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Semtem

El documento aborda el uso de microscopía electrónica, específicamente SEM y TEM, en la nanotecnología, destacando su capacidad para observar estructuras a escala atómica. Se discuten las aplicaciones de software en la microscopía, incluyendo análisis cuantitativos y técnicas de inteligencia artificial para mejorar la visualización y medición de nanopartículas. Además, se mencionan los desafíos actuales y futuros en la microscopía, como la reducción de dosis y la automatización de procesos.

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El documento aborda el uso de microscopía electrónica, específicamente SEM y TEM, en la nanotecnología, destacando su capacidad para observar estructuras a escala atómica. Se discuten las aplicaciones de software en la microscopía, incluyendo análisis cuantitativos y técnicas de inteligencia artificial para mejorar la visualización y medición de nanopartículas. Además, se mencionan los desafíos actuales y futuros en la microscopía, como la reducción de dosis y la automatización de procesos.

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PROYECTOS DE SOFTWARE ENFOCADOS

EN NANOTECNOLOGÍA

Microscopía
SEM & TEM
FRANCISCO GALLEGOS
LUIS LóPEZ

Dra. Oxana Vasilievna Kharissova


Microscopía Electrónica
Superando el límite de la luz: Sustituimos fotones por un haz de electrones para ver lo "invisible".
Resolucion Extrema:
Óptico: ~200 nm (Límite de la luz).
Electrónico: Escala atómica (<1 nm).
El "Ojo" de la Nanotecnología: Esencial para caracterizar, medir y manipular materia entre 1 y 100
nm.
Capacidades: Morfología 3D, estructura cristalina y análisis químico.
SEM
¿Como funciona?: Escanea la superficie punto por punto con un haz de electrones
para crear una imagen píxel a pixel.
Señales detectadas:
Electrones Secundarios (SE): Revelan la topografia. Dan ese aspecto 3D tan
caracteristico.
Electrones Retrodispersados (BSE): Revelan la composicion. Los elementos mas
pesados brillan más.
Resultado: Imagenes de alta profundidad de campo y gran detalle superficial.
SEM : Visualizacion y Aplicaciones
Tipos de Imagen:
Topografica: Textura y relieve (3D).
Contraste Z: Diferencia química por brillo.
Mapas EDS: Distribucion exacta de elementos químicos.
Uso en Nanotecnologia:
Medicion: Nanotubos, grafeno y nanoparticulas.
Superficies Sensibles: Analisis de polimeros sin dañarlos (Low-kV).
Screening: Seleccion rapida de muestras antes de pasar al TEM.
TEM
Principio: El haz de electrones atraviesa la muestra (similar a una
radiografía o sombras chinas).
Funcionamiento:
Voltaje extremo: 60 a 300 kV para "empujar" los electrones a través
de la materia.
Imagen 2D: Proyecta la ultraestructura interna en una pantalla o
sensor.
Contraste: Las zonas densas bloquean electrones (se ven oscuras); las
zonas ligeras los dejan pasar (se ven claras).
El Gran Desafío: La muestra debe ser ultrafina (<100 nm). Si es gruesa, el
haz se detiene y la imagen se vuelve borrosa.
TEM-Resolución
Poder de resolucion: Alcanza menos de 50 picometros (escala
atomica). Es 10 veces más potente que el SEM.
Aumentos: Hasta 50 millones de veces (frente a los 2 millones
del SEM).
¿Que observamos?:
HRTEM: Columnas individuales de átomos y redes cristalinas.
Defectos: Dislocaciones e impurezas dentro del material.
Difraccion (SAD): Funciona como una "huella digital" para
identificar si un material es cristalino o amorfo.
SEM VS TEM
El Rol del Software en la Microscopía
Analisis Cuantitativo e IA:
Segmentacion automatica de miles de nanoparticulas en segundos (redes neuronales).
Medicion de diametros, porosidad y formas (ParticleMetric, AZtec).
Reconstruccion y Vision 3D:
Modelado volumetrico de la ultraestructura interna (Amira, Avizo).
Tomografia y alineacion de imagenes atomicas.
Deep Learning y Filtrado (Denoising):
Algoritmos como Noise2Void para limpiar imagenes con ruido extremo.
Permite observar muestras sensibles (biologicas/polimeros) usando dosis bajas de electrones sin dañarlas.
Desafíos y Futuro
Microscopía de "Baja Dosis": La IA (Noise2Void) permite ver muestras
ultra-sensibles sin destruirlas con el haz de electrones.
Velocidad Exponencial: Lo que antes tomaba semanas de análisis
manual (medir partículas), la IA lo hace en segundos y con mayor
precision.
Microscopios Autonomos: Sistemas que se auto-enfocan y capturan
miles de imagenes durante la noche sin intervencion humana.
Eliminacion del Sesgo: La IA analiza toda la muestra de forma objetiva,
no solo las areas que al científico le parecen "bonitas".
Referencias y Conclusiones
Amano, Y. J., & Díaz Cevallos, L. (2015). Introducción a la microscopía electrónica: Principios - aplicaciones (3.ª ed.). Instituto Nacional de Investigación en
Salud Pública INSPI.
Ansari, N., Dasgupta, J., Umre, S., & Rajput, P. (2024). Harnessing electron microscope for trace evidence analysis. En G. Huerta Cuellar (Ed.), Electron
microscopes, spectroscopy and their applications. IntechOpen.
[Link]. (1998-2013). Microscopía electrónica: Barrido y transmisión. Hipertextos del Área de la Biología.
Buseck, P. R., Cowley, J. M., & Eyring, L. (Eds.). (1988). High-resolution transmission electron microscopy and associated techniques. Oxford University Press.
González Mancera, G., & Noguez Amaya, M. E. (2006). Principios de microscopía electrónica de barrido y microanálisis por rayos X característicos. Universidad
Nacional Autónoma de México, Facultad de Química.
Ipohorski, M., & Bozzano, P. B. (2013). Microscopía electrónica de barrido en la caracterización de materiales. Ciencia e Investigación, 63(3). Asociación
Argentina para el Progreso de las Ciencias.
Mena Delgadillo, J. J. (s.f.). Microscopía electrónica de barrido. [Link].
Oxford Instruments. (s.f.). Application notes.
Protochips. (s.f.). In situ electron microscopy for materials science.
Sacco, M. A., Gualtieri, S., Santos, A., Mendes, B., Raffaele, R., Tarallo, A. P., Verrina, M. C., Ranno, F., Monterossi, M. D., Ricci, P., & Aquila, I. (2025). Scanning
electron microscopy techniques in the analysis of gunshot residues: A literature review. Applied Sciences, 15(5), 2634. [Link]
The University of Manchester. (s.f.). Deep learning for denoising and segmentation in transmission electron microscopy. Research Explorer.
Thermo Fisher Scientific. (s.f.). Scanning electron microscopes | SEM.

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