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Medida de Impedancias RLC en Circuitos

El documento aborda la medición de impedancias RLC, incluyendo conceptos fundamentales como impedancia y métodos de medición, como puentes de continua y alterna. Se discuten las ventajas y desventajas de diferentes técnicas, así como el uso de circuitos en puente para medir resistencias, capacidades e inductancias. También se presentan fórmulas y condiciones de equilibrio para obtener resultados precisos en las mediciones.

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Medida de Impedancias RLC en Circuitos

El documento aborda la medición de impedancias RLC, incluyendo conceptos fundamentales como impedancia y métodos de medición, como puentes de continua y alterna. Se discuten las ventajas y desventajas de diferentes técnicas, así como el uso de circuitos en puente para medir resistencias, capacidades e inductancias. También se presentan fórmulas y condiciones de equilibrio para obtener resultados precisos en las mediciones.

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Tema 5

Circuitos para la medida de


impedancias RLC
Instrumentación y equipos electrónicos
GIET
Curso 2020/2021
III.- Medida de magnitudes físicas eléctricas y no eléctricas.

Tema 5.- Circuitos para la medida de impedancias RLC.

Objetivos específicos :

1. Visión general del concepto “impedancia”.


2. Conocer algunos de los métodos que se utilizan en la medida de
impedancias.
3. Ventajas y desventajas de los métodos de medida expuestos.
Tema 5.- Circuitos para la medida de impedancias RLC.

5.1.- Introducción.
5.2.- Medida de resistencias: puentes de continua (Wheatstone y Kelvin).
5.3.- Medida de capacidades e inductancias.
5.3.1.- Circuitos en puente.
a) Medida de capacidades.
b) Medida de inductancias.
5.3.2.- Medida con voltímetro de alterna.
5.3.3.- Métodos de resonancia.

Bibliografía:

Wolf, S.: "Student Reference Manual for Electronic Instrumentation


Laboratories”, London, Prentice-Hall Int. 1990.
5.1.- Introducción.

Impedancia: Propiedad que indica la oposición que ofrece un dispositivo o circuito


eléctrico/electrónico al paso de la corriente eléctrica.

1
Y
Z
5.1.- Introducción.

Factores: Frecuencia de la señal de test, amplitud de la señal de test, tensiones y


corrientes de operación, temperatura, humedad…

Resistencias Condensadores Inductancias

Modelo equivalente
resistencia de carbón

Factor de
Factor de calidad disipación Factor de potencia
5.2.- Medida de resistencias: puentes de continua.
 Puente de impedancias básico: Es una asociación en paralelo de dos divisores de tensión.
La señal de interés a procesar es la diferencia de tensión en los puntos medios de los
divisores de tensión.
 Inventado por Samuel Christie en 1833 aunque fue Wheatstone quién desarrolló sus
aplicaciones en la medida de impedancias.
 Es posible conseguir exactitudes del 0,1 % en la medida de R’s mejorando la de otros
métodos (doble lectura, divisor de tensión).
Puente de Wheatstone
Samuel Hunter Christie ‐ 1832

Sir Charles Wheatstone ‐ 1843


5.2.- Medida de resistencias: puentes de continua.

 Comparación: La medida se realiza llevando al puente al punto de


equilibrio. Es el caso de medida de impedancias.
Técnicas de
medida
 Deflexión: La medida se realiza alejando al puente de su punto de
equilibrio. Es el caso de la medida con sensores.

Método de comparación Condición de equilibrio VCD=0 ; IA=0

VCD  VCB VDB


R3 Rx
VDB = V VCB = V
R3 + R4 Rx + R2

R4  Rx = R3  R2
R2
Rx = R3 
R4
5.2.- Medida de resistencias: puentes de continua.

Propiedades R2
Rx = R3 
1.‐ Independencia de la condición de equilibrio con la
alimentación y su impedancia de salida. R4
2.‐ Independencia de las características del detector.

Factores de discrepancia

1.‐ Tolerancia de las resistencias.


2.‐ Alteración de su valor con las condiciones
ambientales (temperatura, humedad). Relación conmutable en décadas
para barrer un amplio margen
3.‐ Fuerzas termoelectromotrices. de R’s.
4.‐ Resistencias de contacto.
5.2.- Medida de resistencias: puentes de continua.

• 1.‐ En el puente de Wheatstone de la Figura 1 se tiene una relación de resistencias 1/100 para el cociente R2/R4 y R3 se ajusta
para conseguir una corriente nula tomando el valor de R3=1000,3 Ω. Como resultado de un cambio en la temperatura
ambiente el valor de R1 se ve modificado de forma que el detector registra nula corriente para la nueva condición R3=1002,1
Ω. ¿Cuál fue el cambio en la resistencia R1?

5.2.- Medida de resistencias: puentes de continua.


5.2.- Medida de resistencias: puentes de continua.
Medida de resistencias de bajo valor
 El puente de Wheatstone tiene limitaciones cuando hay que medir resistencias de
bajo valor debido a la resistencia del cableado entre otros factores.
 ¿Dónde conectar el galvanómetro G?, ¿en A o en B?.
 Si en A (extremo inferior de R2) → se mide Rx+rc
eabs = (Rx + rc )  Rx = rc
Valor medido Valor ideal

eabs
 r (%) = 100 = 10 %
Rx
 Si en B (extremo superior de Rx)

Diferente equilibrio (ahora con R2+rc)


R3  (R2 + rc ) R3  R2 R3  rc
eabs   
R4 R4 R4
Valor medido Valor ideal

eabs r
r (%) = 100= c 100=5 %
R3  R2 / R4 R2
5.2.- Medida de resistencias: puentes de continua.
Medida de resistencias de bajo valor
1er método Solución propuesta Puente de Kelvin

r4 R4
Si =
r2 R3

R2
Rx = R3 
R4

 La expresión para obtener Rx es la misma que la de Wheatstone pero ha de


satisfacerse una condición adicional.
 Para conocer Rx no es necesario saber rc.
5.2.- Medida de resistencias: puentes de continua.
Medida de resistencias de bajo valor

2º método Rs<<10 Ω Medida a cuatro hilos Conexión de Kelvin

 Hay cuatro cables, dos de test (inyectan


corriente), dos de medida (adquieren
tensión).
 Es muy importante que la impedancia de
entrada del voltímetro sea muy grande (la
corriente absorbida sea despreciable).

VM VR
=
I I

 Recomendación final: Conectar los cables de medida lo más próximo posible a la


resistencia.
Contesta a estas preguntas de este circuito en:

[Link]
5.2.- Medida de resistencias: puentes de continua.
Equivalente de Thévenin

VTH: Tensión entre C y D en vacío (sin la carga


conectada)

ETH = ECD en vacío = ECB en vacío  EDB en vacío


Rx R3
ECB en vacío = V  EDB en vacío = V 
Rx + R2 R3 + R4
RTH: Resistencia entre C y D con V anulada
(cortocircuitada).
R4  R3 R R
RTH = (R4 / /R3 )  (R2 / /Rx )  + 2 x
R4 + R3 R2 + Rx
ETH
Ig =
RTH + Rg
5.3.- Medida de capacidades e inductancias.
‐ Medida directa de la constante de tiempo de un circuito RC o L/R .
Métodos de Poca exactitud.
medida ‐ Medida con puentes de alterna.
‐ Analizador de impedancias.

Circuitos en puente Condición de equilibrio: VCD=0 ; IA=0 de igual forma:

Z Z 
Rx  Re  2 3 
Zx  Z1 = Z2  Z3  Z1 
Z Z 
Xx  Im  2 3 
 Z1 

Re (Zs )
Factor de disipación D
Im (Zs )
1
Calidad de los componentes
Im (Zs ) Q=
(C y L) Factor de calidad Q D
Re (Zs )
5.3.- Medida de capacidades e inductancias.
5.3.1.a) Circuitos en puente para la medida de capacidades.
1º f > 1kHz 0.001 < D < 0.1

 La capacidad a medir Cs se describe por su comportamiento serie con una Rs.

 Z1, Z2 son R’s y Z3 es una C en serie con una R.


 Condición de equilibrio:

R2  R3 R1
Rs = Cs = C3 
R1 R2

 Normalmente:
C3, R2 son fijos, R1, R3 son variables solo variando R’s puede llegarse al equilibrio.
 Factor de disipación:
Re (Zs )
D=  w Cs  Rs
Im (Zs )
5.3.- Medida de capacidades e inductancias.
5.3.1.a) Circuitos en puente para la medida de capacidades.

2º f < 1 kHz 0.05 < D < 50


 La capacidad a medir Cp se describe por su comportamiento paralelo con una Rp.

 Z1, Z2 son R’s y Z3 es una C en paralelo con una R.


 Condición de equilibrio:

R2  R3 R1
Rp = Cp = C3 
R1 R2

 Normalmente:
C3, R2 son fijos, R1, R3 son variables solo variando R’s puede llegarse al equilibrio.
 Factor de disipación:
Re (Zs ) 1
D= 
Im (Zs ) w Cp  Rp
¿ Cuál es el valor de L1 y R4 en el circuito de la
Figura 2 cuando Vac=0 V ? Determinar el factor de
calidad respecto L1 y R4 para f = 1 kHz.
5.3.- Medida de capacidades e inductancias.
5.3.1.a) Circuitos en puente para la medida de capacidades.
3º Medida de capacidades para alta tensión (Puente de Schering)

 Permite equilibrar el puente con valores usuales de C1 y R1 consiguiendo gran exactitud.


 Es el puente adecuado para la medida de dieléctricos y factores D muy bajos (D‐3).
 Condición de equilibrio:

R2  C1 R1
Rx = Cx = C3 
C3 R2

 Normalmente:
C3, R2 son fijos, C1, R1 son variables.
Re (Zs )
 Factor de disipación: D=  w Cs  Rs
Im (Zs )
El circuito de la Figura 3 es un puente de impedancias de Schering
utilizado para medir capacidades que soportan altas tensiones,
para ello se requiere que posean bajo coeficiente de disipación. C3
y R2 son fijos de valores respectivos 10 pF y 20 Ω, mientras que C1
y R1 son variables. Se sabe que el equilibrio del puente se ha
conseguido con los valores C1= 205 pF y R1=1050 Ω para una
frecuencia f=10 kHz ¿cuál es el valor de la capacidad Cs, de su
resistencia serie equivalente Rs y del factor de disipación D?
5.3.- Medida de capacidades e inductancias.
5.3.1.b) Circuitos en puente para la medida de inductancias.
1º Configuración básica (Puente de Maxwell‐Wien)

 Se utiliza para la medida de inductores de valor moderado Q [1..10].

 Condición de equilibrio:

R1  R3
Lx = R1  R3 C2 Rx =
R2
 Normalmente:
C2, R3 son fijos, R1, R3 son variables.

 Factor de calidad:

Im (Zx ) w Lx
Q  = w R2  C2
Re (Zx ) Rx
5.3.- Medida de capacidades e inductancias.
5.3.1.b) Circuitos en puente para la medida de inductancias.
2º Configuración alternativa (Puente de Hay)
 Se utiliza cuando en el anterior puente se necesitan valores elevados de R2 al medir
inductores con un factor Q esperado de valor elevado (>10). El puente de Hay da
valores de R2 más usuales.
 Condición de equilibrio más compleja:
R3
R2  R3  C1 w2 C12  R1  R2  R3
Lx = Rx =
1+ w2  C12  R12 1+ w2 C12  R12
 Normalmente:
R1, R3 son fijos, C2, R2 son variables.

 Factor de calidad: Q = w Lx = 1
Rx w R1 C1
 Con ello:
R  R C w2 C12  R1  R2  R3
Lx  2 3 1   Q  10   R2  R3  C1 Rx    Q 10  w2 C12  R1  R2  R3
 1  1
1+  2  1+  2 
Q  Q 
Elcircuito de la Figura 4 es elpuente de im pedancias de Hay que se utiliza para m edir inductores.

a)Dem uéstrese que las expresiones de los com ponentes reales delinductor derivadas de la condición de equilibrio del
puente son:
R1ꞏR3ꞏC2  2ꞏR1ꞏR2ꞏR3ꞏC22
Lx  Rx 
1 ꞏR2ꞏC2 1  ꞏR2ꞏC2
2 2

 ꞏLx
b)Sielfactor de calidad de un inductor viene dado por la expresión: Q  y para valores de este suficientem ente
Rx
grandes (Q>10)dem uéstrese que las expresiones anteriores se reducen únicam ente a su num erador.
c)Obténgase los com ponentes de un inductor realLx-Rx sielequilibrio delpuente se ha alcanzado con los valores:fo =10
kHz,R1=R2=1 k,R3=500  y C2=47 F.¿Cuales su factor de calidad?
5.3.- Medida de capacidades e inductancias.
5.3.2. Medida de capacidades e inductancias con voltímetro de AC.
 Útil cuando no se requiere gran exactitud ( 10%) y no se dispone de equipos o puentes.

a) Para la medida de capacidades:


 Método (basado en la realización de 2 lecturas):

1ª Lectura. Valor rms de V en R (VR): VR


I eff =
R
2ª Lectura. Valor rms de V en C (VC):
I eff
Vc  I eff  XC =
2    f C
3º Cálculo indirecto de C:

I eff VR
C 
2    f VC 2    f  RVC
 Precaución: Que Vac sea inferior a la máxima soportada por C.
5.3.- Medida de capacidades e inductancias.
5.3.2. Medida de capacidades e inductancias con voltímetro de AC.
b) Para la medida de inductancias:
 Debe medirse previamente r (resistencia en DC del inductor).

 Método (basado en la realización de 2 lecturas):

1º Ajustar R para que las lecturas de ambos


voltímetros coincidan.
2º Cálculo indirecto:

V1  I  r 2  (2    f  L)2 R2  r 2
L=
V1  I  R 2   f

 Ventajas:
‐ Emplea equipos fácilmente localizables (voltímetro de AC).
‐ Utiliza señales senoidales (red de distribución o atenuada con transformador).
 Inconveniente: No se tiene elevada exactitud.
5.3.- Medida de capacidades e inductancias.
5.3.3. Métodos de resonancia.

 Basados en la misma técnica que la del puente de Wheatstone, por comparación,


consecución de una condición repetible. En este caso la resonancia de un circuito
reactivo de 2º orden.
 Método (basado en la resonancia serie para la medida de inductancias):

1º Para valores conocidos de R


(resistencia limitadora) y de C y con una
amplitud de señal seleccionada, ajustar la
frecuencia de oscilación hasta observar
máxima caída de tensión en R.
2º En ese momento se compensarán las
reactancias capacitiva de C e inductiva de
L (resonancia serie) circulando máxima
corriente. Con ello:
1 1
L  L
 C  2    f  C
2
Se ha utilizado elm étodo de la resonancia serie para la m edida de una inductancia L (Figura 5).De la resistencia serie R
utilizada se desconoce su valor y es deltipo bobinado de form a que posee una inductancia serie L'que contribuiría a
aum entar la incertidum bre en la m edida de [Link] obstante,se dispone de las siguientes m edidas realizadas con un
m ultím etro digitalde suficiente ancho de banda:

Resistencia delinductor problem a:r=100 m .


Tensión en elinductor problem a (una vez alcanzada la resonancia):VL,r=1,1 Veff.
Corriente por elcircuito (una vez alcanzada la resonancia):Ir=24,99 m Aeff.

Sila resonancia se ha conseguido a la frecuencia fr=7 kHzcon una señalsenoidalde am plitud 10 Veff ycon una capacidad
C=470 nF,¿cuáles son los valores delinductor problem a L,delinductorparásito L'y de la resistencia bobinada R?

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