Olympiades Nationales de Physique - MAROC

OSCILLATIONS ET ONDES
Olympiades Nationales et Internationales de Physique

M. AFEKIR
Lycée Mohammed VI d’excellence
Benguérir

cpgeafek@[Link]

Publication/NPhO ([Link])
 CITATION D’ALBERT EINSTEIN

Everybody is a Genius.
But If You Judge a Fish by Its Ability to Climb a Tree,
It Will Live Its Whole Life
Believing that
It is Stupid.
 Table des matières

Table des matières iii

4 Interférences et diffraction 1
4.1 Superposition d’ondes : Interférences . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
4.1.1 Définition . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
4.1.2 Conditions d’interférences . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2
4.1.3 Expérience de Young avec double fentes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
4.1.4 Dispositif expérimental . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
4.1.5 Description . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
4.1.6 Distribution d’intensité . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
4.2 Propriétés d’ondes : Diffraction lumineuse . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
4.2.1 Définition . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
4.2.2 Diffraction par une fente . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
4.2.3 Intensité de la diffraction par une fente . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
4.2.4 Intensité des diagrammes de diffraction à double fente . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
 Interférences et diffraction 4
Syllabus IPhO 4.1 Superposition d’ondes : Interférences . . 1
4.1.1 Définition . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
▶ Superposition d’ondes : cohérence, battements, ondes stationnaires, 4.1.2 Conditions d’interférences . . . . . . . . . . 2
4.1.3 Expérience de Young avec double fentes . 3
principe de Huygens, interférences dues à des films minces (conditions
4.1.4 Dispositif expérimental . . . . . . . . . . . 3
pour les minima et maxima d’intensité seulement). 4.1.5 Description . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
▶ Diffraction par une et deux fentes, réseau de diffraction, réflexion de 4.1.6 Distribution d’intensité . . . . . . . . . . . . 5
Bragg. 4.2 Propriétés d’ondes : Diffraction lu-
mineuse . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
4.2.1 Définition . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
4.1 Superposition d’ondes : Interférences 4.2.2 Diffraction par une fente . . . . . . . . . . . 7
4.2.3 Intensité de la diffraction par une fente . . 9
4.2.4 Intensité des diagrammes de diffraction à
4.1.1 Définition double fente . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12

L’interférence est la combinaison de deux ou plusieurs ondes pour former

une onde composite, basée sur le principe de superposition. En effet, les
ondes résultent essentiellement d’un mouvement collectif de particules. Ainsi,
lorsque deux ondes se rencontrent, elles tentent toutes les deux d’imposer
leur effets collectifs aux particules.
Si on considère deux ondes identiques (longueur d’onde, amplitude et fréquence
identiques), cela peut conduire à des résultats différents :

• Si les deux ondes tentent toutes les deux de former un pic, elles sont alors
en mesure de contribuer la somme de leurs efforts et l’onde résultante
aura un pic plus haut.

• Si les deux ondes essaient toutes les deux de former un creux au même
endroit, un creux plus profond se forme alors.

Dans ce cas, les deux ondes ont essayé de faire la même chose et donc de
s’unir de manière constructive. Cela s’appelle une interférence constructive
(figure 4.1).

Figure 4.1: Interférences constructives.

Si l’une des deux ondes tente de former un pic et l’autre tente de former un
creux, elles entrent en concurrence pour faire chacune une chose différente.
Dans ce cas, l’amplitude de l’onde résultante dépendra des amplitudes des
deux ondes qui interfèrent :
 4 Interférences et diffraction 2

• Si la profondeur du creux est la même que la hauteur du sommet, rien

ne se passera.

• Si la hauteur du pic est supérieure à la profondeur du creux, un pic plus

petit apparaîtra et si le creux est plus profond, un creux moins profond
apparaîtra.

Dans ce cas on parle d’une interférence destructive (figure 4.2).

Figure 4.2: Interférences destructives.

4.1.2 Conditions d’interférences

Considérons, à titre d’exemple, la superposition des deux ondes Ψ1 et Ψ2

suivantes à l’instant 𝑡 = 0 :
 𝜋
Ψ1 (𝑥) = sin(𝑥) et Ψ2 (𝑥) = 2 sin 𝑥 + (4.1)
4
On montre que l’onde résultante est donnée par :
 √
√
q 
2
5 + 2 2 sin 𝑥 + 𝜙 𝜙 = arctan √ ≃ 30, 4𝑜 = 0 , 535 𝑟 𝑎𝑑.(4.2)


Ψ(𝑥) = avec
2+1
Figure 4.3: Superposition de deux ondes sinusoïdales :
conditions d’interférences.
On constate que l’onde résultante a une amplitude maximale lorsque sin 𝑥 + 𝜙 =


𝜋
1 ou 𝑥 = −𝜙 . L’interférence est alors constructive. En revanche, l’interférence
2
destructive se produit pour 𝑥 = 𝜋 − 𝜙 ≃ 2 , 61 rad, lorsque sin(𝜋) = 0.

Pour observer une figure d’interférence, la lumière incidente doit, alors,

satisfaire à ces deux conditions : La lumière émise par une ampoule à incandes-
√ cence est incohérente et polychromatique car elle
Les sources lumineuses doivent être cohérentes. Cela signifie que les est constituée d’ondes de différentes longueurs
ondes planes provenant des sources doivent maintenir une relation d’onde et ne maintient pas une relation de phase
de phase constante. Par exemple, si deux ondes sont complètement constante. Ainsi, aucune figure d’interférence
déphasées avec 𝜙 = 𝜋, cette différence de phase ne doit pas changer ne peut être observée suite à la superposition des
avec le temps. ondes émises.
√
La lumière doit être monochromatique. Cela signifie que la lumière est
2𝜋
constituée d’une seule longueur d’onde 𝜆 = .
𝑘

Figure 4.4: Source lumineuse incohérente.

 4 Interférences et diffraction 3

4.1.3 Expérience de Young avec double fentes

4.1.4 Dispositif expérimental

En 1801, Thomas Young conduisit une expéri-

ence dans laquelle la nature ondulatoire de la
lumière était démontrée. Le schéma de principe
de l’expérience en double fentes est présenté à
la figure ci-dessus.

4.1.5 Description

fentes d’young

S1
lumière
monochromatique 𝑆𝑜 𝐼
S2

source primaire Figure 4.5: Expérience de fentes d’Young éclairées sous

incidence normale.

▶ Une fente source 𝑆 𝑜 est éclairé par une lumière monochromatique. La

lumière émergente arrive ensuite au deuxième écran qui comporte deux
 4 Interférences et diffraction 4

fentes parallèles 𝑆1 et 𝑆2 (bifentes d’Young) qui servent de sources de

𝑃1
lumière cohérente.
▶ Les ondes lumineuses émergeant des deux fentes interfèrent, alors, et
S1
forment un motif d’interférence sur l’écran de visualisation.
𝑃
▶ Les bandes claires (franges brillantes) correspondent aux maxima d’interférences,
S2
et les minima d’interférences correspondent aux bandes sombre (franges
sombres).

La Figure ci-contre (4.6 et 4.7) montre comment les ondes pourraient se Figure 4.6: Interférence constructive en 𝑃1 .
combiner pour interférer de manière constructive ou destructive.

La géométrie de l’interféromètre à fentes d’Young est illustrée sur la Figure 𝑃2

ci-après.
S1
𝑃 𝑃
𝑟1
𝑟 S2
𝑆1 𝑦

𝑎 𝜃 𝑟2 𝑂
Figure 4.7: Interférence destructive en 𝑃2 .
𝑆2
𝛿
𝐿

La lumière issue de la fente 𝑆2 parcourt, par rapport à celle issue de la fente

 𝑎 2 𝜋
𝑆1 , une distance supplémentaire 𝛿 = 𝑟2 − 𝑟1 jusqu’au point 𝑃 : Cette distance

𝑟12 = 𝑟 + 2
− 𝑟 𝑎 cos −𝜃
supplémentaire est appelée différence de marche ou différence des chemins 2 2
optiques.  𝑎 2 𝜋 
𝑟22 = 𝑟 2 + − 𝑟 𝑎 cos +𝜃
2 2
En pratique, 𝐿 est de l’ordre de mètre ; 𝑦 est de l’ordre de centimètre
et 𝑎 est de l’ordre de millimètre :
𝑟22 − 𝑟12 = 2𝑟 𝑎 sin 𝜃 d’une part ,
𝐿≫𝑎 et 𝐿≫𝑦 = (𝑟2 − 𝑟1 ) (𝑟2 + 𝑟1 ) d’autre part ,

Dans cette limite, les deux rayons 𝑟1 et 𝑟2 sont essentiellement traités = 2𝑟𝛿
comme étant parallèles (𝑃 à l’infini).
Soit :
𝑦
sin 𝜃 ≈ tan 𝜃 = 𝛿 = 𝑟2 − 𝑟1 = 𝑎 sin 𝜃 (4.3)
𝐿

La valeur de 𝛿 détermine si les deux ondes sont en phase ou pas. Une

∞
𝑟1
interférence constructive se produit lorsque 𝛿 est égal à zéro ou à un multiple ∞
entier de la longueur d’onde 𝜆 : 𝑟 ∞
𝑎 sin 𝜃 = 𝑚𝜆, 𝑚 = 0, 𝑚 = ±1 , ±2 , ±3, ...(interférence constructive )
(4.4)
𝑎 𝜃 𝜃 𝜃
où 𝑚 est appelé le numéro de commande. Le maximum d’ordre zéro (𝑚 = 0) 𝑟2
correspond à la frange brillante centrale à 𝜃 = 0, et les maxima de premier
𝛿 ≈ 𝑑 sin 𝜃
ordre (𝑚 = ±1) sont les franges brillantes situées de part et d’autre de la
frange centrale.
Figure 4.8: Différence de marche dans le cas où 𝐿 ≫ 𝑎 .
 4 Interférences et diffraction 5

Par ailleurs, lorsque 𝛿 est égal à un multiple entier impair de 𝜆/2, les ondes
seront déphasées de 180𝑜 à 𝑃 , ce qui entraînera une interférence destructive
avec une frange sombre sur l’écran. La condition d’interférence destructive
est donnée par :
 
1
𝑎 sin 𝜃 = 𝑚+ 𝜆, 𝑚 = 0, 𝑚 = ±1, ±2, ±3, ...(interférence destructive
(4.5))
2

La figure ci-contre (figure 4.9) montrent comment une différence de chemin de

𝜆
𝛿 = ; (𝑚 = 0) entraîne une interférence destructive et 𝛿 = 𝜆 ; (𝑚 = 1) entraîne
2 𝜆
une interférence constructive. 2
Pour situer les positions des franges mesurées verticalement à partir du
point central 𝑂 , nous supposerons, en plus de 𝐿 ≫ 𝑎 , que la distance entre
les fentes est beaucoup plus grande que la longueur d’onde de la lumière
monochromatique, 𝑎 ≫ 𝜆. Ces conditions impliquent que l’angle 𝜃 est très
petit, de sorte que :
𝑦
sin 𝜃 ≈ tan 𝜃 = (4.6)
𝐿
𝜆
En substituant l’expression ci-dessus aux conditions d’interférence construc-
tive et destructive données dans les équations (4.4) et (4.5), les positions 𝑦𝑏 et
𝑦 𝑠 des franges brillantes et franges sombres sont, respectivement :

𝑚𝐿
𝑦𝑏 = (4.7)
𝑎
Figure 4.9: Interférences constructives et interférences
et destructives : problème de cohérence.

𝜆 𝐿
 
𝑦𝑠 = 𝑚 + (4.8)
2 𝑎

4.1.6 Distribution d’intensité

Prenons l’expérience à double fente illustrée par les figures ?? suivante :

𝑃 𝑃
𝑟1 𝑟1
𝑆1 𝑦 𝑆1 𝑦

𝑎 𝑟2 𝑎 𝑟2
𝑂 𝑂

𝑆2 𝑆2
𝛿 𝛿
𝐿 𝐿
 4 Interférences et diffraction 6

→−
Le champ électrique total 𝐸 (𝑃) au point 𝑃 de l’écran est égal à la somme
vectorielle des champs des ondes issues des deux sources :
→
− →− →−
𝐸 (𝑃) = 𝐸 1 (𝑃) + 𝐸 2 (𝑃)
→
−
Par contre, le vecteur de Poynting 𝑆 est proportionnel au carré du champ
total :
𝑆 ∝ 𝐸 2 = (𝐸1 + 𝐸2 )2
En prenant la moyenne temporelle de 𝑆 , l’intensité 𝐼 de la lumière en 𝑃 peut
être obtenue sous la forme :

𝐼 = ⟨𝑆⟩𝑡 ∝ ⟨(𝐸1 + 𝐸2 )2 ⟩𝑡 (4.9)

Supposons que les ondes émergeant des fentes soient des ondes planes
sinusoïdales cohérentes. On donne, respectivement, les composantes du champ
électrique des ondes issues des fentes 𝑆1 et 𝑆2 en 𝑃 :

𝐸1 = 𝐸 𝑜 sin 𝜔𝑡 et 𝐸2 = 𝐸 𝑜 sin(𝜔𝑡 + 𝜑) (4.10)

où les ondes des deux fentes sont supposées avoir la même amplitude 𝐸 𝑜 .

Pour simplifier, nous avons choisi le point 𝑃 comme origine, de sorte que la
dépendance de 𝑘𝑥 dans la fonction d’onde soit éliminée.

Étant donné que l’onde issue de la fente 𝑆2 a parcouru une distance supplé-
mentaire 𝛿 à 𝑃 , 𝐸2 présente un déphasage supplémentaire par rapport à 𝐸1
issu de la fente 𝑆1 .

Pour une interférence constructive, une différence de trajet de 𝛿 = 𝜆 corre-

spondrait à un déphasage de 𝜑 = 2𝜋. Cela implique alors :

𝛿 𝜑 2𝜋𝛿 2𝜋
= et 𝜑= = 𝑑 sin 𝜃 (4.11)
𝜆 2𝜋 𝜆 𝜆
En supposant que les deux champs pointent dans la même direction, le champ
électrique total peut être obtenu en utilisant le principe de superposition :
𝜑 𝜑 
𝐸 = 𝐸1 + 𝐸2 = 2𝐸 𝑜 cos sin 𝜔𝑡 + (4.12)
2 2
L’intensité 𝐼 est proportionnelle à la moyenne temporelle du carré du champ
électrique total :
𝜑 𝜑
𝐼 ∝ ⟨𝐸 ⟩𝑡 = 2
2𝐸 2𝑜 cos 2
= 𝐼 𝑜 cos 2
(4.13)
2 2
où 𝐼 𝑜 est l’intensité maximale à l’écran. En substituant l’équation (4.11),
l’expression ci-dessus devient :
𝜋  
2𝜋
 
𝐼 = 𝐼 𝑜 cos 2
𝑑 sin 𝜃 = 𝐼 𝑜 1 + cos 𝑑 sin 𝜃 (4.14)
𝜆 𝜆
 4 Interférences et diffraction 7

𝐼/𝐼0

𝑑
sin 𝜃
𝜆
Figure 4.10: Intensité en fonction de 𝑑 sin 𝜃/𝜆.
Pour des petits angles 𝜃 , l’intensité peut s’écrire :

2𝜋 𝑦𝑑
  
𝐼 = 𝐼𝑜 1 + cos (4.15)
𝜆 𝐿

4.2 Propriétés d’ondes : Diffraction lumineuse

4.2.1 Définition
𝑆1
La diffraction lumineuse est toute déviation de la lumière lorsqu’elle rencontre
un obstacle (bord d’écran par exemple) ou lorsqu’elle traverse une ouverture
ou un diaphragme, en dehors de l’approximation de l’optique géométrique.

Le phénomène de diffraction peut être expliquer grâce au principe de Huygens 𝑆2

selon lequel chaque point atteint par la lumière, constitue une source d’ondes
sphériques secondaires.

Selon le principe de Huygens, les ondes lumineuses incidentes sur deux fentes
s’étalent et présentent un motif de brouillage dans la région située au-delà Figure 4.11: Dispersion de lumière conduisant à un motif
(en aval) (Figure 4.11). Le motif s’appelle un motif de diffraction. de diffraction.

D’autre part, si aucune déviation ne se produit et que l’onde lumineuse

continue de se déplacer en ligne droite, aucun diagramme de diffraction ne
sera observé (Figure 4.12).

Nous nous limiterons à un cas particulier de diffraction appelé diffraction

de Fraunhofer. Dans ce cas, tous les rayons lumineux qui sortent de la fente
sont approximativement parallèles les uns aux autres. Pour qu’un motif de
diffraction apparaisse à l’écran, une lentille convexe est placée entre la fente et 𝑆1
l’écran pour assurer la convergence des rayons lumineux.

4.2.2 Diffraction par une fente

𝑆2
Dans notre examen des expériences de Young à double fente, nous avons
supposé que la largeur des fentes était si petite que chaque fente était une
source ponctuelle. Dans cette section, nous prendrons la largeur de la fente
comme finie et verrons comment se produit la diffraction de Fraunhofer. Figure 4.12: Absence de diagramme de diffraction si les
trajets de l’onde lumineuse sont des lignes droites.
 4 Interférences et diffraction 8

Lissez une source de lumière monochromatique sur une fente de largeur finie
𝑎 , comme illustré à la Figure 4.13
Dans la diffraction de type Fraunhofer (observation à l’infini), tous les rayons
traversant la fente sont approximativement parallèles. De plus, chaque partie
de la fente servira de source d’ondes lumineuses selon le principe de Huygens.
Pour simplifier, nous divisons la fente en deux moitiés. Au premier minimum,
chaque rayon de la moitié supérieure sera déphasé de 180𝑜 avec un rayon
correspondant de la moitié inférieure. Par exemple, supposons qu’il existe
100 sources ponctuelles, les 50 premières étant dans la moitié inférieure et les
51 à 100 dans la moitié supérieure. La source 1 et la source 51 sont séparées
𝜆
d’une distance 𝑎/2 et sont déphasées avec une différence de trajet 𝛿 = . Une
2
observation similaire s’applique aux sources 2 et 52, ainsi qu’à toute paire
distante de 𝑎/2. Ainsi, la condition pour le premier minimum est :

𝑎 𝜆
sin 𝜃 = (4.16)
2 2
𝜆
ou sin 𝜃 = (4.17) •
𝑎 𝑎
•
•
•
En appliquant le même raisonnement aux fronts d’ondes à partir de quatre 2 •
• 𝜃
points également espacés d’une distance 𝑎/4, la différence de trajectoire serait •
𝑎 •
de 𝛿 = sin 𝜃 , et la condition pour une interférence destructive est : •
4 •
𝑎 •
•
2𝜆 2 •
ou sin 𝜃 = (4.18) •
𝑎 •
• 𝑎
sin 𝜃
L’argument peut être généralisé pour montrer qu’une interférence destructive 2
se produira lorsque :
Figure 4.13: Diffraction de la lumière par une fente de
largeur 𝑎 , éclairée sous incidence normale.
𝑎 sin 𝜃 = 𝑚𝜆, 𝑚 = ±1, ±2, ±3, ...(interférence distructive) (4.19)

La Figure 4.14 illustre la distribution d’intensité pour une diffraction à une

seule fente. Notez que 𝜃 = 0 est un maximum.

arcsin 𝜃 = sin−1 𝜃

2𝜆/2

𝜆/𝑎

𝑎 𝜃 Figure 4.14: Distribution d’intensité pour une diffraction

𝑂
à une seule fente.

−𝜆/2

−2𝜆/2
𝐿
 4 Interférences et diffraction 9

En comparant (4.19) avec (4.4), nous voyons que la condition pour les
minima d’une diffraction par une seule fente devient la condition pour
les maxima d’une interférence à double fente lorsque la largeur d’une
seule fente 𝑎 est remplacée par la distance 𝑎 séparant les deux fentes.
La raison en est que dans le cas de la double fente, les fentes sont
considérées comme étant si petites que chacune d’elles est considérée
comme une source lumineuse unique, et l’onde résultante provenant
de la même fente peut être négligé. D’autre part, la condition minimale
pour la diffraction à une seule fente est obtenue précisément en prenant
en compte l’interférence des ondes provenant de la même fente.

4.2.3 Intensité de la diffraction par une fente

Comment déterminer la distribution d’intensité pour le motif produit par

une diffraction à une seule fente? Pour calculer cela, nous devons trouver le
champ électrique total en additionnant les contributions du champ de chaque
point.

Divisons la fente simple en 𝑁 petites zones chacune de largeur Δ𝑦 = 𝑎/𝑁 ,

comme illustré à la Figure 4.15. La lentille convexe est utilisée pour amener des
rayons de lumière parallèles à un point focal 𝑃 sur l’écran. Nous supposerons
que Δ𝑦 ≪ 𝜆 de sorte que toute la lumière d’une zone donnée soit en phase.
Deux zones adjacentes ont une longueur de chemin relative 𝛿 = Δ𝑦 sin 𝜃 . Le
déphasage relatif Δ𝛽 est donné par le rapport :

Δ𝛽 𝛿 Δ𝑦 sin 𝜃 2𝜋
= = ⇒ 𝛿= Δ𝑦 sin 𝜃 (4.20)
2𝜋 𝜆 𝜆 𝜆

écran
dans le plan focal
fente fine d’épaisseur 𝑎 image de L

•
• 𝑃
Δ𝑦 •
•
•
• 𝜃
lumière •
monochromatique
𝑎 •
•
•
•
• Δ𝑦 sin 𝜃
•
•
•
•

lentille mince
convergente
L
 Figure 4.15: Diffraction de Fraunhofer par une fente.

4 Interférences et diffraction 10

Supposons que le front d’onde du premier point (en partant du haut) arrive
au point 𝑃 de l’écran avec un champ électrique donné par :

𝐸1 = 𝐸1𝑜 sin 𝜔𝑡 (4.21)

Le champ électrique du point 2 adjacent au point 1 aura un déphasage 𝛽 , et le

champ est :

𝐸2 = 𝐸1𝑜 sin(𝜔𝑡 + Δ𝛽) (4.22)

Puisque chaque composant successif a le même déphasage par rapport au

précédent, le champ électrique du point

𝐸 𝑁 = 𝐸1𝑜 sin [𝜔𝑡 + (𝑁 − 1)Δ𝛽] (4.23)

Le champ électrique total est la somme de chaque contribution individuelle

:

𝐸 = 𝐸1 + 𝐸2 + ... + 𝐸 𝑁 = 𝐸1𝑜 [sin 𝜔𝑡 + sin(𝜔𝑡 + Δ𝛽) + ... + sin [𝜔𝑡 + (𝑁 − 1)Δ𝛽]]

(4.24)

Notez que le déphasage total entre le point 𝑁 et le point 1 est :

2𝜋 2𝜋
𝛽 = 𝑁Δ𝛽 = 𝑁Δ𝑦 sin 𝜃 = 𝑎 sin 𝜃 (4.25)
𝜆 𝜆
où 𝑁Δ𝑦 = 𝑎 . On considère :

cos(𝜔𝑡 − Δ𝛽/2) − 𝑐𝑜𝑠(𝜔𝑡 + Δ𝛽/2) = 2 sin 𝜔𝑡 sin(Δ𝛽/2) (4.26)

cos(𝜔𝑡 + Δ𝛽/2) − 𝑐𝑜𝑠(𝜔𝑡 + 3Δ𝛽/2) = 2 sin(𝜔𝑡 + Δ𝛽) sin(Δ𝛽/2)
cos(𝜔𝑡 + 3Δ𝛽/2) − 𝑐𝑜𝑠(𝜔𝑡 + 5Δ𝛽/2) = 2 sin(𝜔𝑡 + 2Δ𝛽) sin(Δ𝛽/2)
...
cos(𝜔𝑡 + (𝑁 − 3/2)Δ𝛽/2) − 𝑐𝑜𝑠(𝜔𝑡 + (𝑁 − 1/2)Δ𝛽/2) = 2 sin(𝜔𝑡 + (𝑁 − 1)Δ𝛽) sin(Δ𝛽/2)

Ajouter les termes et noter que l’annulation de tous les termes sauf deux
entraîne :
     
Δ𝛽 1 Δ𝛽
cos 𝜔𝑡 − − cos 𝜔𝑡 + 𝑁 −
2 2 2
 
Δ𝛽
= 2 sin [sin 𝜔𝑡 + sin(𝜔𝑡 + Δ𝛽) + ... + sin(𝜔𝑡 + (𝑁 − 1(4.27)
)Δ𝛽)]
2

D’autre part, les deux termes à gauche se combinent pour donner :

         
Δ𝛽 1 Δ𝛽 Δ𝛽 Δ𝛽
cos 𝜔𝑡 − −cos 𝜔𝑡 + 𝑁 − = 2 sin 𝑁 sin 𝜔𝑡 + (𝑁 − 1)
2 2 2 2 2
 4 Interférences et diffraction 11

Avec ce résultat et l’équation (4.27), on peut écrire que :

   
Δ𝛽 Δ𝛽
sin 𝑁 sin 𝜔𝑡 + (𝑁 − 1)
2 2
sin 𝜔𝑡 + sin(𝜔𝑡 + Δ𝛽) + ... + sin(𝜔𝑡 + (𝑁 − 1)Δ𝛽) =   (4.28)
Δ𝛽
sin
2

Le champ électrique total devient alors :

 
Δ𝛽
sin 𝑁  
2 Δ𝛽
𝐸 = 𝐸1 𝑜   sin 𝜔𝑡 + (𝑁 − 1)
Δ𝛽 2
sin
2

L’intensité 𝐼 est proportionnelle à la moyenne temporelle de 𝐸 2 :

 2  2   2
𝛽 
 
Δ𝛽  Δ𝛽 
 sin 𝑁  sin 𝑁
  
sin
𝐸12𝑜 𝐸1 𝑜
2 
    
2  Δ𝛽 2 2 
𝐼 = 𝐸12𝑜 𝜔𝑡
 2
  
    ⟨sin + (𝑁 − 1 ) ⟩ 𝑡 =     =    
 sin Δ𝛽 
  2 2 
 sin Δ𝛽  2  sin Δ𝛽 

2 2 2 
     
    
  2
 𝛽 
sin
𝐸1 𝑜 
2  
2 
=  
𝛽 

2 
 sin
2𝑁 


  2
 𝛽 
 sin
𝛽 𝛽
  
2 
𝐼 = 𝑁 2 𝐸12𝑜

dans la limite oùΔ𝛽 −→ 0 sin ∼ ⇒  𝛽 
 
2𝑁 2𝑁  
 2 
 
où le facteur supplémentaire 𝑁 2 𝐸12𝑜 = 𝐼 𝑜 qui correspond à l’intensité au
maximum central : 𝛽 = 0 (pour 𝜃 = 0). Soit :
  2
 𝛽  𝜋  2
 sin   sin 𝑎 sin 𝜃 

2  𝜆
𝐼 = 𝐼𝑜   = 𝐼𝑜
  
 𝜋
𝛽
 
𝑎 𝜃

  
 𝜆 sin 

 2   
 
 4 Interférences et diffraction 12

𝐼/𝐼0

Figure 4.16: Intensité du diagramme de diffraction de

Fraunhofer à une seule fente.

On voit que la condition d’intensité minimale

est :
𝜋
𝑎 sin 𝜃 = 𝑚𝜋 𝑚 = ±1 , ±2 , ±3, ...
𝜆
ou

𝜋𝑎 𝜆
sin 𝜃 sin 𝜃 = 𝑚 𝑚 = ±1 , ±2 , ±3, ...
−4𝜋 −3𝜋 −2𝜋 −1𝜋 1𝜋 2𝜋 3𝜋 4𝜋 𝜆 𝑎

Sur la Figure 4.17, l’intensité 𝐼 est tracée en fonction de l’angle 𝜃 , pour 𝑎 = 𝜆

𝑎
et 𝑎 = 2𝜆. Nous voyons que lorsque le rapport augmente, le pic devient
𝜆
plus étroit et plus de lumière se concentre dans le pic central. Dans ce cas, la
variation de 𝐼 𝑜 avec la largeur a n’est pas montrée.

Le phénomène de diffraction se produit avec toutes les ondes dans la

mesure ou la fente ( ou l’obstacle ) possède les dimensions du même
ordre de grandeur que la longueur d’onde. Diffraction des ondes
sonores par une porte ou une fenêtre ; diffraction de la houle à l’entrée Figure 4.17: Intensité de la diffraction à une seule fente
en fonction de 𝜃 pour 𝑎 = 𝜆 et 𝑎 = 2𝜆.
d’un port.

4.2.4 Intensité des diagrammes de diffraction à double fente

Dans les sections précédentes, nous avons vu que les intensités de la diffraction
à une seule fente et d’interférence de double fente sont données par :

diffraction à une seule fente

𝜋  2
interférence à double fentes
 sin 𝑎 sin 𝜃 

𝐼 = 𝐼𝑜  𝜋 𝜆
 


 𝜆 𝑎 sin 𝜃   
2𝜋

𝐼 = 𝐼𝑜 𝑑 sin 𝜃

1 + cos
𝜆
 

× =
 4 Interférences et diffraction 13

Supposons que nous ayons maintenant deux fentes, chacune ayant une largeur
𝑎 et séparées par une distance 𝑎 .
Le motif d’interférence résultant pour la double fente comprendra également
un motif de diffraction dû à la fente individuelle. L’intensité du motif total est
simplement le produit des deux fonctions :

𝜋  2
 sin 𝑎 sin 𝜃  

2𝜋
 
𝐼 = 𝐼𝑜  𝜋 𝜆 𝑑 sin 𝜃
 1 + cos (4.29)
 
 𝑎 sin 𝜃  𝜆
 𝜆 
 

Les premier et deuxième termes de l’équation ci-dessus sont appelés respec-

tivement «facteur d’interférence» et «facteur de diffraction». Tandis que le
premier fournit la sous-structure d’interférence, le dernier agit comme une
enveloppe qui limite le nombre de pics d’interférence (voir la Figure 4.18).

sous-structure
interférentielle

enveloppe de diffraction
par l’une des fentes

écart déterminé par la largeur

de la fente 𝑎
−2𝜋 −1𝜋 1𝜋 2𝜋
𝜋𝑎
sin 𝜃
𝜆 Figure 4.18: Interférence en double fente avec diffraction.

écart déterminé par la séparation

𝑑 entre les fentes (interfrange)

Nous avons vu que les maxima d’interférence se produisent lorsque 𝑑 sin 𝜃 =

𝑚𝜆.
D’autre part, la condition pour le premier minimum de diffraction est un
sin 𝜃 = 𝜆. Ainsi, un maximum d’interférence particulier avec le numéro
d’ordre 𝑚 peut coïncider avec le premier minimum de diffraction. La valeur
de 𝑚 peut être obtenue comme suit :

𝑑 sin 𝜃 𝑚𝜆 𝑑
= ou 𝑚=
𝑎 sin 𝜃 𝜆 𝑎

Comme la 𝑚 ème frange n’est pas visible, le nombre de franges de part et

d’autre de la frange centrale est de (𝑚 − 1). Ainsi, le nombre total de franges
 4 Interférences et diffraction 14

dans le maximum de diffraction centrale est :

𝑁 = 2(𝑚 + 1) + 1 = 2𝑚 − 1 (4.30)