Microscopa electrnica de barrido
(SEM)
Microscopa electrnica de
barrido Ambiental (ESEM)
Microscopa electrnica de barrido
(SEM)
Rango observado (m)
10
10
10
10
10
10
Ojo humano
MO
SEM
10
10
10
Ejemplos
400m
500nm
5m
30m
10m
500nm
Radiacin continua
e secundarios
e retrodispersados
Luz Visible
e auger
Rayos X
Calor
Informacin sobre:
Composicin
Topografa
Composicin qumica y
estructural
muestra
Corriente de
la muestra
Elsticamente
dispersado
Orientacin, arreglo de
tomos y fases.
Composicin y estado
qumico
No dispersado
Inelsticamente
dispersado
Reflexin o emisin
Catodoluminiscencia
Transmisin (TEM)
Concepto
e e
e e
Equipo
Lentes
condensadores
Fuente de Electrones genera los
electrones con los que va a ser
barrida la muestra en observacin.
Sistema de Lentes focalizan y
reduce el haz de electrones
sobre la muestra en estudio.
Circuito de
escaneo
bobina de
deflexin
Procesador
Detector
Sistema de
Alto Vaco
(10 Torr)
Unidad de Deteccin donde se
lleva a cabo la obtencin de la
informacin sobre la muestra.
Equipo
Resolucin ..10m
Sistema de vaco.
- Alto Vaco.
Detectores:
- ETD (e secundarios)
- BSED (e retrodispersados)
- EDS (rayos X)
Muestra
Requisitos: Soportar el vaco y el
bombardeo electrnico.
Preparacin: Si tiene
voltiles, eliminarlos.
Si es aislante, metalizar.
Araa cubierta de oro
Microscopa electrnica de barrido
Ambiental (ESEM)
Concepto
e e
e e
e
Detector
++
+ +
++
+
+
+
muestra
++
A
++
+
e + G
2e + G
Equipo
Fuente de Electrones y
Sistema de lentes SEM
Alto vaco
e
e e
e
e
Efluente
++
++
++
+
Bajo Vaco
( ..10 torr)
muestra
Equipo
Sistema
# Modo alto vaco, convencional, con
muestras secas y conductoras. 10 torr
# Modo bajo vaco, con muestras secas,
pero no conductoras. 2-5 torr
# Modo hmedo, con muestras lquidas o
hmedas, controlando la temperatura de la
muestra. 5-10 torr
Equipo
Resolucin ..10m
Sistema de vaco.
- Alto Vaco.
- Bajo vaco.
- Hmedo.
Detectores:
-ETD (e, e)
-LFD (SED bajo vaco) (e)
-GSED (SED gaseoso) (e, e)
-vCD Detector de alto contraste a bajo voltaje
-GAD (Gaseous analytical BSED) (e, e)
-STEM (e, e)
-EDS (Rayos X)
-Nav-CamTM Cmara ptica color (Vis)
Equipo
Detector
Circuito de
escaneo
Columna de
electrones
Muestra
Cmara de
observacin
Sistema de
vaco
Muestra
-No conductora.
-Capacidad de volatilizar.
-No requiere resistencia al alto vaco.
-Temperaturas hasta 1200C
-Seca o hmeda, sucia, aceitosa.
-Estudios in situ sobre muestras reales:
tensin, compresin, deformacin, ruptura,
adhesin, calentamiento, enfriamiento,
congelacin, fusin, hidratacin,
deshidratacin, sublimacin.
Ejemplos
400m
100m
100m
20m
200m
3m
Aplicaciones
Cristalizacin de sales en materiales porosos: Pueden
observarse en tiempo real el proceso de cristalizacin de sales
en distintos materiales porosos ya que controlamos la
hidratacin de la muestra. En materiales contaminados con
distintas sales podemos determinar cules seran las que
causan deterioro mecnico.
Corrosin y Fractura: Anlisis de los procesos de corrosin en
materiales metlicos sometidos a condiciones especiales.
Estudio de propagacin de fracturas en materiales sometidos a
tensin en diversas condiciones.
Arcillas: El comportamiento de las arcillas y filosilicatos al
hidratarse lo que tiene un amplio campo de aplicacin en
geotecnia y materiales cermicos.
Aplicaciones
Cambio de condiciones ambientales: Recreando distintas
atmsferas seremos capaces de determinar el futuro
comportamiento de distinto materiales frente a condiciones
severas de humedad, temperatura, ambiente salino,
contaminacin, lluvia cida, etc.
1910 Pa
2030 Pa
2040 Pa
Hidratacin de Cristales de sal sobre tefln
Comparativa
SEM
Muestra seca y solida; debe ser
conductora. Pretratamiento de la
muestra
Alto vaco. Temperaturas bajas
Tres tipos de detectores. Alto
voltaje
Equipos no muy complejos
ESEM
Muestras no necesariamente seca ni
conductora. No pretatamiento de
muestra
Alto y bajo vaco. Bajas y altas
temperaturas (..1200C)
Mltiples detectores. Bajo voltaje
Equipos muy complejos
Medidas estticas
Medidas dinmicas (cambios
presin, temperatura y humedad)
Alta resolucin
Limitaciones en resolucin en bajo
vaco y condiciones ambientales.
Bibliografa
-Microscopa electrnica de barrido (III) ESEM vs SEM,
[Link]
-Microscopio electrnico de barrido ambiental,
[Link]
-Espectroscopa de Barrido Electrnico. Carlos Cuestas Aylln,
Instituto de nanociencias de Aragn