CENTRO DE INVESTIGACIÓN

CIENTÍFICA DE ESTUDIOS
SUPERIORES DE ENSENADA
MAESTRÍA EN ÓPTICA

DEPARTAMENTO DE FÍSICA APLICADA:

LABORATORIO I

PRÁCTICA 5:
" Difracción."

Figura 1: Patrón de difracción de abertura en forma de marrano.

Presentado por:
Luis F. Dávila González
Dario G. Manghisi Ramírez
Luisa Fernanda Cely Ruiz
Jorge Andrés Montoya Cardona

Profesor de práctica:
Pedro Negrete Regagnon.

Ensenada, Baja California

Resumen

En el presente informe se plasma la construcción de un sistema óptico basado en la difracción

de Fraunhofer para un conjunto de aberturas. Se evidenció el correcto funcionamiento de un
sistema basado en 2f y 4f iluminado con un láser de He-Ne. A partir de los patrones de
difracción (caso 2f) y las imágenes de los objetos obtenidas mediante el sistema 4f se
evidenciaron conceptos como óptica de Fourier, campo lejano y campo cercano para las
aproximaciones de Fraunhofer y Fresnel que permitieron llegar a descripciones cualitativas
de los fenómenos presentados.

Objetivos
● Estudiar los patrones de difracción formados por objetos de importancia general en la
óptica de Fourier.
● Comparar el funcionamiento óptico de un sistema 2f con un 4f en cuanto a la
formación de imágenes.

Introducción

Cuando hablamos de difracción es correcto pensar en propagación, pues este fenómeno

ondulatorio ocurre cuando un frente de onda encuentra un obstáculo o una abertura, logrando
una desviación alrededor del frente de onda, logrando así un cambio de propagación. Es
como pensar que viene un conjunto de personas marchando al mismo tiempo y por un bache
uno se tropieza, logrando que al final del recorrido no lleguen al mismo tiempo. Pues
ejemplos tan sencillos como este nos da una idea de que la difracción puede estar presente en
diferentes fenómenos de la vida cotidiana, por ejemplo en los bordes de la sombra proyectada
por objetos sólidos o en las ondas secundarias que se forman cuando en un estanque se tienen
objetos que interrumpe la propagación de la onda. Dentro del contexto histórico que se
aborda en la difracción es importante enunciar las primeras afirmaciones sobre los fenómenos
ondulatorios, esto para el caso de Newton, el cual estaba en contra de la naturaleza
ondulatoria de la luz. Luego en 1678 Christian Huygens, propone que cada punto de un frente
de onda se puede ver como una fuente de ondas secundarias cuya envolvente representa un
frente de onda nueva, sin embargo, aproximadamente 100 años después Thomas Young
revolucionó el concepto de los comportamientos ondulatorios de la luz mediante su
experimento de la doble rendija, pues obtuvo un patrón de interferencia formado a partir de
un haz colimado de luz. No obstante, su experimento no quedó en vano y fue así como
Fresnel en 1818 explica el experimento de Young mediante el principio de Huygens,
logrando así el principio de Huygens-Fresnel, pero como toda teoría debe ser demostrada
mediante un principio matemático, en 1882 Gustav Kirchoff establece las bases matemáticas
de dicho principio.

Hoy en día la difracción se sigue explicando bajo el principio de Huygens-Fresnel y en esta

práctica se corrobora dicho principio mediante la difracción de Fraunhofer de campo lejano,
en donde se cambiarán diferentes objetos que al ser iluminados afectarán el patrón de
difracción.
Marco teórico

El significado físico de la interferencia y difracción pareciera ser análogo, púes si es posible

obtener un patrón de interferencia, tendremos también un patrón de difracción el cual ahora
dependerá de la distancia entre el objeto difractor y el punto de observación. Luego veremos
más a detalle, que al tener distancias largas en las que el frente de onda esférico se aproxima a
un frente de onda plano, el patrón de difracción se convierte en el patrón de campo lejano o
también conocido como patrón de Fraunhofer. Por otro lado, cuando el frente de onda se
puede aproximar a una parábola para zonas cercanas, esto se convierte en el patrón de
difracción de Fresnel o patrón de campo cercano.

Antes de describir estas dos aproximaciones, es importante mencionar que su construcción se

hace bajo óptica paraxial. Sin embargo, al tener distancias demasiado cercanas al objeto
difractor, es decir, inferiores a la longitud de onda los efectos percibidos no serán por
difracción de campo cercano, hablaremos de efectos por ondas evanescentes.

Difracción de campo lejano (Difracción de Fraunhofer)

En la aproximación de campo lejano ubicamos el plano de observación en el infinito lo cual,

provoca que la onda al propagarse por el medio, el frente de onda será paralelo al obstáculo,
es decir, un frente de onda plano.

Figura 2. Esquema plano objeto y plano de observación.

Para un punto en la posición x1 del objeto difractor se tendrá una distribución de intensidad,
en el plano de Fraunhofer, dada por:
2π𝑥1
−𝑖 λ𝑓
𝑥0
𝑎(𝑥1, 𝑥0) = 𝑎(𝑥1)𝑒 (1)

Donde 𝑎(𝑥1) es la transmitancia en amplitud del objeto difractor. El campo combinado de

todos los puntos del objeto estará dado entonces por:
 ∞ −𝑖
2π𝑥1
𝑥0
λ𝑓
𝑈(𝑥0) = 𝐶 ∫ 𝑎(𝑥1)𝑒 𝑑𝑥1 (2)
−∞
La ecuación a simple vista nos da una breve perspectiva de que se tiene una gran similitud
con la transformada de Fourier para una función 𝑓(𝑥).
∞
−𝑖2π𝑢𝑥
𝐹(𝑢) = ∫ 𝑓(𝑥)𝑒 𝑑𝑥 (3)
−∞
Por lo que la distribución de campo lejano puede ser calculada encontrando la transformada
de Fourier de la función 𝑓(𝑥) que será la función objeto y luego multiplicación el argumento
de la función resultante por 1/λ𝑓. De la siguiente forma:
𝑈(𝑥0) = 𝐹 ( )
𝑥0
λ𝑧
(4)
Esta relación facilita el cálculo del patrón de difracción, pero solo es aplicable como se
enunció inicialmente si se trabaja en la aproximación de Fraunhofer.

Sistema 2f y sistema 4f

El patrón de difracción en el régimen de Fraunhofer de un objeto se forma en el infinito, sin

embargo, para obtenerlo a una distancia finita se utiliza un arreglo óptico conocido como
sistema 2f en el cual una lente forma el patrón de difracción del objeto en su plano focal
(Figura 2(a)). Con esto, la distancia entre el plano objeto y el plano de Fourier es equivalente
a 2 veces la distancia focal de la lente, es decir 2f.

En un sistema 4f (Figura 2(b)) se recupera la imagen del objeto luego de posicionar una
nueva lente a la distancia focal de la misma desde el plano de Fourier, y la pantalla donde se
recupera el objeto está ubicada a 2 veces la distancia focal de la misma lente. Es decir, entre
el plano objeto inicial y el plano objeto final habrán 4 distancias focales, la diferencia o
similitud entre cada par depende del tipo de lentes que se elijan.

Figura 3. (a) Esquema de un sistema 2f (b) Esquema de un sistema 4f .

Difracción por una rendija

La geometría de difracción más sencilla de analizar será una ranura rectangular simple
(Figura 4) bajo la difracción de Fraunhofer. En esta geometría es posible obtener el patrón de
difracción de campo lejano usando la ecuación (4). Para esto es necesario considerar la
función de pupila y la geometría que se muestra en la figura (4):
𝑃𝑥(𝑥1) = 𝑟𝑒𝑐𝑡 ( )
𝑥1
𝑙𝑥
𝑃𝑦(𝑦1) = 𝑟𝑒𝑐𝑡 ( )
𝑦1
𝑙𝑦

El patrón de difracción de campo lejano será:

(𝑥 2 2
)
( ) ( )
𝑖𝑘
⎰ 𝑥 ⎱ ⎰ 𝑦1 ⎱ 𝑖𝑘𝑧 +𝑥2
( )
𝑈 𝑃𝑂 = ξ 𝐹 𝑟𝑒𝑐𝑡 𝑙 1 𝐹 𝑟𝑒𝑐𝑡
⎱ 𝑥 ⎰ ⎱ 𝑙𝑦 ⎰
Donde ξ =
𝑒
𝑖λ𝑧
𝑒
2𝑧 1

π𝑙𝑥𝑥𝑜 π𝑙𝑦𝑥𝑜
( )
𝑈 𝑃𝑂 = ξ𝑈𝑜𝑙𝑥𝑙𝑦𝑠𝑖𝑛𝑐(α)𝑠𝑖𝑛𝑐(β) (5) 𝐷𝑜𝑛𝑑𝑒 α = λ𝑧
β= λ𝑧

La irradiancia del patrón de difracción estará dada por el cuadrado de la ecuación (5), dando
como resultado:
𝑈𝑜 𝑠𝑖𝑛𝑐α 2 𝑠𝑖𝑛𝑐β 2 𝑈𝑜
( )
𝐼 𝑃𝑂 = λ𝑧 ( α )( β ) = λ𝑧
2
𝑠𝑖𝑛𝑐(β) 𝑠𝑖𝑛𝑐(α)
2
(6)
2
La función 𝑠𝑖𝑛𝑐(β) tiene mínimos cuando su argumento es igual a factores enteros de π, es
decir:
π𝑙𝑥𝑥𝑜 π𝑙𝑦𝑥𝑜
α= λ𝑧
= 𝑚π β = λ𝑧
= 𝑚π
Por lo tanto las posiciones de mínimo de irradiancia estarán en:
𝑚λ𝑧 𝑚λ𝑧
𝑥𝑚𝑖𝑛 = 𝑙𝑥
𝑦𝑚𝑖𝑛 = 𝑙𝑦

(a) (b)

Figura 4. Sistema de simulación del patrón (a) Esquema de un sistema 2f (b) Esquema de un sistema
4f .

Por lo tanto, teniendo en cuenta la distancia al primer mínimo (cuando m=1) se puede extraer
2
que 𝑙𝑥 y 𝑙𝑦 son inversas a la función 𝑠𝑖𝑛𝑐 , es decir, si el tamaño de la rendija aumenta el
tamaño del patrón de difracción disminuye como es el caso de la Figura 4 (b), luego al tener
una rendija muy pequeña el patrón de difracción aumenta para el caso de la Figura 4(a), esto
se debe a la propiedad del escalamiento acompañada del principio de la conservación de la
energía, pues un ensanchamiento en el dominio del tiempo genera una reducción en el
dominio de la frecuencia.

En la figura (5) podemos observar los diferentes órdenes de difracción, en donde cada orden
de difracción contiene todo el espectro de longitudes de onda de la onda [Link] cada
orden de difracción la longitud de onda mayor es la que sufre la mayor desviación. Por otro
lado, es posible diseñar una red de difracción para una longitud de onda específica, tal que la
mayor parte de la energía sea reflejada en el primer orden.

Figura 5. Representación de una red de difracción evidenciando los órdenes difractados. Donde n=0
corresponde a la transmisión directa de luz a través de la rejilla.

Desarrollo Experimental

Sistema 2f

Primeramente, el arreglo experimental con el cual se determinó el patrón de difracción de

Fraunhofer o en campo lejano, consiste de un haz láser He-Ne de λ = 632.8nm seguido de un
sistema colimador compuesto por un objetivo, un diafragma y una lente colimadora ubicada a
la distancia focal medida desde el diafragma f=13.5 cm, a 16 cm de esta lente se colocó el
plano objeto, a la distancia focal de 11.5 cm se puso una segunda lente y a esta misma
distancia focal se situó la cámara CCD, por lo que de esta manera se formó el sistema 2f,
como se muestra en la Figura 5.
 Figura 6. Montaje experimental del sistema 2f .
Sistema 4f
El montaje experimental utilizado en el sistema 4f es parecido al anterior mostrado en la
Figura 5 con la única diferencia de que se instaló un diafragma después de la segunda lente la
misma distancia focal, siendo este nuestro plano de Fourier, a 7.5 cm se colocó una tercera
lente y a otros 7.5 cm se situó de nuevo la cámara CCD con la intención de recuperar la
imagen a observar. Este montaje se observa en la Figura 6.

Figura 7. Montaje experimental del sistema 4f .

Resultados

En esta sección se presenta un análisis de los patrones de difracción obtenidos por las
diferentes aberturas utilizadas en la práctica. También, se presentarán resultados sobre el
procesamiento óptico que se puede hacer utilizando un montaje de difracción básico.

En cada una de las aberturas se siguió básicamente el mismo procedimiento. Se ilumina el

objeto con una onda plana, la cual se genera con un haz expandido y colimado previamente.
Finalmente, se toma una imagen por medio de una cámara CCD en cada uno de los puntos de
interés de los montajes 2F y 4F (focos de las lentes).

Obstáculo 1

Como primer objeto a iluminar se seleccionó una rendija sencilla, en el foco de la primera
lente pudimos observar la transformada de Fourier en intensidad de este obstáculo. En este
caso, la abertura se asemeja a una función rectángulo en una sola dirección, por lo tanto, se
evidencia una función Sinc. En la Figura 8(a) se puede observar el máximo central de dicha
función, así como los primeros mínimos de intensidad en los bordes de la imagen.

a) b) c)

Figura 8. Rendija simple. a) Patrón de difracción de Fraunhofer. b) Imagen de la rendija. c)

Imagen filtrada de la rendija (filtro pasa bajas).

Posteriormente se implementó el sistema 4f para así observar la transformada inversa de

Fourie del patrón de difracción, es decir, se espera recuperar la forma que la rendija
iluminada, como se ve en la figura 8(b). Para llegar a una imagen de la rendija más nítida se
implementó en el sistema óptico un diafragma en el foco del primer lente, de tal forma que
funcionará como un filtro pasabajas. Este diafragma deja la imagen al final del montaje 4F
sin altas frecuencias, lo que significa que tiene elimina los detalles muy finos como ruido y
problemas de borde.

Obstáculo 2

Al ver el patrón de difracción de una rejilla como la transformada de Fourier de la función de

transmitancia de la abertura podemos usar el teorema de convolución para entender el
resultado del experimento. Matemáticamente, la rejilla la vemos como la convolución de la
función rectángulo en X y en Y (una rendija cuadrada) con un peine de deltas, por lo que la
transformada de Fourier de la rejilla la podemos ver como la multiplicación de la
transformada de Fourier de la rendija, es decir, una función Sinc, con la transformada de
fourier del peine de deltas que es otro peine de deltas. La multiplicación anterior nos dará
como resultado un peine de deltas que está modulado por una función Sinc.
Experimentalmente logramos ver esto en el patrón de difracción mostrado en la Figura 9(a)
donde se logró percibir cómo los órdenes de difracción (las “deltas”) van disminuyendo en
intensidad hasta llegar al primer cero de la Sinc y luego vuelven a aparecer órdenes pero con
menos intensidad.

a) b) c)

Figura 9. Rejilla de amplitud. a) Patrón de difracción de Fraunhofer. b) Imagen de la rejilla.

c) Imagen filtrada de la rejilla (filtro pasa bajas).

En el sistema 4f para la rejilla pudimos ver el módulo cuadrado de la transformada inversa

del patrón de difracción, la cual es la misma función de la abertura (Figura 9(b)), es decir la
rejilla. Esta imagen se ve con ruido debido a las frecuencias altas que tiene el patrón de
difracción, las cuales se pueden dar debido a la iluminación que incide en la abertura, efectos
de borde, la polución del ambiente, entre otros. Una forma de limpiar la imagen es hacer un
filtro de pasa baja con un diafragma en el foco de la primera lente, obteniendo una imagen
como la mostrada en la Figura 9c.

Obstáculo 3
Otra abertura que seleccionamos fue una con forma de gato, en la Figura 10(a) se ve su
transformada de Fourier en intensidad (se nota en fuera de eje por mala alineación).

a) b) c)

Figura 10. Gato. a) Patrón de difracción de Fraunhofer. b) Imagen del gato. c) Imagen
filtrada del gato (filtro pasa bajas).
Por otra parte, las figuras 10 (b) y (c) muestran la abertura recuperada por el sistema 4F. En
este caso vemos la comparación de una imagen filtrada (derecha) y otra que no lo está. Cabe
destacar que la imagen reconstruida en este tipo de montajes está invertida con respecto a los
dos ejes transversales del sistema, esto se debe a la propagación de la luz y su paso por una
lente que la enfoca en un punto.

Obstáculo 4
Por último, se utilizó una abertura en forma de cerdo, la intensidad de su patrón de difracción
se puede observar en la Figura 11(a), en dicha figura podemos observar la simetría que tiene
la distribución de luz en el eje horizontal. Cabe destacar un par de puntos muy alejados del
centro, lo cual nos puede sugerir que la abertura utilizada contiene detalles a detallar. Por otro
lado, en la Figura 11(b), se puede ver el patrón de difracción de Fresnel para el cerdo, esto se
logró al sacar la cámara del punto focal, es decir al estar en un punto en donde el frente de
onda aún tiene forma parabólica.

a) b)

c) d)

Figura 11. Cerdo. a)Patrón de difracción de Fraunhofer. b)Patrón de difracción de Fresnel,

c)Imagen del cerdo. d) Imagen filtrada del cerdo.

Finalmente, hicimos un filtraje óptico con el fin de quitar las altas frecuencias y los resultados
de esto son las Figuras 11c y 11d. En las figuras no se ve completa la forma de la abertura
debido a el tamaño reducido de la CCD, pero se logra ver como si aparece la abertura y cómo
logra nitidez con el filtrado.
Conclusiones

● En este laboratorio vimos la ventaja que tiene un sistema 2f y 4f para poder evidenciar
y manipular el patrón de difracción de una abertura, esto con el fin de hacerle filtros a
diferentes imágenes generadas ópticamente.
● Es muy importante para el sistema usado trabajar en los focos de las lentes usadas,
para así tener campo lejano y poder usar difracción de Fraunhofer, en caso contrario
lo que saldrá es difracción de fresnel la cual es en campo cercano y con la cual no
podemos hacer mucho con este sistema.
● Se pudo afianzar el conocimiento teórico de difracción y de su relación con las
transformadas de Fourier.
● Para esta práctica es necesario tener en alineación todos los instrumentos ópticos a
usar, ya que, de lo contrario no se estarían llegando a los resultados correctos.
● Se demostró que el patrón de difracción formado en la pantalla de observación es
característico del objeto difractor y de la luz incidente, y que además, depende de la
forma y dimensiones del objeto y del campo con el que es iluminado.
● Se comprobó también que el patrón de difracción de Fraunhofer de un objeto, que
normalmente se formaría en el infinito, se puede trasladar al plano focal de una lente
utilizando un sistema 2f. Y que la imagen original se puede recuperar a partir de su
patrón de difracción utilizando un sistema 4f.

Bibliografía

1. Jewett, J. y Serway, R., Física para ciencias e ingeniería con Física Moderna, 7.a ed.;
Cengage Learning: México, D.F., 2002.

2. Hecht, E., Optics, 4.a ed.; Addison-Wesley: California, EUA, 2002.

3. Pantazis Mouroulis and John Macdonald, Geometrical optics and optical design,
Oxford University Press, 1997