Cours de propriétés de la matière condensée : EC1
CHAPITRE 7 : NOTION DE
RADIOCRISTALLOGRAPHIE
Compétence attendue :
- Comprendre la nature et les propriétés des rayons X ainsi que leurs modes de
production et leurs interactions avec la matière ;
- Expliquer le phénomène de diffraction des rayons X par les cristaux, en s’appuyant
notamment sur la loi de Bragg ;
- Décrire l’approche théorique de la diffraction cristalline, en utilisant les équations de
Laue, le réseau réciproque et la construction d’Ewald ;
- Analyser le rôle du facteur de structure ;
- Identifier et interpréter les principales méthodes expérimentales de diffraction.
I. Introduction
La compréhension des propriétés de la matière condensée repose sur l’étude de la structure
cristalline des solides, car l’organisation des atomes détermine leurs propriétés physiques.
Cependant, les distances interatomiques étant extrêmement faibles, leur observation directe est
impossible avec des moyens optiques classiques. La radiocristallographie offre une solution en
utilisant les rayons X, dont la longueur d’onde est comparable à ces distances. Lorsqu’ils
interagissent avec un cristal, ces rayons produisent des phénomènes de diffraction exploitables.
L’analyse des figures obtenues permet ainsi de déterminer la structure interne des matériaux.
Ce chapitre présente les principes fondamentaux, les conditions de diffraction et les méthodes
associées à cette technique.
II. Les rayons X
1. Nature des rayons X
Les rayons X sont des ondes électromagnétiques appartenant au même ensemble que la lumière
visible, les ondes radio ou les rayons gamma. Leur particularité réside dans leur très courte
longueur d’onde, comprise approximativement entre 0.01𝑛𝑚 et 10𝑛𝑚, ce qui correspond à des
énergies élevées. Les longueurs d’onde des rayons X étant du même ordre de grandeur que les
distances interatomiques dans les cristaux, permettent la diffraction des rayons X par les réseaux
cristallins et l’étude de la structure atomique des solides.
2. Sources des rayons X
La production des rayons X nécessite des dispositifs capables de générer des photons de haute
énergie. Les sources de rayons X se classent
principalement en sources de laboratoire et
grandes installations offrant des faisceaux très
intenses et contrôlés. En laboratoire, le tube de
Coolidge est le plus utilisé. Il est contitué d’une
cathode (filament chauffé), une anode (cible
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métallique, souvent en cuivre, molybdène ou tungstène), une enceinte sous vide (évite les
collisions avec l’air) et une différence de potentiel élevée (quelques kV à centaines de kV). Ici,
le filament est chauffé et produit des électrons qui sont accélérés vers l’anode par une haute
tension. Lorsque ces électrons frappent l’anode, leur énergie est convertie en rayon X.
3. Interaction des rayons X – matière
L’interaction des rayons X avec la matière est au cœur de la radiocristallographie. Lorsqu’un
faisceau de rayons X rencontre un matériau, plusieurs phénomènes physiques peuvent se
produire. Il peut être :
- Diffusé sans perte d’énergie (diffusion élastique). C’est-à-dire déviés de leur trajectoire
initiale sans perte d’énergie.
- Diffusé avec perte d’énergie (diffusion inélastique).
- Absorbé par l’atome (effet photoélectrique).
NB : La diffusion est un phénomène de transport irréversible par lequel des particules (atomes,
ions, molécules, ou lacunes) se déplacent au sein d'un milieu condensé (solide ou liquide) sous
l'effet de l'agitation thermique.
III. Réflexion sur une famille de plans réticulaires
1. La formule de Bragg
La loi de Bragg décrit la condition géométrique nécessaire pour que les rayons X diffusés par
les plans atomiques d’un cristal interfèrent constructivement et produisent un maximum de
diffraction.
Considérons un cristal constitué de plans parallèles
espacés d’une distance 𝑑ℎ𝑘𝑙 . Lorsque des rayons 𝑋 de
longueur d’onde 𝜆 frappent ces plans sous un angle
d’incidence 𝜃, les ondes diffusées par les atomes situés
sur des plans différents peuvent se superposer. Si la
différence de trajet entre ces ondes est un multiple entier
de la longueur d’onde, l’interférence est constructive et
un pic de diffraction est observé.
Le rayon réfléchi par le plan inférieur parcourt une distance supplémentaire par rapport à celui
réfléchi par le plan supérieur. Cette différence de marche est égale à : 𝛿 = 𝐶𝐵 + 𝐵𝐷
𝛿 = 𝐶𝐵 + 𝐵𝐷 𝑜𝑟 𝐶𝐵 = 𝐵𝐷 = 𝑑 sin 𝜃 ⟹ 𝛿 = 2𝑑 sin 𝜃
Pour que les ondes interfèrent de manière constructive, cette différence de marche doit être un
multiple entier 𝑛 de la longueur d'onde 𝜆. D’où :
2𝑑 sin 𝜃 = 𝑛𝜆
Cette relation traduit la notion d’interférence constructive. 𝑛 ∈ ℕ, signifit qu’il existe des
valeurs permises de 𝜃, d’où le faisceau est reflété vers une direction bien précise.
2. Remarques sur la formule de Bragg
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- Toute réflexion sur les plans réticulaires d’écartement 𝑑 est conditionnée par l’existence
d’un angle 𝜃 qui vérifie la relation 𝑠𝑖𝑛𝜃 ≤ 1 donc 𝜆 ≤ 2𝑑. Cette relation est appelé
condition de résolution et traduit le fait que, pour qu’un faisceau puisse explorer le
cristal, il faudra que la longueur d’onde respecte cette condition.
- Le nombre 𝑛 qui est un entier positif est appelé ordre de diffraction. Le premier ordre
c’est-à-dire 𝑛 = 1 est le plus utilisé. Les ordres supérieurs existent mais sont souvent
plus faibles.
3. Relations de Laue
Les relations de Laue décrivent les conditions de diffraction des rayons X par un cristal en
utilisant une approche vectorielle fondée sur la périodicité du réseau cristallin : elles expriment
que la différence entre le vecteur d’onde diffusé 𝑘 ⃗ et le vecteur d’onde incident 𝑘 ⃗ ′ appelée
vecteur de diffusion, doit être égale à un vecteur du réseau réciproque, ce qui se traduit par
l’équation :
⃗ −𝑘
𝑎 ∙ (𝑘 ⃗ ′ ) = 2𝜋ℎ 𝑏⃗ ∙ (𝑘
⃗ −𝑘 ⃗ ′ ) = 2𝜋𝑘 𝑐 ∙ (𝑘 ⃗ −𝑘 ⃗ ′ ) = 2𝜋𝑙
Avec 𝑎, 𝑏⃗ et 𝑐 les vecteurs de base du réseau cristallin (réseau direct) ; les entiers ℎ, 𝑘, 𝑙 sont les
indices de Miller.
Physiquement, ces relations signifient que les ondes diffusées par les différents atomes du
cristal interfèrent de manière constructive uniquement dans certaines directions bien définies,
correspondant à des différences de phase multiples de 2𝜋, ce qui explique l’apparition de taches
de diffraction ; cette formulation est équivalente à la loi de Bragg mais plus générale, car elle
repose sur le concept de réseau réciproque qui permet de représenter simplement toutes les
directions possibles de diffraction et constitue un outil fondamental pour l’étude de la structure
cristalline, l’identification des matériaux et l’analyse des propriétés microscopiques des solides.
Exercice 1 : établir à partir de de la condition de diffraction de Laue ∆𝑘 ⃗ =𝑘⃗ −𝑘⃗′=𝐿 ⃗ ∗ avec
⃗ ∗ = ℎ𝑎∗ + 𝑘𝑏⃗ ∗ + 𝑙𝑐 ∗ , la formule de Bragg.
𝐿
IV. Facteur de structure
Le facteur de structure est une notion centrale en physique du solide, en cristallographie et en
diffraction des rayons X. Il permet de décrire comment les atomes d’un cristal diffusent une
onde incidente.
1. Définition du facteur de structure
Le facteur de structure 𝐹(ℎ𝑘𝑙) est une grandeur complexe qui caractérise l’intensité et la phase
de l’onde diffractée par un cristal pour un plan réticulaire donné (ℎ𝑘𝑙). Il dépend :
- De la position des atomes dans la maille ;
- De leur nature chimique ;
- Du type de rayonnement utilisé
Le facteur de structure est donné mathématiquement par :
𝑁
𝐹(ℎ𝑘𝑙) = ∑ 𝑓𝑗 𝑒 −𝑖2𝜋(ℎ𝑥𝑗+𝑘𝑦𝑗+𝑙𝑧𝑗 )
𝑗=1
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𝑁 représente le nombre d’atomes dans la maille ; 𝑓𝑗 le facteur de forme de l’atome 𝑗 ; 𝑥𝑗 , 𝑦𝑗 , 𝑧𝑗
sont les coordonnées fractionnaires de l’atome 𝑗 et (ℎ, 𝑘, 𝑙) les indices de Miller.
2. Propriétés du facteur de structure
- Le facteur de structure dépend de l’origine choisie mais son module n’en dépend pas.
- L’intensité du faisceau diffracté est proportionnel à 𝐹𝐹 ∗
- Pour qu’une onde soit effectivement diffractée il faut que les deux conditions suivantes
soient vérifiées :
⃗ =𝑘
𝑘 ⃗′+𝐿 ⃗∗
|𝐹(ℎ𝑘𝑙)| ≠ 0
- Le facteur de structure peut supprimer certaines réflexions autorisées par le réseau. On
constate alors des réflexions manquantes qui peuvent aider à identifier rapidement la
structure correspondante.
V. Quelques exemples de calcul de facteurs de structure
1. Le réseau cubique centré
Le réseau cubique centré (CC) est en réalité un réseau cubique simple où tous les atomes jouent
le même rôle. La maille CC comprend deux nœuds : un atome au sommet de coordonnée (0,0,0)
1 1 1
et un atome au centre de coordonnée (2 , 2 , 2).
𝑥1 = 𝑥1 = 𝑥1 = 0 𝐹1(ℎ𝑘𝑙) = 𝑓1 𝑒 −𝑖0 𝐹1(ℎ𝑘𝑙) = 𝑓1
1 ⟹ ℎ 𝑘 𝑙 ⟹
𝑥2 = 𝑥2 = 𝑥2 = 𝐹2(ℎ𝑘𝑙) = 𝑓2 (𝑒 −𝑖2𝜋(2+2+2) ) 𝐹2(ℎ𝑘𝑙) = 𝑓2 (𝑒 −𝑖𝜋(ℎ+𝑘+𝑙) )
2
𝐹ℎ𝑘𝑙 = (𝑓1 + 𝑓2 (𝑒 −𝑖𝜋(ℎ+𝑘+𝑙) )) ⟹ 𝐹ℎ𝑘𝑙 = (𝑓1 + 𝑓2 cos(ℎ + 𝑘 + 𝑙))
𝐹ℎ𝑘𝑙 = 0 𝑠𝑖 (ℎ + 𝑘 + 𝑙) 𝑖𝑚𝑝𝑎𝑖𝑟𝑒
𝐹ℎ𝑘𝑙 = 𝑓(1 + cos(ℎ + 𝑘 + 𝑙)) 𝑐𝑎𝑟 𝑓1 = 𝑓2 𝑑′𝑜ù
𝐹ℎ𝑘𝑙 = 2𝑓 𝑠𝑖 (ℎ + 𝑘 + 𝑙) 𝑝𝑎𝑖𝑟𝑒
2. Le réseau cubique à face centré
𝑎𝑡𝑜𝑚𝑒 1 (0,0,0)
1 1 1 1 1 1 ⟹ 𝐹ℎ𝑘𝑙 = 𝑓(1 + 𝑒 −𝑖𝜋(ℎ+𝑘) + 𝑒 −𝑖𝜋(ℎ+𝑙) + 𝑒 −𝑖𝜋(𝑘+𝑙) )
𝑎𝑡𝑜𝑚𝑒 2 ( , , 0) ; ( , 0, ) ; (0, , )
2 2 2 2 2 2
⟹ 𝐹ℎ𝑘𝑙 = 𝑓(1 + cos(ℎ + 𝑘) + cos(ℎ + 𝑙) + cos(𝑘 + 𝑙))
𝐹ℎ𝑘𝑙 = 4𝑓 𝑠𝑖 ℎ, 𝑘, 𝑙 𝑠𝑜𝑛𝑡 𝑡𝑜𝑢𝑠 𝑝𝑎𝑖𝑟𝑒𝑠 𝑜𝑢 𝑡𝑜𝑢𝑠 𝑖𝑚𝑝𝑎𝑖𝑟𝑒
⟹
𝐹ℎ𝑘𝑙 = 0 𝑠𝑖 ℎ, 𝑘, 𝑙 𝑠𝑜𝑛𝑡 𝑑𝑒 𝑝𝑎𝑟𝑖𝑡é 𝑚𝑖𝑥𝑡𝑒
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