQFDUDFWqUHDUELWUDLUH/DPpWKRGHYHXWSRVLWLRQQHUO¶LQVWUXPHQWSDUUDSSRUW

co
aux autres instruments de la même famille !

n
no
8QHIRLVOHVpFDUWVQRUPDOLVpVGpWHUPLQpVRQFDOFXOHODQRWHJOREDOHGHO¶LQVWUXPHQWVXLYDQWOD
formule : NGMULTI 001 = 6 PCi x ENCi

et
où :

e
x PCi représente le coefficient de pondération du critère Ci
x ENCi UHSUpVHQWHO¶pFDUWQRUPDOLVpSRXUOHFULWqUH&i i qu
un
$LQVLSRXUO¶LQVWUXPHQW08/7,ODQRWHJOREDOHYDXW :
e
ag

NGMULTI 001 = 2 x 1,37 + 1 x -0,67 + 2 x -2,34 + 3 x 0,12 + 1 x - 0,89 = - 3,14

us

&KDTXHLQVWUXPHQWGHODIDPLOOHVHYRLWDORUVDIIHFWpG¶XQHQRWHJOREDOH :
à

Note
ue

Identification Note Globale Identification Note Globale Identification Globale

MULTI 001 -3,14 MULTI 011 9,87 MULTI 021 3,45
q

MULTI 002 12,34 MULTI 012 3,45 MULTI 022 -4,56

ni

MULTI 003 -7,67 MULTI 013 -5,68 MULTI 023 0,56

tro

MULTI 004 5,76 MULTI 014 3,87 MULTI 024 -1,23

MULTI 005 -5,89 MULTI 015 -7,89 MULTI 025 5,45
ec

MULTI 006 -11,23 MULTI 016 8,78 MULTI 026 3,02

él

MULTI 007 5,63 MULTI 017 9,03 MULTI 027 -6,89

MULTI 008 6,78 MULTI 018 -5,67 MULTI 028 -7,05
n

MULTI 009 6,78 MULTI 019 12,67 MULTI 029 2,34

io

MULTI 010 -3,45 MULTI 020 1,23 MULTI 030 3,45

rs
Ve

,O FRQYLHQW HQVXLWH GH FDOFXOHU O¶pFDUW QRUPDOLVp GH FKDFXQ GHV LQVWUXPHQWV SRXU VLWXHU FKDTXH
instrument dans la population totale :
La moyenne des notes globales est O¶pFDUWW\SHGHVQRWHVJOREDOHV

/¶pFDUWQRUPDOLVpGHODQRWHJOREDOHGHO¶LQVWUXPHQW08/7,HVWpJDOj :
ENNGMULTI 001 = (-3,14 ± 1,14) / 6,62 = - 0,65

COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE 19

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

Deux cas peuvent ensuite se présenter :

Cas 1  /D IDPLOOH FRQVLGpUpH IDLWO¶REMHW G¶XQH SpULRGLFLWp G¶pWDORQQDJH

arbitraire
Dans un souci essentiel de garantir la conformité des instruments de mesure, les périodicités sont
JpQpUDOHPHQW IL[pHV DUELWUDLUHPHQW HQ IRQFWLRQ GH O¶H[SpULHQFH DFTXLVH SDU IDPLOOH G¶LQVWUXPHQWV
RX VHORQ OHV UHFRPPDQGDWLRQV GX IDEULFDQW ,O HVW DLQVL DIIHFWpjWRXWHODIDPLOOHG¶LQVWUXPHQWV OD

if
ct
SpULRGLFLWp TXL FRQYLHQW j O¶LQVWUXPHQW TXL SUpVHQWH OD SOXV IRUWH GpULYH &HWWH VWUDWpJLH FRQVLVWH

lle
donc à appliquer la périodicité la plus contraignante à toute la famille.

co
/HVIDFWHXUVjO¶RULJLQHGHODGpULYHGHVLQVWUXPHQWVGHPHVXUHVRQWQRPEUHX[ :

n
x 7DX[G¶XWLOLVDWLRQ

no
x &RQGLWLRQVG¶XWLOLVDWLRQ
x Fiabilité intrinsèque

et
x Utilisateurs

e
qu
,O HVW UDLVRQQDEOH GH VXSSRVHU TXH V¶LO pWait possible de connaître la périodicité optimale de
i
un
FKDTXHLQVWUXPHQWG¶XQHIDPLOOHODGLVWULEXWLRQGHFHVSpULRGLFLWpVVHUDLWGHW\SHJDXVVLHQQH Cf.
théorème Central Limite valable à la condition que toutes les variances des périodicités optimales
e

soient faibles devant la variance de la distribution des périodicités optimales).

ag
us

2 écart-types !
à
ue

3 écart-types !
Périodicité actuelle
q
ni

Périodicité maximale
Taux de
tro

« non conforme » :
|2à3%
ec
él

Périodicité moyenne optimale

n
io

En choisissant la même périodicité pour toute la famille, et si le taux de retour de « non conforme »
rs

observé est de 2 à 3%, il est supposé que la périodicité fixée arbitrairement correspond à une
Ve

valeur située environ à 2 écart-types de la périodicité moyenne.

De même, il est possible de fixer la périodicité maximale acceptable, pour la famille considérée et
FRPSWH WHQX GH O¶XWLOLVDWLRQ HQYLVDJpH HW G¶HVWLPHU TXH FHWWH YDOeur maximale vaut pour plus de
99% de la famille. Elle est ainsi située à 3 écart-types de la valeur moyenne optimale.

20 COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

/D SpULRGLFLWp PD[LPDOH SHXW SDU H[HPSOH rWUH O¶kJH PR\HQ GX SDUF Q¶D\DQW SDV IDLW O¶REMHW
G¶RSpUDWLRQ G¶DMXVWDJH RX GH UpSDUDWLRQ 6L la valeur obtenue paraît importante aux yeux de la
démarche qualité, il y a possibilité de la plafonner. Par exemple, un âge moyen de dix ans pourrait
SDUDvWUH H[FHVVLI FRPPH YDOHXU GH SpULRGLFLWp PD[LPDOH VL OD SpULRGLFLWp DFWXHOOH HVW G¶XQ DQ /D
périodicité maximale pourrait alors être plafonnée à 3 ou 5 fois la périodicité actuelle.

if
$ SDUWLU GH FHV GLIIpUHQWV SDUDPqWUHV LO HVW SRVVLEOH GH FDOFXOHU OD YDOHXU GH O¶écart type s de la

ct
distribution (gaussienne par hypothèse) théorique des périodicités :

lle
co
s = (Périodicité maximale ± Périodicité actuelle) / 5

n
De même, il est possible de définir la périodicité moyenne optimale par la formule :

no
Périodicité moyenne optimale = Périodicité actuelle + 2 x s

et
e
En estimant que la distribution théorique des périodicités et la distribution des notes globales

chaque instrument, suivant la formule :

i qu
pourraient être superposables, il est possible de déterminer une correction de périodicité de
un
Correcteur OPPERET =
(Périodicité Moyenne + ENNG x s) ± Périodicité actuelle
e
ag

LDSpULRGLFLWpG¶pWDORQQDJHYpULILFDWLRQHVWDORUVpJDOHj :
us

Périodicité réelle = Périodicité actuelle + Correcteur OPPERET

à

Notes :
ue

x Le correcteur porte le nom de « OPPERET » (OPtimisation des PEULRGLFLWpVG¶ETalonnage) du

nom du projet qui a mis au point cette stratégie.
q

x Le correcteur OPPERET peut être négatif et faire diminuer la périodicité réelle.

ni
tro

'DQVOHFDVGHO¶H[HPSOHSUpFpGHQWHWSRXUOHVSDUDPqWUHVVXLYDQWV :
ec

x Périodicité actuelle : 12 mois

él

x Périodicité maximale admissible : 60 mois

Le correcteur OPPERET se calcule de la façon suivante :
n
io

x s = (60 ± 12) / 5 = 9,6 mois

rs

x Périodicité moyenne = 12 + 2 x 9,6 = 31,2 mois

Ve

Correcteur OPPERET = (31,2 -0,65 x 9,6) ± 12 = + 13 mois

Périodicité réelle = 12 + 13 = 25 mois

Note : Pour chaque famille traitée suivant cette méthode, les critères retenus seront ceux donnés
GDQVO¶H[HPSOH

COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE 21

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

Cas 2  /D IDPLOOH FRQVLGpUpH D IDLW O¶REMHW G¶XQH pWXGH GH SpULRGLFLWp
individuelle suivant les méthodes décrites par le fascicule FD X 07-014
'DQV FH FDV LO Q¶HVW SDV QpFHVVDLUH G¶HVWLPHU OD GLVWULEXWLRQ TXH SRXUUDLW VXLYUH OHV SpULRGLFLWpV
individuelles des instruments de la famille concernée, celles-ci ayant été évaluées par des
méthodes mathématiques.

if
Néanmoins, les méthodes de calculs proposées par le fascicule FD X 07-014 ne tiennent pas

ct
compte de la notion de risque exploitée par la méthode OPPERET, cette notion pouvant alors

lle
DSSRUWHUGHVFRPSOpPHQWVG¶LQIRUPDWLRQVLQWpUHVVDQWVSRXUVWDWXHUVXUODSpULRGLFLWpjDSSOLTXHU

co
Dans ce cas, il convient de comparer la distribution des notes et la distribution des périodicités.

n
Si la note obtenue par un instrument est élevée et que sa périodicité est grande, il y a cohérence.

no
3DUFRQWUHVLODQRWHHVWIDLEOHHWTXHODSpULRGLFLWpHVWJUDQGHLO\DLQFRKpUHQFHFDUO¶DSSroche
PDWKpPDWLTXH GpWHUPLQDWLRQGHODSpULRGLFLWp HWO¶DSSURFKHGXULVTXH GpWHUPLQDWLRQGHODQRWH 

et
ne prennent pas en compte les mêmes paramètres.

e
qu
Le correcteur OPPERET se calcule dans ce cas de la façon suivante :
i
un
Note moyenne Périodicité moyenne
e
ag

Périodicité
calculée de
us

1RWHGHO¶LQVWUXPHQW
O¶LQVWUXPHQW
à
q ue
ni

Distribution des notes Distribution des périodicités calculées

tro
ec

x 6RLW(11*LO¶pFDUW QRUPDOLVpGHODQRWHGHO¶LQVWUXPHQWLGHQWLILpL
él

x 6RLW(13(5LO¶pFDUWQRUPDOLVpGHODSpULRGLFLWpGHO¶LQVWUXPHQWLGHQWLILpL
n

x 6RLWVO¶pFDUWW\SHGHVSpULRGLFLWpVFDOFXOpHV
io
rs

Correcteur OPPERET = ( ENNGi - ENPERi) x s / 2

Ve

22 COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

4.5 LES LOGICIELS D¶APPLICATION

AujouUG¶KXL GHX[ IRXUQLVVHXUV GH ORJLFLHOV GH JHVWLRQ GH SDUF 'HOWD 0X &RQVHLO HW ,PSOH[ 
proposent un module OPPERET qui utilise les algorithmes appropriés pour définir la périodicité
optimale de chaque équipement.

'¶DXWUHV IRXUQLVVHXUV GH ORJLFLHOV SHXYHQW adopter la méthode, OPPERET étant une solution
RXYHUWH 5DSSHORQV TXH OH SURMHW D pWpILQDQFpSDUWLHOOHPHQW SDUOH0LQLVWqUH GH O¶eFRQRPLH GHV
ILQDQFHVHWGHO¶LQGXVWULHHWTXHOHFRQWUDWSUpYRLWXQHODUJHGLVVpPLQDWLRQGHVUpVXOWDWVGHO¶pWXGH

if
ct
lle
5. EXEMP/('¶$33/,&$7,21

co
0DGDPH 'XSRQW UHVSRQVDEOH GH OD IRQFWLRQ PpWURORJLH GH O¶HQWUHSULVH 3ODVWFRPS D GpFLGp
G¶RSWLPLVHUOHVSpULRGLFLWpVGHYpULILFDWLRQGHVLQVWUXPHQWVGHPHVXUHGXODERUDWRLUHGHUpFHSWLRQ

n
no
des matériaux.
Actuellement et depuis que la vérification périodique des instruments de mesure est en place cette
périodicité est de 12 mois pour tous les instruments de mesure du laboratoire.

et
/¶HQWUHSULVH3ODVWFRPIDEULTXHGHVREMHWVHQPDWpULDX[FRPSRVLWHVXWLOLVDQWFRPPHPDWpULDX[GH

e
qu
base des fibres, des tissus, des résines et des élastomères. Le souci principal de Madame Dupont
est de réduire les coûts des vérifications périodiques pour satisfaire un des principaux objectifs de
i
un
ODGLUHFWLRQGHO¶HQWUHSULVH : réduire les frais généraux.
Cette démarche est entreprise avec comme consigne de respecter les spécifications de réception
GHVPDWpULDX[LPSRVpHVSDUOHEXUHDXG¶pWXGHV
e
ag

Il faut noter que les produits fabriqués par Plastcomp sont des objets à forte valeur ajoutée et que
us

des erreurs sur la réception des matériaux pourraient avoir des conséquences graves sur la
SURGXFWLRQGHO¶HQWUHSULVH
à

Le laboratoire possède 23 instruments de mesure qui contribuent à la qualité des opérations du

laboratoire :
ue

x 3 balances : B1, B2, B3

q

x 3 masses étalon : M1, M2, M3

ni

x
tro

2 machines de traction : MT1, MT2

x 1 duromètre : D
ec

x 5 thermomètres : T1, T2, T3, T4, T5

él

x 3 pieds à coulisse : P1, P2, P3

n

x 3 burettes : BU1, BU2, BU3

io

x 2 pipettes : PP1, PP2

rs

x 1 viscosimètre : V
Ve

0DGDPH 'XSRQW D FKRLVL G¶XWLOLVHU OD PpWKRGH OPPERET pour optimiser les périodicités de
vérification de ces 23 instruments de mesure.
Les 9 critères ou « items ªG¶LQIOXHQFHVXLYDQWVVRQWUHWHQXV :

C1 : gravité des conséquences G¶XQH PDXYDLVH PHVXUH VXU OD UpFHSWLRQ GHV SURGXLWV &RPSWH
tenu de ce que nous avons écrit précédemment, ce critère doit être pondéré fortement. P étant la

COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE 23

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

pondération, prenons P1 correspondant au critère C1 égal à 3. La note à attribuer au critère pourra

varier de ±2 à +2 suivant le tableau suivant :
-2 Conséquences graves

-1
C1
0 Conséquences moyennes

if
P1=3 +1

ct
+2 Pas de conséquences

lle
co
C2 : capabilité du moyen de mesure par rapport aux erreurs maximum tolérées sur le paramètre

n
mesuré. Les tolérances des paramètres mesurés sont relativement larges par rapport aux

no
incertitudes de mesure. Ce critère est donc à pondérer faiblement, soit P3=1. Mais en fonction du
type de mesure la note à attribuer pourra varier entre ±2 et +2 en fonction de la capabilité du

et
moyen de mesure.

e
-2 Capabilité limite

C2
-1 i qu
un
0 Capabilité correcte
e

P2 = 1 +1
ag

+2 Capabilité largement suffisante

us
à

C3 : capabilité processus. /DUpFHSWLRQGHVPDWpULDX[V¶HIIHFWXHGDQVXQODERUDWRLUHFOLPDWLVpj

ue

20°C + ou ± 3°C et les mesures ne sont donc pas influencées par la température ambiante du
q

ORFDO,OQ¶\DSDVG¶Dutre paramètre du processus qui puisse influencer la mesure. C3 sera donc

ni

pondéré comme C2. P3 = 1

tro

-2 Capabilité limite
ec

-1
C3
él

0 Capabilité correcte
n
io

P3 = 1 +1
rs

+2 Capabilité largement suffisante

Ve

C4 : GpULYHGHO¶pTXLSHPHQW. 8QHGpULYHGHO¶pquipement de mesure peut entraîner une mesure

IDXVVHHWSDUH[HPSOHHQWUDvQHUO¶DFFHSWDWLRQG¶XQSURGXLWKRUVVSpFLILFDWLRQ&HFULWqUHHVWGRQFj
pondérer fortement : P4=3. La note attribuée variera entre ±2 et +2 en fonction du type
G¶LQVWUXPHQWGHPHVXUe.

24 COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

-2 Dérive importante

-1 Dérive significative
C4
0 Dérive moyenne

P4 = 3 +1 Dérive faible

if
+2 Dérive négligeable

ct
lle
co
C5 : LQWHUYHQWLRQV VXU O¶pTXLSHPHQW. 6L O¶LQVWUXPHQW GH PHVXUH DIDLW O¶REMHW GH UpJODJHV RX GH
réparations dans les années préFpGHQWHV FHFL VLJQLILH TX¶LO D WHQGDQFH j GpULYHU ,O IDXW GRQF

n
donner à cet item un poids aussi important que pour la dérive, donc P5=3. Il est évident par contre

no
TXHODQRWHGHYUDrWUHGDQVOHFDVGHODEXUHWWHTXLQ¶HVWSDVUpJODEOHHWSDVUpSDUDEOH

-2 Réglages ou pannes fréquentes

et
e
-1

qu
C5
0 3DVG¶LQWHUYHQWLRQHQUHJLVWUpH
i
un
P5 = 3 +1
e

+2 3DVG¶LQWHUYHQWLRQSRVVLEOH
ag
us

C6 : facteurs permettant de déceler des anomalies. La surveillance du moyen de mesure

à

SRXUUDLW SHUPHWWUH G¶HVSDFHU OHV FRQWU{Oes périodiques. Cet item est cependant à pondérer
ue

PRGpUpPHQWFDUVLODGpPDUFKHG¶RSWLPLVDWLRQDpWpHQWUHSULVHF¶HVWTXHODVROXWLRQGHVXUYHLOODQFH
V\VWpPDWLTXHQ¶DSDVpWpUHWHQXHGDQVO¶HQWUHSULVH'RQF3 
q
ni

-2 Pas de surveillance possible

tro

-1
ec

C6
0 Surveillance occasionnelle
él

P6 = 1 +1
n
io

+2 Surveillance systématique du moyen de mesure

rs
Ve

C7 : facteurs aggravants. Cet item caractérise des moyens de mesure utilisés dans de
mauvaises conditions ou par des opérateurs inexpérimentés ou peu consciencieux. Pondération
moyenne si on considère que le matériel a été choisi robuste et adapté à des conditions
G¶XWLOLVDWLRQDVVH]GLIILFLOHV3 

COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE 25

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

-2 Beaucoup de facteurs aggravants

-1
C7
0 Peu de facteurs aggravants

P7 = 2 +1

if
+2 Pas de facteurs aggravants

ct
lle
C8 : contraintes de coûts. A pondérer fortement compte tenu des orientations de la direction.

co
P8=3.

n
-2 Coût de vérification important

no
-1
C8

et
0 Coût de vérification modéré

e
P8 = 3 +1

+2 qu
Coût de vérification faible
i
un
e

C9 : contraintes opérationnelles. Dans le laboratoire de réception des matériaux il y a des

ag

contraintes opérationnelles (par exemple : délai à respecter pour ne pas perturber la production)
mais cette contrainte peut être pondérée moyennement. P9=2.
us

-2 Forte influence opérationnelle

à

-1
ue

C9
0 Faible influence opérationnelle
q
ni

P9 = 2 +1
tro

+2 3DVG¶LQIOXHQFHRSpUDWLRQQHOOH
ec
él

Les 9 items étant définis et pondérés, Madame Dupont doit maintenant, pour chacun des 23
moyens de mesure, noter chacun des critères définis précédemment. Par exemple la balance B1 :
n
io

x C1. CHWWH EDODQFH HVW XWLOLVpH SRXU GpWHUPLQHU OD GHQVLWp G¶XQH UpVLQH TXL HVW XQH
FDUDFWpULVWLTXH LPSRUWDQWH GH FH SURGXLW /H UpVXOWDW GH OD PHVXUH SHUPHW G¶DFFHSWHU RX GH
rs

refuser des lots importants de résine. /HVFRQVpTXHQFHVG¶XQHPHVXUHIDXVVHVHUDLHQWJUDYHV

Ve

Donc C1 = - 2
x &/DWROpUDQFHVXUOHVPHVXUHVGHPDVVHHVWGHODSDUWG¶LQFHUWLWXGHGXHjODEDODQFHHVW
GHO¶RUGUHGH/DFDSDELOLWpGHODEDODQFHHVWGRQFODUJHPHQWVXIILVDQWH'RQF& 2.
x & 1RXV DYRQV GLW SUpFpGHPPHQW TXH OH SURFHVVXV VH UpGXLW SUDWLTXHPHQW j O¶RSpUDWLRQ GH
mesure. Donc C3 = C2= +2
x &/¶KLVWRULTXHGHFHWWHEDODQFHPRQWUHTXHVDGpULYHSHXWrWUHFRQVLGpUpHFRPPHPR\HQQH
Donc C4 = 0.

26 COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

x C5. Par contre des pannes fréquentes pouvant entraîner des erreurs de mesures ont été
enregistrées. C5 est pris égal à ±2 par mesure de sécurité.
x &/¶XWLOLVDWHXUYpULILHWUqVRFFDVLRQQHOOHPHQWVDEDODQFHDXPR\HQG¶XQHPDVVHVDQVQRWHUGH
résultat. Donc C6 = 0.
x C7. Plusieurs personnes XWLOLVHQW OD EDODQFH HW FHUWDLQV RSpUDWHXUV Q¶pWDQW SDV WUqV
expérimentés peuvent ne pas prendre les précautions nécessaires pour éviter les mauvaises
mesures. Compte tenu de ce fait C 7 = -2.
x C8. La vérification de cette balance est une opération peu coûteuse, donc C8 = +2.

if
ct
x &,OQ¶\DSDVGHFRQWUDLQWHVRSpUDWLRQQHOOHVOLpHVDX[UpVXOWDWVGHVPHVXUHVGRQQpVSDUFHWWH
balance donc C9 = +2.

lle
La même démarche est effectuée pour chaque instrument, les notes sont résumées dans le

co
tableau :
B1 B2 B3 M1 M2 M3 MT1 MT2

n
C1 -2 0 +2 -2 -2 -2 -2 -2

no
C2 +2 -2 +2 +2 0 +2 -2 0
C3 +2 +2 +2 -2 0 +2 +2 0

et
C4 0 -1 +2 +2 +2 +2 -2 +1
C5 -2 0 0 0 0 0 -2 +2

e
C6 0 -2 0 +2 +2 0 -2 -2
C7
C8
-2
+2
0
+2
+2
+2
-2
+2
0
+2
i qu 0
+2
-2
-2
-2
-2
un
C9 +2 -2 -2 -2 -2 +2 -2 -2

D T1 T2 T3 T4 T5 P1 P2 P3
e

C1 0 0 -2 +2 -2 -2 0 0 +2
ag

C2 -2 0 0 -2 +2 -2 0 -2 +2
us

C3 -2 0 -2 -2 +2 +2 +2 +2 +2
C4 +2 -1 +1 +2 -1 +2 +2 +1 +2
à

C5 0 +2 +2 +2 +2 +2 0 0 0
ue

C6 -2 -2 -2 -2 -2 -2 +2 +2 +2
C7 -2 0 -2 +2 +2 +2 +2 +2 +2
q

C8 0 0 -2 -2 +2 +2 +2 +2 +2
ni

C9 +2 -2 0 0 0 0 +2 +2 +2
tro

BU1 BU2 BU3 PP1 PP2 V

C1 -2 -2 0 0 +2 0
ec

C2 +2 -2 0 +2 +2 -2
él

C3 +2 +2 +2 +2 +2 -2
C4 +2 +2 +2 +1 +2 +1
n

C5 +2 +2 +2 +2 +2 +2
io

C6 0 0 0 0 0 -2
rs

C7 -2 +2 +2 -2 +2 -2
C8 +2 +2 +2 +2 +2 -2
Ve

C9 +2 +2 +2 -2 +2 -2

A partir de ces résultats le calcul des périodicités peut être effectué.

&H FDOFXO HVW GpWDLOOp GDQV OH UDSSRUW G¶RSWLPLVDWLRQ GH OD EDODQFH % UHSURGXLW GDQV OHV SDJHV
suivantes.

COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE 27

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

5$33257'¶237,0,6$7,21

INSTRUMENT OPTIMISE

Type Balance État métrologique Conforme

Référence B1

if
INTERVENTION MISE À JOUR LE JEUDI 01 DÉCEMBRE 2004

ct
lle
Nature Vérification Opérateur principal Extérieur
Date 23/11/04 à 10:12 Périodicité actuelle 12 mois

co
Périodicité maximale 60 mois

n
no
et
CALCUL DE LA MOYENNE DES NOTES X moy E7'(/¶(&$57-TYPE S

e
La moyenne des valeurs X i, notée X moy et la dispersion S autour de la moyenne sont calculées

VpOHFWLRQQpVHWSRXUXQPrPHW\SHG¶Lntervention.
i qu
pour le critère j MYDULDQWGHjGDQVFHWH[HPSOHSUpFLV VXUO¶HQVHPEOHGHVLQVWUXPHQWV
un
e
ag

TABLEAU RÉCAPITULATIF DES VALEURS MOYENNES DES INSTRUMENTS DE LA

us

FAMILLE
à

Indice du critère j &ULWqUHVG¶LQIOXHQFH X moy S

ue

*UDYLWpGHVFRQVpTXHQFHVG¶XQHPHVXUH
1 -0.61 1.53
erronée
q
ni

2 Capabilité processus 0.09 1.76

tro

3 &DSDELOLWpGHO¶pTuipement 0.87 1.69

ec

4 'pULYHGHO¶pTXLSHPHQW 1.13 1.25

él

5 ,QWHUYHQWLRQVVXUO¶pTXLSHPHQW 0.87 1.32

n

6 Facteurs permettant de déceler des anomalies -0.43 1.59

io

7 Facteurs aggravants 0.09 1.86

rs
Ve

8 Contraintes de coûts 0.96 1.69

9 Contraintes opérationnelles 0.09 1.86

28 COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

ÉCART NORMALISE « EN » DE LA BALANCE B1

/DEDODQFH%HVWFRPSDUpHDX[LQVWUXPHQWVVpOHFWLRQQpVSRXUFKDTXHFULWqUHG¶LQGLFHM par
son écart normalisé EN.

/¶pFDUWQRUPDOLVpEN situe la balance B1 dans la famille des instruments sélectionnés, il est définit
SDUO¶H[SUHVVLRQVXLYDQWH :

if
ct
EN = (X i - X moy ) / S

lle
Xi : YDOHXUpWXGLpHSRXUOHFULWqUHG¶LQGLFHM

co
X moy : moyenne des valeurs X i REWHQXHV SRXU OH FULWqUH G¶LQGLFH M SDU  WRus les instruments
sélectionnés

n
S : écart-type des valeurs X i REWHQXHV SRXU OH FULWqUH G¶LQGLFH M SDU  WRus les instruments

no
sélectionnés

et
e
POSITIONNEMENT DE LA BALANCE B1

qu
3$55$33257$/¶(16(0%/('(6,167580(176'(/$)$0,//(
i
un
Indice du critère j &ULWqUHVG¶LQIOXHQFH Xi EN
e

GraYLWpGHVFRQVpTXHQFHVG¶XQHPHVXUH
ag

1 -2.00 -0.91
erronée
us

2 Capabilité processus 2.00 1.09

à

3 &DSDELOLWpGHO¶pTXLSHPHQW 2.00 0.67

ue

4 'pULYHGHO¶pTXLSHPHQW 0.00 -0.90

q
ni

5 ,QWHUYHQWLRQVVXUO¶pTXLSHPHQW -2.00 -2.17

tro

6 Facteurs permettant de déceler les anomalies 0.00 0.27

ec

7 Facteurs aggravants -2.00 -1.12

él

8 Contraintes de coûts 2.00 0.62

n
io

9 Contraintes opérationnelles 2.00 1.03

rs
Ve

COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE 29

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

NOTE GLOBALE PONDÉRÉE « NG » DE LA BALANCE B1

La note globale pondérée de la balance B1 est calculée suivant la formule :

9
NG ¦ P .EN
j 1
j j

if
Les coefficients de pondération P j sont associés à chacun des critères d'indice j. Ils pondèrent

ct
O¶LPSRUWDQFHUHODWLYHGXFULWqUHORUVGHODPHVXUHSRXUOHVLQVWUXPHQWVGHODIDPLOOHVpOHFWLRQQpH

lle
EN j UHSUpVHQWHO¶pFDUWQRUPDOLVpSRXUOHFULWqUHG¶LQGLFHM

co
n
no
NOTE GLOBALE PONDÉRÉE DE LA BALANCE B1

et
Indice du critère j &ULWqUHVG¶LQIOXHQFH Pj EN j

e
qu
*UDYLWpGHVFRQVpTXHQFHVG¶XQHPHVXUH
1 3 -0.91
erronée i
un
2 Capabilité processus 1 1.09
e

3 &DSDELOLWpGHO¶pTXLSHPHQW 1 0.67
ag

4 Dérive de O¶pTXLSHPHQW 3 -0.90

us

5 ,QWHUYHQWLRQVVXUO¶pTXLSHPHQW 3 -2.17
à
ue

6 Facteurs permettant de déceler les anomalies 1 0.27

q

7 Facteurs aggravants 2 -1.12

ni
tro

8 Contraintes de coûts 3 0.62

ec

9 Contraintes opérationnelles 2 1.03

él

Note globale pondérée NG BAL B1 - 8.23

n
io
rs
Ve

30 COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

ECART NORMAL DE LA NOTE GLOBALE PONDÉRÉE DE LA BALANCE B1

/¶pFDUWQRUPDOLVpSHUPHWGHVLWXHUODEDODQFH%GDQVODSRSXODWLRQGHVLQVWUXPHQWVGHODIDPLOOH
sélectionnée.

Moyenne des notes globales pondérées : NG moy = 0.00

if
Ecart-type des notes globales pondérées : SNG = 10.41

ct
( NGBALB1  NGmoy ) / S NG = - 0.79

lle
EN NGBALB1

co
n
no
ECART-TYPE DE LA DISTRIBUTION DES PERIODICITES

et
s = ( Pmaximale ± Pactuelle ) / 5 = (60 - 12) / 5 = 9.6 mois

e
qu
Pactuelle représente la périodicité actuelle des instruments de la famille sélectionnée pour
O¶RSWLPLVDWLRQ(OOHHVWVLWXpHjpFDUW-types de la périodicité moyenne.
i
un
Pmaximale représente la périodicité maximale admissible pour les instruments de la famille
VpOHFWLRQQpHSRXUO¶RSWLPLVDWLRQ(OOHHVWVLWXpH à 3 écart-types de la périodicité moyenne.
e
ag

PERIODICITE MOYENNE OPTIMALE

us

Pmoyenne optimale = Pactuelle + 2 x s = 31.2 mois

à
ue

CORRECTEUR OPPERET = (Pmoyenne optimale + EN NG BALB1 x s) - Pactuelle = + 11.6 mois

q
ni
tro
ec

PERIODICITE RÉELLE
él

Préelle = Pactuelle + CORRECTEUR OPPERET = 23.6 mois

n
io
rs

LA PÉRIODICITÉ RÉELLE DE LA BALANCE B1 SERA MISE À JOUR À 23 MOIS

Ve

Ce calcul est effectué pour chacun des 23 équipements du laboratoire. Les périodicités optimisées
REWHQXHVILJXUHQWGDQVOHUDSSRUWG¶RSWLPLVDWLRQJORbal suivant complété par un histogramme.

COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE 31

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

5$33257'¶237,0,6$7,21GLOBAL

/LVWHGHVIDPLOOHVG¶LQVWUXPHQWVRSWLPLVpHV

TySHVG¶LQVWUXPHQWVVpOHFWLRQQpV

Balances, masses étalon, machines de traction, duromètre, thermomètres, pieds à coulisse,

if
burettes, pipettes, viscosimètre

ct
lle
7\SHG¶LQWHUYHQWLRQ Vérification

co
1RPEUHG¶LQVWUXPHQWV 23

n
Périodicité maximale admissible 60 mois

no
et
Tableau récapitulatif des périodicités optimales calculées

e
Périodicité Périodicité Périodicité Périodicité
Instruments actuelle
(en mois)
optimale
(en mois)
Instruments
i qu actuelle
(en mois)
optimale
(en mois)
un
Masse étalon M1 12 27 Pied à coulisse P1 12 40
e

Masse étalon M2 12 29 Pied à coulisse P2 12 37

ag
us

Masse étalon M3 12 34 Pied à coulisse P3 12 45

Balance B1 12 23 Pipette PP1 12 34

à
ue

Balance B2 12 24 Pipette PP2 12 48

q

Balance B3 12 39 Thermomètre T1 12 25
ni
tro

Burette BU1 12 36 Thermomètre T2 12 21

ec

Burette BU2 12 38 Thermomètre T3 12 34

él

Burette BU3 12 43 Thermomètre T4 12 31

n
io

Duromètre D 12 27 Thermomètre T5 12 35
rs

Machine de traction 12 5 Viscosimètre V 12 22

Ve

MT1
Machine de traction 12 20
MT2

32 COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE

 OPTIMISATION DES PÉrIODICITÉS D’ÉTALONNAGE : LA MÉThODE OPPErET

Histogramme des périodicités optimales

if
ct
lle
co
n
no
et
e
i qu
un
e
ag
us

'DQVFHWH[HPSOHYLQJWGHX[SpULRGLFLWpVVXUVRQWWUqVODUJHPHQWDXJPHQWpHVMXVTX¶jPRLV
à

une seule périodicité est diminuée. Il resterait à effectuer un bilan économique qui prendrait en
compte :
ue

x /HFR€WGHO¶RSpUDWLRQG¶RSWLPLVDWLRQTXLQpFHVVLWHXQLQYHVWLVVHPHQWKXPDLQ
q

x Les gains obtenus en augmentant les périodicités.

ni
tro

Notons que la périodicité qui est très fortement diminuée en passant de 12 à 5 mois va augmenter
ec

le coût de la vérification de la machine de traction. Mais si la périodicité est ramenée à 5 mois,

F¶HVWTXHODPDFKLQHDGHVSUREOqPHV SDQQHVGpULYH« HWTX¶LO\DOLHXGHODUpSDUHURXGHOD
él

changer.
n
io

CHGHUQLHUSRLQWPLVjSDUWLO\DOLHXGHSHQVHUTXHOD'LUHFWLRQGHO¶HQWUHSULVH3ODVWFRPSYDrWUH
satisfaite des résultats de la méthode OPPERET qui aura certainement contribué à la réduction
rs

GHVIUDLVJpQpUDX[GHO¶HQWUHSULVH
Ve

COLLèGE FrANçAIS DE MÉTrOLOGIE 33

Ve
rs
io
n
él
ec
tro
ni
que
à
us
ag
e
un
iqu
e
et
no
n
co
lle
ct
if