Structure et Propriétés

des Matériaux

Diffraction des Rayons X

Loi de Bragg – Facteur de Structure

Dr Bruno DANDOGBESSI

9 juin 2026
Plan

1 Détermination des Structures Cristallines

2 Diffraction des Rayons X par les Solides

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Introduction

Les cristaux dévient les rayons X dans certaines directions caractéristiques

(phénomène de diffraction). L’image de diffraction (ou spectre de
diffraction), imprimée sur un film ou analysée par un détecteur, est une
propriété fondamentale du cristal. Elle permet de :

▶ Identifier le cristal par comparaison avec des spectres de référence

(méthode d’analyse non destructive) ;
▶ Reconnaître la symétrie et les dimensions de la maille élémentaire ;
▶ Déterminer la structure : positions des atomes dans la maille ;
▶ Analyser la densité électronique dans la maille cristalline.

Le comportement des cristaux contraste avec celui des solides

amorphes, liquides ou gaz. Ces phases donnent lieu à une diffusion
continue (pas de pics discrets).

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Interactions Rayons X / Matière

Types d’interactions
• Transmission sans déviation : radiographie X (détection de
porosités et fissures).
• Diffusion élastique : à l’origine de la diffraction des
rayons X.
• Diffusion inélastique : effet Compton (cession d’énergie à un
électron).
• Absorption (effet photoélectrique) : éjection d’un électron, puis
émission de rayonnement de fluorescence X utilisé pour
l’analyse chimique.

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Production des Rayons X (1)

Les rayons X sont des radiations électromagnétiques de longueur d’onde

∼ 1 Å. Ils sont produits dans des tubes à vide : un faisceau d’électrons
accéléré par une différence de potentiel frappe une anode métallique.
ch
λ≥
eV

électrons (eV ) X
Cathode

Anode
V (différence de potentiel)

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Production des Rayons X (2) : règles de transition
État électronique décrit par n, l, m, s.
Règles de sélection :
∆n ≥ 1, ∆l = ±1, ∆j = ±1 ou 0
Exemple : S → S (∆l = 0) est non permise ; P → S (∆l = 1) est
permise.
M (n=3)

L (n=2) Kβ (permise)
hν Kα (permise)
K (n=1)

La diffraction des électrons et des neutrons donne des informations

complémentaires à la DRX.

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Absorption des Rayons X

Loi de Lambert–Beer

dI = −µ I dx =⇒ I = I0 e −µx
x

I0 I = I0 e −µx

dx

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Énergie des rayonnements diffractés

En 1912, M. Von Laue propose que les rayons X soient diffractés par les
cristaux.
ch
Rayons X : E = hν, λ = . Pour λ ≈ 1 Å, E ≈ 10 − 50 keV.
E
0, 28
Neutrons : λ(Å) ≈ p ⇒ pour λ ≈ 1 Å, En ≈ 0, 08 eV (neutrons
En (eV)
thermiques).

Les neutrons interagissent avec les électrons magnétiques (cristaux

magnétiques) et avec les noyaux (solides non magnétiques).

12
Électrons : λ(Å) ≈ p ⇒ Ee ≈ 150 eV, v ≈ 7 × 106 m/s.
Ee (eV)

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Diffraction des RX : Loi de Bragg

Loi de Bragg — Formule fondamentale

2d sin θ = nλ
d : distance interréticulaire θ : demi-angle de déviation
n ∈ N∗ : ordre λ : longueur d’onde

plan 3
θ θ
plan 2
d
plan 1
∆ = 2d sin θ

Les rayons X sont réfléchis sur les plans (hkl) comme sur des miroirs.
Pour avoir plus d’information on fait varier λ ou θ.
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Conditions de diffraction de Laue

Équations de Von Laue

⃗ =K
∆K ⃗′ − K
⃗ =R
⃗∗
hkl

⃗ · ⃗a = 2πh,
∆K ⃗ · ⃗b = 2πk,
∆K ⃗ · ⃗c = 2πl
∆K
⃗ ∗ = h⃗a∗ + k ⃗b ∗ + l⃗c ∗ est un vecteur du réseau réciproque.
où R

Ces équations associent chaque direction de diffraction à trois entiers

(h, k, l), caractéristiques d’une famille de plans réticulaires.

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Facteur de structure Fhkl

Facteur de structure
Amplitude diffusée par tout le cristal :
X  
A = Nae ⃗ ∗
fj exp i ⃗rj · Rhkl
j

où N = nombre de mailles, ae = amplitude diffusée par un élec-

tron, fj = facteur de diffusion atomique.

A X

Fhkl = = fj exp 2iπ(xj h + yj k + zj l)
Nae j

∗
L’intensité diffractée I ∝ |Fhkl |2 = Fhkl Fhkl .

La diffraction n’a lieu que lorsque les atomes d’une même famille
diffusent en phase. 11 / 24
Structures cubiques : cubique simple (P)

Z Une maille contient 1 atome (0,0,0).

Fhkl = f
Y
X Pas d’extinction systématique.

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Structures cubiques : cubique centrée (I)

Z 2 atomes : (0,0,0) et ( 12 , 12 , 12 ).

Fhkl = f 1 + e iπ(h+k+l)
 

Y h + k + l pair ⇒ Fhkl = 2f
X h + k + l impair ⇒ Fhkl = 0 (extinction)

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Structures cubiques : cubique à faces centrées (F)

4 atomes : (0,0,0), ( 12 , 12 , 0), (0, 12 , 12 ),

( 21 , 0, 12 ).
Z h i
Fhkl = f 1 + e iπ(h+k) + e iπ(k+l) + e iπ(h+l)

y Extinction si h, k, l de parité
X différente.
Diffraction si h, k, l tous pairs ou
tous impairs.

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Étude de la diffraction cristalline
hc
Distances interatomiques d ∼ 1 Å ⇒ énergie E = ≈ 12, 3 keV.
d
Deux approches équivalentes : Bragg (plans réticulaires) et von Laue
(réseau réciproque).
Énergie caractéristique des rayons X

hc
E = hω = ≈ 12, 3 keV
di

Autres rayonnements : neutrons, électrons (longueurs d’onde de de

Broglie).
Longueurs d’onde de de Broglie

0, 28 12
λn (Å) ≈ p , λe (Å) ≈ p
En (eV) Ee (eV)

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Méthodes d’observation

Méthode de Laue : monocristal immobile, faisceau

polychromatique.
Méthode du cristal tournant : monocristal tournant, faisceau
monochromatique.
Méthode des poudres (Debye-Scherrer, diffractomètre) :
échantillon polycristallin, faisceau monochromatique.

Laue Cristal tournant Poudres

Les clichés de diffraction (Laue, cristal tournant, poudre) permettent

d’identifier la symétrie et les paramètres de maille.

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Formulation de Bragg (conditions)

Conditions de Bragg
1. Les rayons X doivent être réfléchis comme par un miroir par
chaque plan.
2. Les rayons réfléchis par des plans successifs interfèrent
constructivement.

Loi de Bragg

2d sin θ = nλ

Il existe de nombreuses façons de décomposer le cristal en plans,

produisant de nouvelles réflexions.

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Formulation de von Laue

Le cristal est un réseau de Bravais d’objets diffusants.

⃗ · (⃗k − ⃗k ′ ) = 2πm pour tout R
Interférence constructive quand R ⃗ du
réseau.
Donc ⃗k − ⃗k ′ est un vecteur du réseau réciproque : ∆k
⃗ = G⃗ .

⃗k ′
G⃗
⃗k

∆⃗k = G⃗

Dans une réflexion, le cristal recule avec une quantité de mouvement −ℏG⃗ ,
assurant la conservation de la quantité de mouvement totale.

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Équivalence des formulations

Si ⃗k et ⃗k ′ satisfont la condition de Laue :

⃗ = G⃗ (h, k, l)
∆k
G⃗ (h, k, l) est perpendiculaire au plan (h, k, l)
k = k ′ = 2π/λ
⃗k et ⃗k ′ font le même angle θ avec le plan (h, k, l).
2πn
Or G = et G = 2k sin θ,
d
2πn
2k sin θ = =⇒ 2d sin θ = nλ.
d

Condition de Bragg

2d sin θ = nλ

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Construction d’Ewald

⃗ = G⃗ , avec k ′ = k.
Condition : ∆k
⃗k ′ = G⃗ + ⃗k ⇒ k 2 = G 2 + 2⃗k · G⃗ + k 2 ⇒ 2⃗k · G⃗ + G 2 = 0.

En remplaçant G⃗ par −G⃗ : 2⃗k · G⃗ = G 2 .

1⃗ 2
   
⃗ 1⃗
Soit k · G = G .
2 2

G sur sphère
⃗k ′ Sphère d’Ewald

⃗ = frontière zone de Brillouin

plan médiateur de G
O
⃗k Γ

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Amplitude diffusée (1) : particule chargée

k⃗r

⃗
∆k
2θ
k⃗i

1 + cos2 (2θ)
Intensité diffusée par unité d’angle solide : I = I0 rp2 .
r 2
1 + cos2 (2θ)
Facteur de Thomson : T (2θ) = rp .
2

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Diffusion par un atome et par un cristal

Atome : remplacer l’électron ponctuel par la densité de charge ρ(⃗r ).

p Z p
Aatome = I0 T (2θ) ρ(⃗r ) e 2iπ ∆k·⃗r dV = I0 f
atome

où f est le facteur de forme atomique (transformée de Fourier de ρ).

Cristal : répétition de mailles contenant plusieurs motifs.

p
⃗ L(∆k)
Acristal = I0 F (∆k) ⃗

⃗ = facteur de structure (contribution d’une maille), L(∆k)

avec F (∆k) ⃗ =
facteur de forme (lié à la taille du cristal).

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Facteur de structure

Définition du facteur de structure

n
X  
F (h, k, l) = fj exp −2iπ(hxj + kyj + lzj )
j=1
n : nombre d’atomes de la base ; fj : facteur de forme atomique.
(xj , yj , zj ) : coordonnées dans la maille ; (h, k, l) : indices de Miller.

F (h, k, l) est complexe ; l’intensité dépend de |F |2 . Les extinctions sys-

tématiques (F = 0) renseignent sur le mode du réseau (P, I, C, F).

Exemple cubique centré (Na) : F = fNa 1 + e −iπ(h+k+l) .

h + k + l pair ⇒ F = 2fNa
h + k + l impair ⇒ F = 0 (extinction)
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Réflexions permises : cubique centré

(110)(200)(211)(220)(310)(222)(321)

Seuls les plans avec h + k + l pair donnent une intensité non nulle.

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