Microscopia electronica de
barrido SEM
La microscopia electrónica de barrido es una técnica avanzada para obtener
imágenes detalladas de la superficie de una muestra, se utiliza para medir
características microscópicas, caracterizar fracturas, estudiar microestructuras,
evaluar recubrimientos delgados, examinar contaminación en superficies y analizar
fallos de materiales. El SEM utiliza un haz de electrones que incide en un punto
específico de la superficie del material y recoge y muestra las señales electrónicas
emitidas por el material objetivo Smith 6ta Ed Pag 179 En una preparación típica de
muestras para análisis SEM: la muestra debe limpiarse para eliminar la
contaminación, secarse en la mayoría de los casos y preparar la superficie a
analizar para que la superficie analizada sea plana y eléctricamente conductora. La
Figura 1 muestra un esquema con los principios del funcionamiento de un SEM.
Figura 1 Esquema del diseño básico de un microscopio electrónico de barrido.
Microscopia electronica de barrido SEM 1
El SEM permite examinar la microestructura de los materiales metálicos, revelando
detalles como el tamaño, la forma y la distribución de los granos, así como la
presencia de fases y precipitados. Esto es crucial para comprender las propiedades
mecánicas y de resistencia de los metales, y para evaluar la calidad de los procesos
de fabricación.
SCANNING ELECTRON MICROSCOPY
Viacheslav Kazmiruk
Marzo 2012
Published by InTech
Janeza Trdine 9, 51000 Rijeka, Croatia
Pag 28
Microscopia electronica de barrido SEM 2