4.

Meßtechnik von Schwingquarzen

Zum Messen der Quarzparameter gibt es zwei prinzipielle Methoden, die aktive und
die passive Messung.

Bei der aktiven Messung wird der Quarz in einem Oszillator als
frequenzbestimmendes Glied eingesetzt. Diese Meßgeräte sind unter dem Namen
„Testset“ bekannt geworden und für die verschiedenen Frequenzbereiche entwickelt
worden. In diesen Geräten schwingt der Quarz weitgehend unabhängig von seinem
Resonanzwiderstand und seinen anderen Parametern C1, L1 und C0. Der
Resonanzwiderstand wird z.B. über die Aktivitätsanzeige des Oszillators durch
Substitution mit Widerständen ermittelt. In diesen Testsets liegt die absolute
Meßgenauigkeit für die Frequenzmessung etwa 10 bis 15 .10-6 und kann durch
Vergleichsmessungen zwischen einzelnen Geräten auf 3 bis 5 .10-6 verbessert
werden. Diese Meßgeräte genügen aber in der Regel nicht mehr den heutigen
Anforderungen.

Moderne Impedanzanalysatoren erlauben durch eingebaute Software direkt die

Berechnung der Elemente des Quarz-Ersatzschaltbildes aus dem gemessenen
komplexen Impedanzverlauf in einem vorwählbaren Frequenzbereich. Dies ist zwar
ein elegantes und schnelles Meßverfahren, praktische Erfahrungen zeigen aber,
daß das angezeigte Ergebnis sehr stark von der Auswahl des gewählten Analyse-
Frequenzbereichs abhängt. Die Ursache dafür ist, daß aus der Messung alle vier
Elemente R1, L1, C1 und C0 durch ein iteratives Parameterfitting errechnet werden.
Umfaßt der Analyse-Frequenzbereich nur die Umgebung der Resonanz und der
zugehörigen Antiresonanz, wird C0 nicht genau genug errechnet, da dessen Einfluß
nur weitab von der Resonanzstelle ausreichend isoliert werden kann. Durch das
iterative Parameter-Anpaßverfahren wird der systematische Fehler des C0 auf die
anderen Elementwerte „umgelegt“. Wird aber der Analysebereich vergrößert, sinkt
die Genauigkeit für R1, L1 und C1, da die Resonanzstelle nicht mehr ausreichend
genau aufgelöst wird. Ein zusätzlicher Nachteil ist, daß die Quarzbelastung
entweder sehr klein (typisch einige nW) ist, und/oder nicht auf einen vorgebbaren
Wert eingestellt werden kann.

Die Passiv - Meßmethode, wie sie in (DIN) IEC 444 beschrieben ist, stellt heute den
allgemeine anerkannten internationalen Standard zur Messung von Schwingquarzen
dar. In dieser Norm ist in den Teilen 444-1 (Lit. [1]) und 444-2 (Lit. [2]) das
Meßverfahren zur Bestimmung von Resonanzfrequenz fr und den Quarz-Ersatzdaten
(Rr, C1, L1, C0, Q) bis 125 MHz definiert. In dem IEC-Report 444-3 (Lit. [3]) ist eine
(inzwischen veraltete) Methode zur Erweiterung bis 200 MHz durch C0-
Kompensation beschrieben. Die Messung der Lastresonanz mit Lastkapazitäten wird
in Teil 444-4 (Lit. [4]) definiert, eine modernere Methode ist bei IEC in Vorbereitung
und wird hier beschrieben. Der Teil 444-5 (Lit. [5]) beschreibt Verfahren zur
Fehlerkorrektur, mit denen der Frequenzbereich auf über 500 MHz erweitert und die
Meßgenauigkeit erhöht werden kann.
4.1 Passivmessung bis 125 MHz nach (DIN) IEC 444-1 und 444-2
Der Schwingquarz wird in einem in (DIN) IEC 444-1 [1]genormten Doppel-
π− Netzwerk entsprechend Bild 4.1 eingesetzt, wodurch das Meßobjekt von den
angeschlossenen Meßgeräten entkoppelt wird.

Bild 4.1: Doppel-π-Netzwerk nach (DIN) IEC 444-1

Vom Schwingquarz aus gesehen beträgt die Netzwerkimpedanz je 12,5 Ω . Er ist

daher mit nominell RT = 25 Ω belastet. Das Doppel-π− Netzwerk hat (bei
eingesetztem Kurzschluß anstelle des Quarzes) eine Dämpfung von insgesamt 29,6
dB und reduziert damit bei eingesetztem Meßobjekt die Reflexionen auf den
Zuleitungen. Der klassische Aufbau, wie er in (DIN) IEC 444-1 bildlich dargestellt ist,
besteht aus koaxialen Scheiben- und Stabwiderständen in Präzissionsausführung,
moderne Ausführungen verwenden - wie in (DIN) IEC 444-5 [5] gezeigt - eine
Konstruktion mit gedruckten HF-Widerständen auf einem Keramiksubstrat (siehe
Bild 4.2).

Bild 4.2: Moderne Ausführung eines π-Netzwerks (aus [5])

Die Konstruktion ist in beiden Fällen für bedrahtete Schwingquarze optimiert, bei
denen die Referenzebene für die Messung nach Norm 2 mm unterhalb der
Bodenplatte des Schwingquarzgehäuses liegt. Bei Schwingquarzen in SMD-
Gehäusen mit Anschlüssen in Gullwing-Form (L-leads), als J-leads oder leadless
sind bis jetzt noch keine Meßadapter genormt. Iin diesen Fällen muß eine geeignete
Zwischendadaption geschaffen werden, die eine Messung und Kalibrierung in der
Ebene gewährleistet, in der der Quarz in der Schaltung kontaktiert wird, d.h. auf der
Ebene der Landefläche.

2
Die charakteristische Impedanz des π-Netzwerks RT = 25 Ω entspricht etwa dem
geometrischen Mittel des typischen Resonanzwiderstandes von AT-Schnitt-
Schwingquarzen im Frequenzbereich 1 MHz bis 200 MHz. Die Messung von
Schwingquarzen mit wesentlich hochohmigerem Resonanzwiderstand - z.B. von
niederfrequenten Biegeschwingern wie 32 kHz-Uhrenquarzen usw. - erfordert einen
höheren Wert von RT, um die Grunddämpfung des π-Netzwerks zu begrenzen. Ein
geeignetes π-Glied für solche Anwendungen kann wie folgt dimensioniert werden:
Vorraussetzung: RT/2 > RG = 50 Ω (Impedanz des Meßsystems)
Die minimale Grunddämpfung amin pro Sektion R1, R2 liefert ein Halbglied bestehend
nur aus R1 und R2
RG
R1 = (1)
2 RG
1-
RT
RT RG
R2 = - (2)
2 2 RG
1+ 1-
RT
mit
amin = 10 lg Kmin (3)
wobei
RT RT  RT 
2 RG 
Kmin = -1+2 - 1 (4)
RG  G
2 R 
Für ein komplettes π-Glied mit R1, R2 und R3 muß die Grunddämpfung aG (pro
Sektion) größer als amin sein. Für ausreichende Isolation vom 50 Ω -System wird eine
zusätzliche Dämpfung von ca. 2 bis 3 dB pro Sektion empfohlen.
Die Werte der drei π-Glied-Widerstände ergeben sich dann zu:
(K - 1) RG
R1 = (5)
RG
K+1 - 2 2K
RT
K-1 RG RT
R2 = (6)
2 2K
(K - 1) RT
R3 = (7)
RT
2 (K+1) - 4 K
2 RG

mit
K = 10 aG/10 (8)
aG > amin (9)

Beispiel:
Ein Meßkopf mit einer charakteristischen Impedanz RT = 1 kΩ für ein Meßsystem mit
RG = 50 Ω kann in Minimaldämpfung aus zwei Sektionen mit jeweils
R1 = 52,7 Ω
R2 = 474,3 Ω
und einer Dämpfung von amin = 15,8 dB pro Sektion, d.h. 31,6 dB insgesamt bei
eingesetztem Kurzschluß realisiert werden.
Erhöht man die Kurzschlußdämpfung pro Sektion auf 18 dB, dann erhält man ein π-
Netzwerk mit zwei Sektionen bestehend aus den drei Widerständen
R1 = 52,6 Ω

3
 R2 = 618 Ω
R3 = 2240 Ω
Bei höheren RT-Werten steigt die Grunddämpfung wegen der Dämpfung des
empfängerseitigen π-Glieds stark an. Dies kann vermieden werden, indem an dieser
Stelle ein Breitband-Übertrager eingesetzt wird (Lit. [22]), der die hochohmige
Impedanz auf 50 Ω transformiert. In Bild 4.3 ist dieses Verfahren dargestellt.

Bild 4.3: Einfügen eine Übertragers zur Messung von hochohmigen (NF-) Schwingquarzen (aus [22])

Der gesamte Meßaufbau mit dem π-Netzwerk und einem Vektorvoltmeter bzw. einem
Netzwerkanalysataor wird in Bild 4.4 gezeigt. Das Generatorsignalℑ wird mit dem
(internen) Frequenzzähler ℵ gemessen und mit dem Leistungsteiler ℜ in dern
Meßkanal mit π-Netzwerk und den Referenzkanal mit 30 dB-Dämpfungsglied
aufgeteilt. Beide Kanäle werden mit 50 Ω Widerständen ⊕ abgeschlossen. Die
Phase zwischen beiden Kanälen wird mit dem Phasenmesser℘ , die Amplituden UA
am Punkt A und UB am Punkt B mit dem HF - Spannungsmesser ⊗ gemessen. Ein
Netzwerkanalysator enthält alle Komponten außer dem π-Netzwerk und dem
Dämpfungsglied sowie evtl. dem Leistungsteiler ℜ .

Bild 4.4: Meßanordnung für die Quarzmessung nach (DIN) IEC 444

Die Resonanzfrequenz fr ermittelt man, indem der Generator ℑ auf die Frequenz
eingestellt wird, die zwischen den Punkten „A“und „B“Phase „Null“ergibt.
Aus dem Verhältnis der Spannungen in Punkt „A“und „B“ergibt sich der
Resonanzwiderstand Rr des Quarzes.
Durch Einstellen der Ausgangsspannung des Generatorsℑ kann die gewünschte
Quarzbelastung Pc bzw. Ic eingestellt werden.

Die Messung kann teilautomatisiert werden, indem die phasenproportionale

Ausgangsspannung von ℘ entweder analog über einen Regelverstärker oder
rechnergesteuert zur Frequenznachstimmung des Generatorsℑ verwendet wird. Bei

4
Verwendung eines Netzwerkanalysators kann durch Auslesen der Spannungs- und
Phasenwerte eines ganzen Sweeps das Ansteuern von Einzelfrequenzen entfallen.

4.1.1 Messung von Resonanzfrequenz fr und Resonanzwiderstand Rr

Die Messung bei Phase Null ergibt die Resonanzfrequenz rf, die um den kleinen
Betrag
fr - fs 1
= arctan (R1 ω C0) (10)
fs 2Q
oberhalb von der Serienresonanzfrequenz fs liegt. Für kleine Phasenwinkel
vereinfacht sich dies zu
fr - fs C0 r
≈ 2 = (11)
fs C1 2 Q 2 Q2
mit
C0
r= (12)
C1
Das Kapazitätsverhältnis r ist ungefähr 200 für AT-Grundwellenquarze, 2100 für
Quarze im 3. Oberton und 6500 für den 5. Oberton. Bei 125 MHz wird mit einem 5.
Oberton mit Q=80000 eine Abweichung von + 5 . 10-7 = + 0.5 ppm erreicht.

Für höhere Frequenzen und Obertöne ist eine genaue Messung nur durch
Berücksichtigung der statischen Kapazität C0 möglich. Hier wird dann statt der
Resonanzfrequenz fr (Phase 0) die Serienresonanzfrequenz fs gemessen. Im
Grenzbereich muß daher zwischen Hersteller und Anwender vereinbart werden ob rf
(„unkompensiert“) oder fs („kompensiert“) gemessen werden soll. Die
Frequenzabweichungen können je nach Oberton und Quarzgüte bis zu 20. 10-6
zwischen beiden Meßmethoden betragen.

Die Bestimmung des Resonanzwiderstandes Rr erfolgt nach folgender Methode:

1. Im π− Netzwerk wird mit einem Kurzschluß die Spannung UBK am Punkt B (Bild
4.4) gemessen.
2. Es wird die Spannung UB am Punkt B mit dem Schwingquarz bei Phase Null
gemessen.

Bei Phase Null zwischen Ein- und Ausgang des Quarzmeßkopfes (Punkt A und B)
gilt dann
 UBK 
Rr = RT k - 1 (13)
 UB 
wobei die Netzwerkimpedanz RT, die der Quarz „sieht“, ideal zu RT = 25 Ω gesetzt
wird. Der Faktor k stellt das Verhältnis der Spannung am Punkt A bei den beiden
Messungen dar und kann in der Praxis meist vernachlässigt werden.
UA
k= ≈1 (14)
UAK
Für einen typischen Resonanzwiderstand von 25Ω kann man die Quarzbelastung
Pc bzw. den Quarzstrom lc durch Einstellen des UBK-Wertes nach den folgenden
Beziehungen berechnen:
UBK (mV) = 57,8 Pc (mW) (15)
UBK (mV) = 9,14 I c (mA) (16)
Für andere Werte von Rr ergibt sich:

5
 Pc (mW)
UBK (mV) = 5,18 (Rr (Ω ) + RT (Ω )) (17)
Rr (Ω )
UBK (mV) = 0,183 I c (mA) (R r (Ω ) + RT (Ω )) (18)
Bei der Resonanzfrequenz fr können die tatsächlichen Werte von Quarzbelastung Pc
und Quarzstrom lc direkt aus dem UB-Wert errechnet werden:
Pc (µW) = 0,048 Rr (Ω ) UB2 (mV 2) (19)
UB (mV)
Ic (mA) = (20)
4,57

4.1.2 Messung der Ersatzdaten C1, L1, Q

Die dynamische Kapazität und Induktivität des Schwingquarzes können auf
verschiedene Arten gemessen werden. Für geringere Genauigkeit (und nur für
Frequenzen unterhalb 30 MHz) reicht die Messung mit zwei Lastkapazitäten, wie sie
in IEC 302 (Lit. [14]) beschrieben war. Für genaue Messungen sollte die im
folgenden beschriebene Phasenoffsetmethode nach (DIN) IEC 444-2 oder die
sogenannte Ortskreismethode nach (DIN) IEC 444-5 verwendet werden (siehe
Abschnitt 4.2).

Der Resonanzwiderstand Rr wird, wie oben beschrieben, bei Phase Null gemessen.
Die Generatorfrequenz wird nun so verstellt, daß sich eine Phasendifferenz von +ϕ
bzw. -ϕ einstellt.
Aus der Frequenzdifferenz ∆f±ϕ ergibt sich dann
∆f±ϕ
C1 = (21)
2π fr Reff tan ϕ
2

wobei wegen des quarzseitigen Abschlußwiderstandes desπ− Netzwerks von RT= 25

Ω
Reff = Rr + RT = Rr + 25 Ω (22)
ist.
Analog ist
1 Reff
L1 = 2 = tan ϕ (23)
ωs C1 2π ∆f±ϕ
und die Güte
ω L1 1
Q= = (24)
R1 ωrC1 Rr
Bei einem Phasenoffset von 45° vereinfachen sich wegen tan 45° = 1 die Formeln
für C1 und L1.

Diese Formeln gelten nur bei Vernachlässigung der statischen Kapazität C0. Den
dadurch entstehenden Meßfehler zeigt Bild 4.5 in Abhängigkeit vom gewählten
Phasenoffset mit der sogenannten Parallelgüte M als Parameter:
1
M= = (25)
ωC0 R1
Bei höheren Frequenzen fällt der Wert von M, da der Leitwert von ωC0 sowie R1
ansteigen. Ab ca. 70 MHz sollte daher ein kleinerer Phasenoffset als± 45°
verwendet werden (typisch ± 20°). Trotzdem bleibt ein systematischer Meßfehler, da
das Amplitudenmaximum immer stärker von der Frequenz bei Phase Null abweicht.
Bei Frequenzen ab ca. 100 ... 130 MHz kann die Parallelgüte den Grenzwert M = 2
unterschreiten, womit keine Resonanzfrequenz mit Phase Null mehr existiert, d.h.

6
der Ortskreis die reelle Achse nicht mehr schneidet! Dann versagt das hier
beschriebene Meßverfahren.

Bild 4.5: Meßfehler von C1 in Abhängigkeit vom Phasenoffset und der Parallelgüte M (aus [2])

Oberhalb von 100 MHz sollte daher die in Kap. 4.2 beschriebene Ortskreismethode
verwendet werden.

4.1.3 Messung der statischen Kapazität C0

Die Messung von C0 erfolgt - wenn nichts anders vereinbart wird - mit einer
Kapazitätsmeßbrücke bei 1 MHz, wobei das Quarzgehäuse nicht geerdet wird. Es ist
zu beachten, daß bei dieser Messung die Kapazitäten der Stiftdurchführungen
gegen das Gehäuse (bei Metall- und Keramikgehäusen) parallel zur statischen
Kapazität des Quarzresonators liegen, während in den meisten
Schaltungsanwendungen das Quarzgehäuse geerdet wird, wodurch sich eine
andere Aufteilung der Einzelkapazitäten ergibt.
Für Quarzfrequenzen oberhalb von 30 MHz wird empfohlen, die statische Kapazität
in der Nähe der Quarzfrequenz zu bestimmen. Durch den Einfluß der
Zuleitungsinduktivitäten ergibt die so gemessene effektive Parallelkapazität Cp einen
etwas höheren Wert als das bei 1 MHz ermittelte C0. Diese Messung kann direkt im
π-Netzwerk erfolgen:
Das π-Netzwerk wird im Leerlauf, d.h. ohne Quarz, betrieben und bei der Quarz-
Nennfrequenz fN die Ausgangsamplitude UBCc gemessen. Aus dieser ergibt sich der
Blindwiderstand der Übersprechkapazität Cc zu
UBK 
XCc = 25 Ω  -1 (26)
UBCc 
und Cc daraus zu
1
Cc = (27)
ωN XCc
Nach Einsetzen des Quarzes wird in einem resonanzfreien Frequenzabschnitt in der
Nähe von fN die Ausgangsamplitude UBC0 gemessen und daraus der Blindwiderstand
XCp bestimmt
UBK 
XCp = 25Ω  -1 (28)
UBC0 
woraus dann die Parallelkapazität
1
Cp = - Cc (29)
ωN XCp
berechnet wird.

7
Zur Sicherheit gegen Fehler infolge von Störresonanzen empfiehlt es sich die
Messung bei mehreren Frequenzen unterhalb (und evtl. auch oberhalb) von Nf zu
wiederholen.
Zur Erhöhung des Rauschabstands ist es sinnvoll, bei dieser Messung eine höhere
Kurzschlußsspannung UBK als bei der Messung der übrigen Quarzparameter zu
verwenden.

4.2 Messung nach der Ortskreismethode (DIN) IEC 444-5 bis 500 MHz und
darüber
Das Verfahren nach Kap. 4.1 erlaubt die relativ einfache Bestimmung der
Schwingquarz-Parameter. Nachteilig ist aber die eingeschränkte Genauigkeit bei
höheren Frequenzen und die Begrenzung auf maximal 125 MHz. Der verwendeteπ-
Meßkopf wird dabei als ideal vorausgesetzt. In dem IEC-Report 444-3 (Lit. [3])
wurde eine Behelfslösung vorgeschlagen, bei der imπ-Glied parallel zum Quarz
eine Parallelspule oder ein äquivalenter Kreis geschaltet wird, mit dem der Einfluß
des C0 kompensiert wird. Dadurch ist zwar eine Erweiterung bis 200 MHz möglich,
es ist aber hierfür ein speziell konstruierter Meßkopf erforderlich und es werden
hierduch zusätzliche Fehlerquellen eingeführt.

Das hier als „Ortskreis-Methode“bezeichnete Meßverfahren nach (DIN) IEC 444-5

(Lit. [5]) besitzt diese Nachteile nicht. Es ist sicher bis 500 MHz und darüber
einsetzbar. Anläßlich eines Internationalen Meßvergleichs („Round-Robin-Test“) bei
IEC im Oktober 1988 in Bled (Jugoslawien) wurde die Anwendbarkeit bis über 900
MHz nachgewiesen (Lit. [25]). Die Methode basiert auf einer Idee von Neuscheler
(Lit. [17]), und wurde in Lit. [21] bis [21] weiter ausgebaut. Das Verfahren kann mit
dem gleichen Meßaufbau wie in Bild 4.4 gezeigt - d.h. mit Generator und
Vektorvoltmeter oder mit Netzwerkanalysator - angewandt werden.
Alternativ kann auch ein geeigneter s-Parameter-Meßplatz verwendet werden. Als
Meßkopf kann das π-Netzwerk nach (DIN) IEC 444-1 oder auch ein anderer
Meßadapter mit geeigneter Referenzebene für Quarz und Kalibrierelemente benutzt
werden. Bei der s-Parameter-Technik reicht für einfachere Fälle das Eintor-
Verfahren, bei dem das Meßobjekt direkt am s11-Port angeschlossen wird. Zu
empfehlen ist aber das Transmissionsverfahren, bei dem der Quarz in Längsrichtung
(wie beim π-Glied) angeordnet wird und alle vier s-Parameter gemessen werden. Für
die Auswertung wird ein s-Parameter-Fehlerkorrekturverfahren (siehe z.B. Lit.[26])
angewandt. Das Meßverfahren basiert auf Lit. [23], [24] und [26] und ist als Variante
in (DIN) IEC 444-5 enthalten.

Wesentliches Element der im Folgenden näher beschriebenen Ortskreismethode ist

die Durchführung einer Fehlerkorrektur durch eine Modellierung des Meßadapters,
die sich auf eine erweiterte Kalibrierung mit Kurzschluß, Kalibrierwiderstand und
Leerlauf stützt. Aus der Leerlauf-Kalibrierung wird die Übersprechkapazität CÜ
zwischen den Quarz-Meßtoren des Adapters ermittelt, die Kalibrierung mit
Kurzschluß und Widerstand modelliert den Adapter als komplexen
„Innenwiderstand“RT, den er an den Quarz-Meßtoren zeigt (siehe Bild 4.6).

8
 RT = RG’+ RL’
Bild 4.6: Komplexes Ersatzschaltbild des Quarz-Meßadapters

Bei Verwendung eines s-Parameter-Meßplatzes kann die standardmäßig meist

implementierte Fehlerkorrektur-Prozedur (12-Term-Fehlermodell für die
Übertragungsmessung aller vier s-Parameter).
Die Meßpunkte liegen nicht notwendigerweise exakt bei der Resonanzfrequenz rf
bzw. fs, sondern sind in geeigneter Form auf dem Admittanz-Ortskreis verteilt. Die
(DIN) IEC 444-5 beschreibt mehrere Software-Algorithmen zur Berechnung der
dynamischen Ersatzparameter aus den komplexen Impedanzwerten des Quarzes,
die bei den Meßfrequenzen bestimmt wurden. An dieser Stelle wird nur das
einfachste Verfahren nach Neuscheler (Lit.[17]) ausführlicher beschrieben.

4.2.1 Kalibrierung und Impedanzmessung

[Link] Einzelkalibrierung
Vor jeder Messung erfolgt eine Kalibrierung mit Kurzschluß, Leerlauf und
Kalibrierwiderstand in der Umgebung der Nennfrequenz des Meßobjekts.
Kalibrierung mit Kurzschluß: Messung der Ausgangsspannung des B-Kanals:
UBK = |UBK| ∠ ϕ BK (30)
Kalibrierung mit Leerlauf: Ausgangsspannung des B-Kanals:
UBL= |UBL ∠ ϕ BL (31)
Kalibrierung mit Kalibrierwiderstand RN = Re (RN ) + jlm (RN ) ergibt die B-Kanal-
Spannung:
UBN= |UBN ∠ ϕ BN (32)
Eine unbekannte Impedanz Rx = Re (Rx) + j Im ( Rx) führt zu einer B-Kanal-Spannung:
UBx= |UBx ∠ ϕ Bx (33)
Daraus kann die Admittanz Yxtot bestimmt werden durch:
UBK
-1
1 UBN
Yxtot = (34)
RN UBK
-1
UBx
In dieser Admittanz Yxtot ist noch die parallel geschaltete Übersprechkapazität Cc des
π-Netzwerks enthalten. Die Übersprechadmittanz YCc kann aber mit derselben
Formel aus der Kalibrierung bei Leerlauf berechnet werden, wobeiUBX durch UBL
ersetzt wird. Der Imaginärteil des so ermittelten YCc wird dann von Yxtot subtrahiert
und die unbekannte Impedanz Rx ist schließlich
9
 1
Rx = (35)
Yxtot - j Im(YCc)
Die Übersprechkapazität Cc folgt aus dem Imaginärteil von YCc zu
Im (Ycc)
Cc = , (36)
ω
der sehr kleine Realteil kann vernachlässigt werden.

Geeignete Kalibrierwiderstände mit Daten für ein elektrisches Modell sind

kommerziell erhältlich z.B. von Wandel & Goltermann. Das Modell besteht aus einer
Parallelschaltung einer Kapazität mit einem reellen Widerstand und einer Induktivität
in Serie. Typische Daten sind 25 Ω , 0.4 nH // 0.1 pF.

[Link] Grundkalibrierung
Die drei Kalibrierungen brauchen nicht bei jeder Messung komplett wiederholt
werden, sondern können als Grundkalibrierung einmalig im gesamten
Frequenzbereich in geeignet feinen Schritten (z.B. 1 MHz) durchgeführt werden. Aus
der Leerlaufkalibrierung erhält man dann die Übersprechkapazität Cc (in
Abhängigkeit der Frequenz), das Ergebnis der Kalibrierung mit einem Präzissions-
Kalibrierwiderstand Rcal kann im (komplexen, frequenzabhängigen) π-Netzwerk-
Widerstand der Quarz-Meßtore RT ausgedrückt werden( RT ideal = 25 Ω reell). Er
ergibt sich aus Kalibrierung mit Kurzschluß (UBK) und mit Rcal (Ucal) zu
Rcal
RT = (37)
UBK
-1
UBcal
wobei von diesem Wert die parallel liegende Übersprechkapazität Cc nach obigem
Verfahren abzuziehen ist.
Die RT - und Cc -Werte können tabellarisch gespeichert werden und Zwischenwerte
bei Bedarf interpoliert werden.
Vor jeder Mesung wird dann nur eine Kalibrierung mit einem KalibrierwiderstandRN
durchgeführt. Die unbekannte Impedanz Rx ergibt sich dann aus der B-Kanal-
Spannung URN (mit RN) und der Spannung UBx (mit Rx) nach
URN  URN
Rx = RT  - 1  + RN (38)
UBx  UBx
Wird für RN ein Kurzschluß (RN = 0) verwendet (B-Kanalspannung UBK) , vereinfacht
sich dies zu
UBK 
Rx = RT  - 1 (39)
UBx 
wobei auch hier stets der Parallelleitwert von Cc zu subtrahieren ist.

4.2.2 Messung der Quarzparameter

[Link] Messung der Kapazitäten C0, Cp

Neben der statischen Kapazität C0, die bei 1 MHz mit einer Kapazitätsmeßbrücke
gemessen wird, kann mit dem Verfahren direkt die bei der Quarzfrequenz wirksame
Parallelkapazität Cp bestimmt werden.
Wie in Abschnitt 4.1.3 beschrieben, wird der Quarz in dasπ− Netzwerk eingesetzt
und bei der Frequenz fc die komplexe Spannung UBC gemessen. Cp ergibt sich dann
aus dem Imaginärteil der gemessenen Impedanz zu :

10
 UBK
-1
1 UBN
Cp = - Cc (40)
j ω RN UBK
-1
UBC
Für fc werden mehrere Meßpunkte im Abstand von circa. ± 1%....± 5% unterhalb und
oberhalb der Resonanz ausgewählt und der Mittelwert der nahe
beieinanderliegenden Ergebnisse verwendet. Ausreißer sind Meßfehler und/oder
durch den Einfluß von Nebenresonanzen verfälschte Werte. Zur Erhöhung des
Signal-Rauschabstands sollte - insbesondere bei tieferen Frequenzen - der
Generatorpegel erhöht werden (getrennte Leerlauf-Kalibrierung!).
Bei der Auswertung des Realteils der gemessenen Impedanz ergibt sich rechnerisch
ein zusätzlicher Parallelleitwert Gp parallell zu Cp. Dieser ist bei Frequenzen
unterhalb 100 MHz durch Meßunsicherheiten (Phase nahe bei 90° !) so stark
verfälscht, daß er nicht verwendet werden kann und in der Praxis auch
bedeutungslos ist. Erst bei sehr hohen Frequenzen wird Gp signifikant und kann bei
Bedarf mit berücksichtigt werden. Dieser virtuelle Wert repräsentiert die Verluste,
die durch den Einfluß der endlichen Güte der Zuleitungsinduktivitäten hervorgerufen
werden.

[Link] Messung der dynamischen Parameter und der charakteristischen Frequenzen

Mit der in 4.2.1 beschriebenen Methode wird bei zwei Frequenzenω1 und ω2 in der
Nähe der Resonanz jeweils die Quarzimpedanz bestimmt und die Werte in
Admittanzform dargestellt:
1
Yx1 = = a1 + j b 1 (41)
Rx1(ω1)
1
Yx2 = = a2 + j b 2 (42)
Rx2(ω2)
Die Generatorspannung bzw. der UBK-Wert wird wie in Abschnitt 4.1.1 so eingestellt,
daß die spezifizierte Quarzbelastung (Quarzverlustleistung Pc bzw. Quarzstrom Ic)
bei der Resonanz ereicht wird, d.h.:
Pc (mW)
UBK (mV) = 5,18 (R 1 (Ω ) + RT (Ω )) (43)
R1 (Ω )
UBK (mV) = 0,183 I c (mA) (R 1 (Ω ) + RT (Ω )) (44)

Aus den Admittanzwerten können die dynamischen Quarzparameter explizit

berechnet werden zu:
ω1 b1* - ω2 b2*
L1 = (45)
ω12 - ω22
ω12 - ω22
C1 = 2 (46)
ω2 ω1 b1* - ω12 ω2 b2*
a1* + a2*
R1 = (47)
2
mit
1
ai* + j b i* = (48)
ai + j (bi - ωi (C0 + Cc))

Auch bei ungünstiger Lage der Meßfrequenzenω1 und ω2 wird die aus L1 und C1
berechnete Serienresonanzfrequenz

11
 1
fs = (49)
2π L1 C1
bereits sehr genau, so daß daraus gegebenenfalls günstiger liegende weitere
Meßfrequenzen bestimmt werden können. Die optimalen Meßfrequenzen für C1 und
L1 liegen bei +45° bezogen auf den Punkt fs, d.h. beim „oberen“und „unteren“
Scheitelpunkt des Ortskreises (Maximum und Minimum des Imaginärteils des
Leitwertes Y). R1 wird am genauesten beim Punkt fs, d.h. am „rechten“Extrempunkt
des Ortskreises (Maximum des Realteils von Y) bestimmt.

Alternativ kann eine Grobbestimmung von fs auch dadurch erfolgen, daß im

erwarteten Frequenzbereich schnell „nach plus“und einmal „nach minus“gewobbelt
wird und der Mittelwert der sich ergebende Maximaladmittanzfrequenz als Startwert
für f s gesetzt wird.

Die übrigen charakteristischen Frequenzen rf (Resonanzfrequenz), fm

(Maximaladmittanzfrequenz) usw. können aus den gemessenen Daten errechnet
werden. Die Formeln sind in der Tabelle zusammengestellt:

Verlustfrei Phase Null Maximal-

/Minimaladmittanz
Frequenz 1  1 4   r 
f s= fr=f s   f m ≈f s 1 − 
2π L 1 C1 1 + 1 −
4r 
1−
  2Q 2 
 M2 
 r 
≈f s 1 +  für M ≥ 2
 2Q 2 
1 ϕ r =O 2
ϕ s = arctan  ϕ m = ϕ c = arctan 
Phase M  M 
Frequenz
fp =
1  1  4   r 
fq = fp   f n ≈f p 1 + 
C ⋅C  4 r 1 −
1 − 1−   2Q 2 
2π L 1 0 1   M2 
C 0 + C1
 r 
1 ≈f r 1 −  für M ≥ 2
= fs 1+  2Q 2 
r
 1
≈f s 1 + 
 2r 
Phase 1 ϕa = O 2
ϕ p = ϕ s = arctan  ϕ n = ϕ m = arctan 
M  M 
Tabelle: Zusammenhang der charakteristischen Frequenzen

Dabei sind M die Parallelgüte und r das Kapazitätsverhältnis

1 Q
M= = (50)
ωC0 R1 r
C0
r= (51)
C1
Die charakteristischen Frequenzen liegen
fm < f s < f r < f a < f p < f n (52)
Bei M < 2 schneidet der Ortskreis die reelle Achse nicht mehr, d.h. fr und fa existieren
nicht mehr.
12
4.3 Messung der Lastresonanz
Die Messung der Lastresonanzfrequenz fL mit dem Lastresonanzwiderstand RL und
den damit verbundenen Größen Lastresonanzfrequenzen-Offset DL, Ziehbereich
DL1,L2 und Ziehempfindlichkeit S erfolgt traditionell im π− Netzwerk unter Verwendung
eines Last-C-Vorstecker gemäß (DIN) IEC 444-4 (Lit. [4]). Die dabei auftretenden
Meßfehler sind wesentlich größer als bei der Messung von rf und R1.
Bei einem moderneren Verfahren (siehe Lit. [27]) wird die Lastresonanzfrequenz
direkt im normalen π− Netzwerk softwaremäßig gemessen, indem durch ein iteratives
Suchverfahren die Frequenz fL ermittelt wird, bei der der Schwingquarz die durch die
Lastkapazität gegebene komplexe Impedanz besitzt.
Dieses neue Verfahren wurde durch umfangreiche Vergleichsmessungen bestätigt,
die eine Verbesserung der Genauigkeit und Reproduzierbarkeit gegenüber der
Vorsteckermethode um den Faktor 3 bis 5 nachweisen. Die Methode wird derzeit bei
DIN und IEC als internationale Norm vorbereitet.

4.3.1 Messung mit physikalischer Lastkapazität (Vorstecker)

Um eine ausreichende Genauigkeit zu erzielen, ist es erforderlich, daß die
Lastkapazität CL realisiert wird durch 2 Kondensatoren mit dem Wert [Link], die als
Vorstecker an den beiden Quarzanschlüssen zwischenπ-Netzwerk und Quarz
eingefügt werden, wie in Bild 4.7 gezeigt.

Bild 4.7: π-Netzwerk mit Lastkapazitäts-Vorstecker

Die Kalibrierung der Lastkapazitäts-Vorstecker erfolgt mit einer geeigneten

Meßbrücke bei 1 MHz, wobei folgende Toleranzen unterschritten werden sollen:
bis 9,9 pF Toleranz + 0,15 pF
10... 19,9 pF Toleranz + 0,2 pF
20... 39,9 pF Toleranz + 0,25 pF
40... 99,9 pF Toleranz + 0,3 pF
ab 100 pF Toleranz + 0,4 pF

Die Übersprechkapazität Cc bei eingefügtem Lastkapazitätsadapter (ohne Quarz)

beträgt maximal 0,2 pF (s. Abschnitt [Link]).

Die durch die Zuleitungen hervorgerufene Serieninduktivität der Lastkapazität

beträgt typisch 10 nH bis 20 nH und ist gegebenenfalls bei höheren Frequenzen zu
berücksichtigen

Der Temperaturkoeffizient der Lastkapazität beträgt max. 30 ppm/K bei 25°C.

Die Meßfehler des Vorstecker-Verfahrens sollen genauer betrachtet werden.

13
[Link] Allgemeine Meßfehler bei der Bestimmung von fL und RL
Aus der Formel für die Ziehempfindlichkeit S ergibt sich der relative Frequenzfehler
infolge der Toleranzen der Lastkapazität zu

df L
= S ⋅dC L (53)
fs

In Bild 4.8 ist der typische Verlauf der Ziehempfindlichkeit |S| für Grundwellen- und
Obertonquarze in Abhängigkeit von der Lastkapazität grafisch dargestellt. Dabei
wurde von folgenden typischen Quarzen ausgegangen:

C1 [fF] C0 [pF]
Grundwellenquarze (planparallel) 25 6
Grundwellenquarze (konvex) 10 5
Schwingquarze 3. Oberton 2,2 6

Bild 4.8: Typische Ziehempfindlichkeit verschiedener Schwingquarze

Mit den oben angegebenen Toleranzen für die Lastkapazität kann mit Hilfe von
Gleichung (53) die Unsicherheit bei der Messung der Lastresonanzfrequenz in
Abhängigkeit von der Lastkapazität bestimmt werden. Bild 4.9 zeigt diese möglichen
Frequenzfehler dfL für Grundwellenquarze sowie Quarze im 3. Oberton.

14
 Bild 4.9: Typischer Fehler der Lastresonanzfrequenz infolge der CL-Toleranz

Wie aus den Kurven ersichtlich ist, treten für Grundwellenquarze erhebliche
Meßunsicherheiten insbesondere bei kleinen Lastkapazitäten auf, während dieser
Fehler bei Obertonquarzen im allgemeinen vernachlässigbar ist.

Die Bestimmung des Lastresonanzwiderstandes RL wird zum einen ebenfalls von

dem Fehler der Lastkapazität bestimmt. Wesentlich größer ist jedoch in der Praxis
der Einfluß der Streukapazitäten zwischen den Quarzanschlüssen und Masse (siehe
Bild 4.10)

Bild 4.10: Streukapazitäten beim π-Netzwerk mit CL - Vorstecker

In dieser Anordnung ergibt sich die frequenzbestimmende Lastkapazität zu

C + CB
CL = A (54)
2
während der gemessene Lastresonanzwiderstand sich aus
 2 ⋅C 0 + CB  2  2( C 0 + C L )
R L = R 1 1 +  = R1  (55)
 CA   CA 
berechnet, was einen höheren Wert ergibt, als wenn die Lastkapazität CL voll in CA
konzentriert wäre.

[Link] Zusätzliche Meßfehler bei höheren Frequenzen

Wie oben angeführt, wird die Lastkapazität bei 1 MHz kalibriert. Durch den
praktischen Aufbau ergeben sich jedoch Zuleitungsinduktivitäten in der

15
Größenordnung von mehreren 10 nH, die in Reihe zur Lastkapazität liegen. Die
effektive Kapazität einer derartigen Anordnung beträgt
CL
C L eff = 2
(56)
f 
1−  
f 0 
wobei f die Meßfrequenz und f0 die Eigenresonanzfrequenz von
Zuleitungsinduktivität und Lastkapazität ist. Durch diesen Einfluß können sich
insbesondere bei höherfrequenten Grundwellenquarzen (oberhalb 20 MHz)
erhebliche Verfälschungen der Lastresonanzfrequenz ergeben.

Kann der dadurch hervorgerufene Meßfehler gegenüber der zulässigen Meß-

(Abgleich-)toleranz nicht mehr vernachlässigt werden, dann muß dieser durch eine
Korrektur berücksichtigt werden. Eine Methode hierzu wird im folgenden
beschrieben:

A. Ermittlung der Zuleitungsinduktivität

Die Lastkapazität CL wird bei einer tiefen Frequenz (z.B. 1 MHz) genau ermittelt. Bei
zwei oder drei höheren Frequenzen (im Bereich 10 MHz - 40 MHz) wird mit Hilfe von
geeigneten Grundwellenquarzen mit hohem C1 mit genau bekannten Ersatzdaten
und Serienresonanzfrequenzen die Lastresonanzfrequenz Lf eff mit dem Adapter
gemessen und daraus die effektive Lastkapazität bei der entsprechenden Frequenz
ermittelt:
C1 ⋅f s
C L eff = − C0 (57)
( )
2 f L eff − fs

Die Eigenresonanzfrequenz aus Lastkapazität und Zuleitungsinduktivität LS

1
f0 = (58)
2π L S ⋅C L
ergibt sich nach Gleichung 54 zu:
f
f0 = (59)
CL
1−
C L eff
wobei f die Meßfrequenz ist.

Nach der Thomsonschen Formel (58) erhält man schließlich die gesuchte
Zuleitungsinduktivität LS zu
1
LS = (60)
(2πf 0 )2 ⋅C L
In der Regel ist das hier zugrundegelegte Modell für den Lastkapazitätsadapter
genau genug, so daß man bei allen Frequenzen etwa den gleichen Wert für LS
findet, von dem man den Mittelwert in der weiteren Rechnung verwendet.

Die effektive Lastkapazität ist dann bei einer beliebigen Frequenz

CL
C L eff = (61)
1 − ω 2 CL LS

16
B. Korrektur der Lastkapazität
Der Fehler kann nun wie folgt korrigiert werden:
Die mit dem realen Last-C-Adapter (effektive Lastkapazität CL eff ) an einem Quarz
gemessene Lastresonanz fL eff liegt um den Relativbetrag

D C L C L eff =
(
C 1 C L eff − C L) (62)
( )
2 C 0 + C L eff ( C 0 + C L )
neben der korrekten Lastresonanzfrequenz Lf , die sich mit einer idealen
Lastkapazität CL ergeben würde. Die korrigierte Lastresonanfrequenz Lf ist daher

f L = f L eff 1 +
(
C 1 C L eff − C L )
 (63)
(
 2C + C
 0 )
L eff ( C 0 + C L )


Bild 4.11a zeigt die durch eine Zuleitungsinduktivität von insgesamt 10 nH

(entspricht einem 1 mm ∅ -Drahtstück von 8 mm Länge, d.h. 2 mm Zuleitung pro
Kondensatoranschluß!) hervorgerufene Erhöhung der effektiven Lastkapazität. In
Bild 4.11b ist das gleiche für LS = 20 nH dargestellt.

Bild 4.11a: Effektive Lastkapazität durch eine Serieninduktivität von 10 nH

17
Bild 4.11b: Effektive Lastkapazität durch eine Serieninduktivität von 20 nH

Der dadurch hervorgerufene relative Frequenzfehler dFL bei der Messung der
Lastresonanzfrequenz ist in Bild 4.12a,b für den Grundwellenquarz (planparallel)
und den 3. Obertonquarz in Abhängigkeit von der Frequenz für LS-Werte von 10 nH
und 20 nH dargestellt. Parameter ist dabei die Lastkapazität.

Bild 4.12a: Fehler der Lastresonanzfrequenz durch eine Serieninduktivität von 20 nH

18
 Bild 4.12b: Fehler der Lastresonanzfrequenz durch eine Serieninduktivität von 20 nH

Wie man erkennen kann, ergeben sich insbesondere bei hochfrequenten

Grundwellenquarzen Abweichungen von 3 bis 10 ppm, im 3. Oberton bis 5 ppm.

4.3.2 Messung ohne physikalische Lastkapazität

[Link] Meßprinzip
Diesem Verfahren, das in Lit. [27] veröffentlicht wurde, liegt die Ortskreismethode,
wie sie in Abschnitt 4.2 ausführlich dargestellt ist, zugrunde. Zur Vereinfachung der
Formeln wird die in [Link] beschriebene Grundkalibrierung vorausgesetzt, bei der
die π-Netzwerk - Impedanz RT (an den Quarztoren) und die Übersprechkapazität Cc
bekannt sind und die Einzelmessung sich nur auf eine Kuzschluß-Kalibrierung U ( BK)
bezieht.
Die Ausgangsspannung UBx am π-Meßkopf bei einem Meßobjekt mit der Admittanz
Yx ist dann
UBK
UBx = (64)
1
+1
Yxtot RT
wobei in Yxtot die Übersprechkapazität enthalten ist, d.h.
Yxtot = Yx + j ω Cc. (65)
Bei der Serienresonanzfrequenz fs hat der Schwingquarz einen Leitwert von
1
Ys = + j ω C0, (66)
R1
bei der Resonanzfrequenz fr ist er
1
Yr = , (67)
Rr
Bei der Lastresonanzfrequenz fL ist der Blindwiderstand XL des Schwingquarzes
entgegengesetzt gleich dem Blindwiderstand XCL der Lastkapazität CL, d.h. die
Quarzimpedanz ZL beträgt
ZL = RL + j X L (68)
mit
 C0 2
RL = R1 1 +
CL 
(69)
 

19
 1
XL = (70)
ω CL
und der Leitwert ist entsprechend
1
YL = (71)
ZL

Die Lastresonanzfrequenz fL ist die Frequenz, bei der am B-Kanal die Spannung
UBK
UBL = (72)
1
+1
(YL + j ω Cc) RT
anliegt.

[Link] Meßschritte
Zunächst wird nach der Ortskreismethode der (/Serien-) Resonanzwiderstand Rr
bzw. R1 sowie C0 bestimmt. Daraus kann die Quarzimpedanz ZL bei der
Lastresonanzfrequenz fL nach Gl. (68) und die zugehörige B-KanalspannungUBL bei
fL nach Gl. (72) errechnet werden.
Bei Grundtonquarzen ist es ausreichend, hierbei nur den Imaginäranteil der
Spannung zu betrachten, da dieser überwiegt. Wird als Meßgerät ein
Netzwerkanalysator eingesetzt, kann die SpannungUBL mit Hilfe von "Marker -
Suchfunktionen" sehr schnell ermittelt werden. Bei Einsatz eines Vektorvoltmeters
und separatem Generator muß die Frequenz entweder durch schrittweises Erhöhen
der Frequenz oder durch iteratives Suchen in der Nähe der erwarteten Frequenz
ermittelt werden, wobei die Newton-Iteration wegen des monotonen Verlaufs von
UBL(f) sehr schnell zum Ergebnis führt.

Bei der Lastresonanzfrequenz ist die Impedanz des Schwingquarzes sehr hoch und
überwiegend induktiv, für die spezifizierte Quarzbelastung Pc muß daher die
Ausgangsspannung des Generators gegenüber der sf-Messung etwa um den Faktor
XL2
1+ 2 (73)
RL
erhöht werden (Einfluß von Cc vernachlässigt).
Analog zu Abschnitt 4.1.1 Gln. (17) und (18) beträgt die UBK-Spannung für die
gewünschte Quarzbelastung
Pc (mW)
UBK (mV) = 5,18 (R L (Ω ) + RT (Ω )) (74)
RL (Ω )
UBK (mV) = 0,183 I c (mA) (R L (Ω ) + RT (Ω )) (75)
Kann der Generator nicht die notwendig hohe Ausgangsleistung liefern, werden die
Messungen bei einer niedrigeren Quarzbelastung ausgeführt. Die Messung der
Serienresonanz erfolgt dann bei dieser niedrigeren Belastung Pc2 und bei
Nennbelastung. Die Frequenzdifferenz fs (Pcnenn) - fs (Pc2) wird dann zur gemessenen
Lastresonanzfrequenz addiert, um die Änderung der Frequenz in Abhängigkeit von
der Quarzbelastung (DLD) zu berücksichtigen.

[Link] Genauigkeit der Messung:

Da die Bestimmung der Lastresonanzfrequenz ohne physikalische Lastkapazität im
Prinzip auf der Messung einer Spannungsamplitude beruht, ist mit folgenden
Fehlereinflüssen zu rechnen.
(a) Rauschen am Meßkanaleingang

20
Aufgrund des Eigenrauschens des Meßgeräts entsteht ein gewisser Restfehler bei
der Bestimmung der Lastresonanzfrequenz fL. Eine Erhöhung der Meßgenauigkeit
kann erreicht werden durch
• Verringern des Amplitudenrauschens durch Mittelwertbildung aus mehreren
Meßwerten
• Erhöhung der Empfindlichkeit z.B. bei Netzwerkanalysatoren durch Reduzierung
der ZF-und Video-Bandbreite
• Erhöhen der Generatorspannung. Hierbei muß allerdings die
Frequenzverschiebung des Quarzes bei unterschiedlichen Quarzbelastungen
berücksichtigt werden.
(b) Amplituden-Meßfehler
Wegen des hohen Impedanzunterschieds zwischen Kurzschlußkalibrierung und der
Lastresonanzimpedanz muß die Amplitudenmessung über einen relativen großen
Dynamikbereich (bis zu 45dB) sehr genau und mit hoher Auflösung (< 0,025dB)
erfolgen. Am kritischsten sind die Abweichungen bei den Pegelbereichs-
Umschaltungpunkten des Geräts. Dies ist bei der Meßgeräteauswahl und bei
Vergleichsmessungen mit anderen Meßplätzen zu beachten.
(c) Genauigkeit der Kalibrierung
Die Genauigkeit der bei der Kalibrierung bestimmten π-Meßkopf-Parameter RT und
Cc hat einen großen Einfluß auf die Meßgenauigkeit. Die Kalibrierung ist daher mit
großer Sorgfalt durchzuführen (Kontaktübergangswiderstand usw.).
(d) Einfluß von Streukapazitäten gegen Masse
Da der Quarz ohne Gehäuseerdung gemessen wird, haben Streukapazitäten des
Gehäuses nach Masse insbesondere bei kleinen Lastkapazitätswerten einen
merkbaren Einfluß und können zu einem systematischen Meßfehler führen.

4.4 Messung von Nebenresonanzen

Unerwünschte oder Nebenresonanzen von Schwingquarzen werden im
Ersatzschaltbild als zusätzliche Serienschwingkreise Li,Ci,Ri (i = 2,...,N parallel zu
L1,C1,R1) dargestellt. Das Verhältnis von Nebenresonanzwiderstand Ri zum
Serienresonanzwiderstand R1 der Hauptwelle wird auch als „Schutzfaktor“SF
bezeichnet und häufig als Nebenwellendämpfung aNW in dB spezifiziert:
Ri
SF = (76)
R1
Ri
aNW = 20 lg = 20 lg SF (77)
R1
Für Oszillatorquarze sind typisch 3 dB bis 10 dB gefordert, bei Filterquarzen oft
mehr als 40 dB.
Manchmal findet man auch von dieser Definition abweichende dB-Angaben, die sich
z.B. auf die dB-Werte beziehen, die an einem Meßgerät abgelesen werden. Diese
sind jedoch abhängig vom verwendeten Meßadapter und sollten daher vermieden
werden. Bietet der Meßdadapter an den Quarzanschlußtoren eine Impedanz RT an,
dann sind die damit gemessenen Dämpfungswerte mit den Resonanzwiderständen
über eine Beziehung der Form
Ri + RT
amess = 20 lg (78)
R1 + RT
verbunden. Beim π-Meßkopf nach (DIN) IEC 444 ist RT = 25 Ω , im 50-Ω -System ist
RT = 100 Ω .

21
Bis zu aNW-Dämpfungen von 20 ... 30 dB können Nebenresonanzen, die nicht auf
der Flanke der Hauptresonanzkurve liegen, mit dem π-Netzwerk nach (DIN) IEC
444-1 gemessen werden. Bei höheren Dämpfungen muß die Messung mit einer
physikalischen C0-Kompensation erfolgen. Dies ist für Frequenzen unter 100 MHz
mit einer Differential-Meßbrücke nach IEC 283 möglich, günstiger und
reproduzierbarer ist die Verwendung eines 180°-Hybridleistungsteilers.

4.4.1 Messung im π-Meßkopf

Für Frequenzen unter 100 MHz und Nebenresonanzen unter ca. 300Ω kann die
Messung nach (DIN) IEC 444-1 wie bei Hauptresonanzen erfolgen, wie in Abschnitt
4.1 beschrieben, sofern die Nebenresonanzen nicht auf der Flanke der
Hauptresonanz liegen.
Infolge des durch C0 vorhandenen „Nebenschlusses“werden schwache
Nebenresonanzen in der Amplitude scheinbar angehoben oder sogar verdeckt.
Ebenso werden Nebenresonanzen, die auf der Flanke der Hauptresonanz liegen, in
der Amplitude - und damit bei der Bestimmung ihres Resonanzwiderstandes stark
verfälscht.

Bessere Ergebnisse bringt die Anwendung der Ortskreismethode nach (DIN) IEC
444-5 (Abschnitt 4.2) in Verbindung mit dem in Lit. [29] zuerst beschriebenen und in
und [30] verbesserten Abspaltverfahren. Es ist auch auf schwächere
Nebenresonanzen bis ca. 1 kΩ anwendbar und funktioniert auch noch bei
Nebenresonanzen, die in der Nähe von stärkeren Resonanzen liegen.
Das Prinzip beruht darauf, daß das gemessene Nebenwellenspektrum zunächst
umgerechnet wird in einen Datensatz des komplexen Leitwerts (Admittanz). Danach
werden die Parameter (Ersatzdaten) der „herausgezoomten“Hauptresonanz
einschließlich C0 ermittelt werden, und dann rechnerisch deren Admittanzanteil im
Frequenzbereich von dem Meßdatensatz subtrahiert (abgespalten). Das Prinzip soll
an einem Rechenbeispiel veranschaulicht werden.

Folgendes Resonanzspektrum eines Schwingquarzes wird angenommen:

Hauptres. Nebenresonanzen
i= 1 2 3 4 5
Ci (fF) = 25 0,25 2 0,25 4
Ri (Ω ) = 10 1000 100 1000 50
fi (kHz)= 10000 10008 10015 10100 10200
C0(pF)= 6,0
Tabelle: Spektrum von Haupt- und Nebenresonanzen

22
 fre q ue ncy [kHz]
9990 10040 10090 10140 10190
0,1

0,01

0,001

0,0001

0,00001

0,000001

Bild 4.13: Sukzessives Abspaltverfahren zur Nebenwellenmessung

Bild 4.13 zeigt den Betrag des Leitwerts in logarithmischer Darstellung, wie er sich
auf einem Impedanzanalysator darstellt. Die durchgezogene Kurve ist der
Gesamtleitwert aller Resonanzen.
Wird von diesem Gesamtspektrum die Admittanz der Hauptresonanz und des C0
subtrahiert (abgespalten), verbleibt die gestrichelt gezeichnete Kurve. Sehr gut ist zu
erkennen, wie sich die auf der Flanke der Hauptresonanz ursprünglich nur schwach
herausgebildete 1. Nebenresonanz (i = 2) und die durch den Leitwert des C 0
teilweise zugedeckte Resonanz Nr.4 nun deutlich herausheben. Alle verbleibenden
Resonanzen zeigen eine wesentlich symmetrischere Form.

Von dem so „bereinigten“Datensatz der Restadmittanz werden nun die Ersatzdaten

(ohne C0) der stärksten Nebenwelle (im Beispiel: Nr.5)ermittelt und der daraus
berechnete Admittanzanteil wieder von dem „bereinigten“Datensatz abgespalten.
Dies wird schrittweise solange fortgesetzt, bis alle interessierenden Nebenwellen
erfaßt sind.
Die Meß- und Auswerteprozedur ist wie folgt:

[Link] wie in Abschnitt 4.2.1

• Kalibrierung mit Kurzschluß, Leerlauf und Referenzwiderstand RN im
Frequenzbereich der Haupt- und Nebenresonanzen
• Bestimmung der Übersprechkapazität Cc
• Bestimmung der statischen Parallelkapazität Cp

2. Übersichtssweep im Frequenzbereich
Schneller Sweep in ca. 0,5 ... 5 sec mit Messung von Spannung und Phase |UB(f)|
and Phase ϕ B(f) bei mind. 501 Punkten
Umrechung der Meßdaten UB(f) = |U B(f)| ∠ϕ B(f) in Admittanzwerte Yx (f) =|Yx (f)|
∠ϕ x(f) und Subtrahieren des Leitwerts der Übersprechkapazität Cc und der
statischen Parallelkapazität Cp
UBK 
U - 1
 BN 
Yx(f) = - j ω(Cc + Cp) (79)
 UBK 
RN* - 1
UB(f) 

23
Dieser Sweep dient nur zur Identifizierung der Resonanzen, nicht zur genauen
Bestimmung der Ersatzdaten.

3. Identifizieren der Resonanzen

Zur Identifizierung der Resonanzen kann die in vielen Netzwerkanalysatoren
eingebaute Funktion der Peaksuche verwendet werden. Steht diese nicht zur
Verfügung kann dies nach dem folgenden Suchalgorithmus erfolgen:
(a) Vergleiche |Yx(fi-1)| mit |Y x(fi)| and |Yx(fi+1)| für alle Meßwerte i = 2 ... 500.
Wenn
|Yx(fi)| > |Y x(fi-1)| und |Yx(fi)| > |Y x(fi+1) (80)
dann ist der Datenpunkt fi ein möglicher Resonanzpeak fpeak i.
(b) Unterscheiden der „echten“Resonanzen von scheinbaren (Rauschspitzen etc.)
anhand der halben Gütebandbreite
fpeak
∆fmin = (81)
2 Qmax
Richtwert Qmax = 1 000 000
Jeder in (a) gefundene mögliche Resonanzpunkt wird in seinen Flanken peak f ± ∆fmin
geprüft, ob die Amplitude an der Flanke höchstens um den Faktor
|Yx(fpeak)|
≤ 2 (82)
|Yx(fpeak ± ∆fmin)|
abgefallen ist.
(c) Ist Bedingung (b) erfüllt, erfolgt die Prüfung, ob der Peak schmalbandig genug
ist. Die maximale Gütebandbreite ergibt sich aus der minimal realistischen Güte
Qmin:
fpeak
∆fmax = (83)
2 Qmin
Richtwert Qmin = 10 000
Jeder in (b) gefundene mögliche Resonanzpunkt wird in seinen Flanken peak f ± ∆fmax
geprüft, ob die Amplitude an der Flanke mindestens um den Faktor
|Yx(fpeak)|
≥ 2 (84)
|Yx(fpeak ± ∆fmax )|
abgefallen ist.
Dann wird der Peak endgültig als Resonanzstelle akzeptiert.

4. Zoomen der Resonanzen

Zur genauen Bestimmung der Daten wird die engere Umgebung fpeak ± ∆fmax jedes
Resonanzpeaks mit 11 oder 21 Datenpunkten gemessen (langsamer Sweep). Zur
Vermeidung von „Klingeln“muß die Sweepzeit an die Güte der Resonanz angepaßt
werden:
Qtyp
tsweep > 10 (85)
ω0
Als typische Güte kann
Qtyp = Qmin Qmax = 100 000 (86)
angesetzt werden.
Die Meßdaten von Amplitude und Phase werden nach der in Schritt 2 angegebenen
Formel in Admittanzwerte umgerechnet.

5. Berechnen der Hauptresonanz

24
Der Peak mit der niedersten Frequenz ist normalerweise die Hauptresonanz. Die
Ersatzdaten werden nach der Ortskreismethode (siehe oben) aus dem
Meßwertesatz für den gezoomten Sweep ermittelt, von dem je ein Flankenpunkt
unterhalb und oberhalb des Maximums und ein Punkt in der Nähe der daraus
ermittelten Serienresonanzfrequenz verwendet werden. Gegebenenfalls können
weitere Punkte des Datensatzes, die optimaler liegen, zusätzlich verwendet werden.
Damit sind fs1, R1, C1 (sowie L1, Q1) bestimmt.

6. Abspalten der Hauptresonanz

Der komplexe Leitwert (Admittanz) der Hauptresonanz kann mit den in Schritt 5
bestimmten Ersatzdaten ausgedrückt werden zu
1
Y1(f) = (87)
1  f² 
R1 + j  - 1
2πf C1 fs1² 
Diese Admittanz wird nun bei allen in Schritt 4 gezoomten Intervallen von den dort
errechneten Admittanzwerten subtrahiert. Es verbleibt jeweils das erste Residuum
Yres(1) (f) = Yx(f) - Y1(f) (88)

7. Berechnen der zweiten Resonanz (1. Nebenwelle)

Es wird nun das Intervall mit der stärksten verbleibenden Resonanz, d.h. dem
größten Leitwertbetrag |Yres(1)| ausgewählt. Die Paramter dieser Resonanz werden
nach dem gleichen Verfahren wie bei der Hauptresonanz gemäß Schritt 5 bestimmt,
d.h. aus dem um die Hauptresonanz „bereinigten“Datensatz werden zwei Punkte
unterhalb und oberhalb des Maximums ausgewählt. Diese liegen in de Nähe der
±45° Phasenpunkte. (Bei sehr schwachen Resonanzen sollten sie noch näher, z.B.
bei ±20° liegen).
Daraus ergeben sich die Daten der ersten Nebenresonanz (= zweite Resonanz)s2f ,
R2, C2 sowie L2, Q2.

8. Abspalten der Nebenresonanz

Der Leitwertbeitrag der Nebenresonanz
1
Y2(f) = (89)
1  f² 
R2 + j  - 1 
2πf C2 fs2² 
wird nun von der ersten Restadmittanz Yres(1) (f) aus Schritt 6 subtrahiert, und zwar
für alle verbleibenden gezoomten Meßintervalle. Dies liefert das zweite Residuum
Yres(2) (f) = Yres(1)(f) - Y2(f) (90)

9. Wiederholung für alle übrigen Nebenresonanzen

Das zweite Residuum ist der Ausgangspunkt für die Bestimmung der
nächststärksten Nebenwelle wie in Schritt 7 und anschließend ihre Abspaltung wie
in Schritt 8. Das Verfahren wird für alle verbleibenden Meßintervalle fortgesetzt.

10. Bewertung der Meßgenauigkeit

Zum Schluß kann eine Bewertung der Genauigkeit der gesamten Meßprozedur
vorgenommen werden, indem die Admittanz aller N gemessenen Resonanzen
aufsummiert wird
Yges = Σ Yi + j ω(Cc + Cp) i = 1 ... N (91)
und mit dem Meßdatensatz verglichen wird:

25
 Yfehler = Ymess - Yges (92)
Dies ist identisch mit dem letztverbleibenden Residuum.
Die normierte Fehlerquadratsumme davon kann als Maß für die Qualität der
Messung herangezogen werden.

4.4.2 Nebenwellen-Meßbrücke nach IEC 283 (DIN 45105 Teil 4)

Dieses klassische Verfahren zur Nebenwellenmessung verwendet einen
Differentialübertrager, bei dem in einen Zweig der zu messende Quarz und im
Gegenzweig ein variabler Kondensator geschaltet wird (siehe Bild 4.14)

Bild 4.14: Nebenwellenmessung mit Meßbrücke nach IEC 283 /DIN 45105 T.4 (aus [13])

Am Eingang der Meßbrücke ist ein Widerstand R zum Abschluß der Eichleitung
(Dämpfungsglied) vorgesehen, z.B. 50 bzw. 75 Ω . Die Meßbrücke wird am Ausgang
mit einem Abschlußwiderstand RT abgeschlossen, der in der Norm wie folgt definiert
ist:
1
RT = oder RT = 220 kΩ (93)
2π fr (2 CB + CBD)
(der kleinere der beiden Werte ist zu verwenden)
mit CBD = (8 ±1) pF

Die Meßanordnung wird zwischen Sender und Empfänger eines

Netzwerkanalysators geschaltet, wobei der Empfängereingang an RT angepaßt
werden muß. Der Kondensator CB wird so eingestellt, daß die statische Kapazität C0
des Quarzes kompensiert wird, wodurch auch schwache Nebenresonanzen
gemessen werden können. CA = 3,5 pF ist zugeschaltet, damit auch C0-Werte
kleiner als die minimale Kapazität von CB kompensiert werden können.
Aus der Amplitude der Resonanzspitze Ui wird der Resonanzwiderstand Ri durch
Vergleich mit einem Kurzschluß UK anstelle des Quarzes bestimmt
UK 
Ri = RT  - 1 (94)
Ui 
Die Lage des Amplitudenmaximums wird als Frequenz der Nebenwelle definiert. Zur
Vermeidung von Meßfehlern durch das sog. „Klingeln“der schmalbandigen
Resonanzen darf das Frequenzspektrum nur langsam durchgewobbelt werden bzw.
sind die einzelnen Peaks manuell anzusteuern. Der Kompensationskondensator
wird bei breitbandiger Betrachtung des Frequenzspektrums so eingestellt, daß sich

26
eine symmetrische „Glockenform“um die Hauptresonanz ergibt. Diese Einstellung
entspricht der C0-Kompensation. Zur Messung einzelner - insbesondere schwacher -
Resonanzen ist eine Einstellung empfehlenswert, bei der bei der Resonanz ein
Dämpfungspol (Notch) entsteht. Die zu messende Resonanz hat dann eine
symmetrische Form und der Pegel ist abgesenkt, womit die Widerstandsmessung
genauer wird.
Diese Meßmethode ist relativ einfach und wird sehr häufig eingesetzt, hat aber eine
Reihe von Nachteilen, weshalb die Norm künftig durch ein neues Verfahren ersetzt
werden soll.
Nachteile:
• Der Differentialübertrager muß selbst hergestellt werden, da der in der Norm
definierte nicht mehr kommerziell erhältlich ist. Dies erfordert ein hohes Maß an
speziellem know-how und Erfahrung.
• Nichtideale elektrische Symmetrie, unzureichende Kopplung der beiden
Wicklungshälften, Streuinduktivitäten und Wicklungskapazitäten beeinträchtigen
die erzielbare Genauigkeit und Reproduzierbarkeit.
• Je nach Konstruktion ist der Differentialübertrager nur für einen begrenzten
Frequenzbereich (maximal zwei Dekaden) einsetzbar.
• Der Wert des Abschlußwiderstands ist je nach Quarzfrequenz und C0
unterschiedlich und kann recht hochohmig werden, was in einem 50Ω -
Meßsystem zu einer hohen Grunddämpfung führt, wodurch die Meßdynamik
eingeschränkt ist. Die Frequenzmesssung ist ungenau, da die Lage des
Amplitudenmaximums vom Wert des Abschlußwiderstands abhängt.
• Die Frequenzmesssung ist ungenau, da die Lage des Amplitudenmaximums vom
Wert des Abschlußwiderstands abhängt.
• Eine genaue Kalibrierung ist wegen des Einflusses der Stellung des
Kompensationskondensators prinzipiell nicht möglich, was insbesondere bei
höheren Frequenzen zu größeren Meßfehlern bei der Widerstandsmessung führt.
• Die Kompensationseinstellung ist nicht genau definiert und ist bedienerabhängig.

Es wird daher empfohlen, diese Methode nur zur Abschätzung zu verwenden. Für
stärkere Nebenresonanzen mit einem Resonanzwiderstand kleiner 1 kΩ wird die
Messung direkt im π-Glied mit der Abspaltmethode nach 4.4.1 empfohlen. Für die
Bewertung schwächerer Nebenresonanzen liefert die Hybridmeßbrücke nach 4.4.3
die am besten reproduzierbaren Ergebnisse.

4.4.3 Hybridmeßbrücke
Dieses Verfahren ist eine Verbesserung der Differentialbrückentechnik nach 4.4.2..
Anstelle des kritischen Übertragers wird ein kommerzieller 180°-Hybridkoppler in 50
Ω - Technik verwendet, wie er von vielen Hersteller angeboten wird. Dieses auch als
180°-Powersplitter oder 180°-Leistungsteiler bezeichnete Bauelement ist für eine
Impedanz von 50 Ω optimiert und in einem sehr breiten Frequenzbereich einsetzbar.
Um die Breitbandigkeit auszunützen, werden seine Ausgangstore mit 50Ω -
Dämpfungsgliedern abgeschlossen. Die beiden Signalzweige werden am Ausgang
elektrisch aufsummiert, womit der Strom durch den 180°-Zweig vom Strom im
Quarzzweig subtrahiert und damit eine C0-Kompensation erreicht wird. In Bild 4.15
ist eine Version mit einem Kapazitätsdiodenpaar in Antiserie anstelle des
Trimmkondesators gezeigt. An den Mittenanschluß der beiden Dioden wird über
einen hochohmigen Widerstand (ca. 100 kΩ ) die Abstimmspannung angelegt. Die

27
übrigen Widerstände summieren die Ströme durch die beiden Brückenzweige. Zur
Vereinfachung können die Summierwiderstände auch entfallen, d.h. die beiden
Zweige werden dann am Ausgang zusammengeschaltet. Zur Vermeidung von
Kabelrückwirkungen der Zuleitungen empfiehlt es sich in diesem Fall, zwischen
Summierpunkt und Ausgang des Adapters ein weiteres Dämpfungsglied (3 dB ... 10
dB) zu schalten.

Bild 4.15: Nebenwellenbrücke mit 180°-Hybrid

Die Nachteile des nichtidealen Übertragers werden in dieser Schaltung weitgehend

vermieden. Der Hybridkoppler ist exakt in einem 50 Ω - System definierbar und
damit die Reproduzierbarkeit gewährleistet. Die Kompensation selbst ist wesentlich
breitbandiger als in der Schaltung mit Differentialübertrager nach 4.4.2. Die zwei in
4.4.2 letztgenannten Nachteile bleiben jedoch auch hier erhalten. Damit erlaubt auch
dieses Verfahren lediglich eine Widerstands-Abschätzung aufgrund der Amplitude
und ergibt nur bedingte Aussagen bei Resonanzen, die sehr nahe auf der Flanke
der Hauptresonanz liegen.
Der Widerstand der Resonanzen läßt sich nach dem folgenden Verfahren
abschätzen:
• Einfügen eines Kalibrierelements von 100 Ω // x pF (x = 3...7 pF) anstelle des
Quarzes und Einstellen des Kompensationskondensators auf x pF. Der
Ausgangspegel ist der Referenzpegel a100 (in dBm) für R kal = 100 Ω .
• Einsetzen des Quarzes und Einstellen des Kompensationskondensators auf
Kompensation bei der Frequenz der zu bestimmenden Nebenwelle
• Pegeldifferenz (in dB) ∆a = a100 - aRi zwische der Kalibrierung und der minimalen
Dämpfung der zu messenden Resonanz bestimmen (langsames Sweepen bzw.
manuelles Einstellen).
• Widerstand der Resonanz bestimmen nach der Formel
∆a
Ri = 200 Ω 10 20 - 100 Ω (95)

4.5 Messung der Belastungsabhängigkeit (DLD)

Der DLD-Effekt äußert sich in der Abhängigkeit des Resonanzwiderstands und der
Resonanzfrequenz von der Quarzbelastung (Leistung Pc bzw. Quarzstrom Ic).
Genauere Untersuchungen (Lit. [28]) zeigen, daß sich dabei die gesamte
Resonanzkurve „verbiegt, d.h. der Phasenverlauf ϕ(f) und damit auch der
Blindwiderstand X(f) in der Umgebung von fs nicht mehr geradlinig sind, d.h. sich
auch C1 bzw. L1 ändern. In der Praxis stören in den meisten Fällen vor allem die
Widerstandsänderungen mit der Quarzbelastung.

28
Die Messung des DLD-Effekts erfordert einige Sorgfalt, da dieser Effekt von der
„Vorgeschichte“des Quarzes abhängt. Da ein DLD-behafteter Quarz unmittelbar
nach dem Betrieb bei höherer Quarzbelastung (>100µW) oft für eine gewisse Zeit
„ausheilt“, d.h. die Belastungsabhängigkeit des Widerstandes vorrübergehend
verschwindet, muß sichergestellt werden, daß der Quarz mehrere Stunden nicht
betrieben wurde. Zur Rekonditionierung in den „Grundzustand“wird eine längere
Vorlagerung - möglichst bei erhöhter Temperatur - dringend empfohlen. In der (DIN)
IEC 444-6 (siehe Lit [6]) ist eine Vorlagerung von einer Woche bei Raumtemperatur
oder einem Tag bei +105°C mit anschließend 2 Stunden Angleichung an die
Raumtemperatur vorgesehen. Die Messung muß danach grundsätzlich zuerst bei
der niedrigsten Quarzbelastung (Quarzstrom) erfolgen.

Die (DIN) IEC 444-6 unterscheidet zwischen dem passiven und dem aktiven
Meßverfahren. Das passive Verfahren erlaubt eine Quantifizierung des DLD-Effekts,
nachteilig ist aber, daß die Untergrenze der Quarzbelastung wegen des
Eigenrauschens der Meßgeräte begrenzt ist und daß der Quarzstrom nur in
diskreten Schritten eingestellt werden kann. Beim aktiven Verfahren mit
Testoszillator wird der Quarzstrom beim Anschwingvorgang praktisch von „Null“
erhöht und steigt kontinuierlich bis zur eingestellten Obergrenze an. Allerdings ist
nur eine GO / NO GO - Aussage möglich.

4.5.1 Passivmessung
Es wird das Passiv-Meßverfahren nach (DIN) IEC 444-1 mit π-Netzwerk verwendet.
Die niedrigste Quarzbelastung beträgt bei Verwendung eines Vektorvoltmeters
50 nW, mit einem selektiven Netzwerkanalysator kann bereits ab 0,1 nW gemessen
werden. Die Norm sieht eine Messung von Resonanzfrequenz und -widerstand bei
der minimalen Quarzbelastung (Pmin bzw. Imin), danach bei der maximalen
Quarzbelastung Pmax (Imax ) (üblicherweise der Nennbelastung) und abschließend
wieder bei der minimalen Belastung vor. Wesentliches Prüfkriterium ist die zulässige
maximale relative Änderung γdes Resonanzwiderstandes. Hierzu ist in (DIN) IEC
444-6 eine Grenzwertkurve in Abhängigkeit vom Wert des Resonanzwiderstandes
angegeben (siehe Bild 4.16)

29
 Bild 4.16: Maximal zulässige Widerstandsänderung γin Abhängigkeit vom
Resonanzwiderstand nach DIN IEC 444-6 (aus [6])

Dieses Meßverfahren ist einfach zu implementieren, die Aussagefähigkeit reicht aus,

um damit den weitaus größten Teil an „suspekten“Quarzen herauszufinden. Quarze
mit einem „schmalbandigen“DLD-Effekt, der nur in einem schmalen
Leistungsbereich auftritt, erfordern aber mehr Meßpunkte. Mit einem
programmierbaren oder rechnergesteuerten Netzwerkanalysator kann eine
geeignete Meßsequenz realisiert werden, bei der mit kleiner Schrittweite die
Generatorleistung aufwärts gesweept wird und dabei Resonanzfrequenz und
-widerstand gemessen werden. Empfohlen wird der Bereich 50 nW bis 200µW mit 3
Meßpunkten pro Dekade, d.h. bei 50 nW, 100 nW, 200 nW, 500 nW usw. Bei
niedrigen Belastungen muß zur Reduzierung des Fehlers durch Rauschen eine
Mehrfachmessung erfolgen. Höhere Belastungen als 200µW können in den Bereich
führen, bei dem die Schwingung des Quarzes nicht mehr harmonisch (d.h.
sinusförmig) ist, der nicht mehr zum eigentlichen DLD-Effekt gerechnet wird. Bild
4.17 zeigt das Ergebnis einer Mehrpunktemessung bei einen Quarz mit deutlichem
DLD-Effekt.

30
 Bild 4.17: Passive DLD-Messung nach der Mehrpunktmethode

Die in vielen Netzwerkanalysatoren implementierte CW-Amplitudensweep-Funktion

ist für eine DLD-Messung nicht brauchbar, da diese bei fester Frequenz arbeitet, die
Resonanzfrequenz von Quarzen sich aber bei steigender Quarzbelastung ändert,
wodurch der Meßpunkt auf der Resonanzkurve entlangwandert und falsche
Ergebnisse liefert.

4.5.2 Aktivmessung mit Testoszillator

In (DIN) IEC444-6 wird die Schaltung eines Testoszillators angegeben, der für AT-
Grundwellenquarze geeignet ist. Der Oszillator hat einen negativen Innenwiderstand
von RG = - 200 Ω . In Reihe zum Quarz wird ein variabler Widerstand geschaltet, der
auf den Wert |RG| - Rrmax eingestellt wird, wobei Rrmax der maximal zulässige
Resonanzwiderstand infolge DLD ist. Bei Überschreiten des Rr-Grenzwertes
während des Anschwingvorgangs - d.h. im gesamten Quarzbelastungsbereich - setzt
die Oszillatorschwingung auf, was von der nachfolgenden Detektorschaltung
detektiert und mit LED o.ä. angezeigt werden kann (Bild 4.18).

31
 Abb. 4.18: Testschaltung für aktive DLD-Prüfung (aus [6])

Die Schaltung eignet sich insbesondere für die Serienprüfung größerer Stückzahlen.
Für Obertonquarze etc. ist eine andere Schaltung erforderlich. Die Prüfung erfolgt
lediglich gegen einen Grenzwert. Quarze für Anwendungen, bei denen auch die
Größe der Änderung des Resonanzwiderstands (bzw. der Resonanzfrequenz)
wesentlich ist, können damit nicht selektiert werden.

Eine aktive DLD-Messung im Oszillator mit einstellbarem Quarzstrom ist durch eine
Steuerung des Arbeitspunkts des Oszillatortransistors möglich. Beispiele dafür
werden in Lit. [31] bis [33] beschrieben. Die Prinzipschaltung zur Messung der
Frequenzänderung in Abhängigkeit von der Belastungsänderung ist in Bild 4.19
wiedergegeben.

Bild 4.19: Blockschaltbild zur DLD-Messung mit kontinuierlicher Variation des Quarzstroms (aus [32])

Die Stromänderung ist hiermit nur in gewissen Grenzen (im Verhältnis von ca. 10:1)
einstellbar, womit nur schmalbandige DLD-Effekte meßbar sind. Derartige
Schaltungen erlauben daher nicht den Test des Anschwingverhaltens bei extrem
niedriger Quarzbelastung selbst, können aber Dips identifizieren, die mit
Frequenzdiskontinuitäten über Zeit oder über Temperatur korrelieren.

32
4.6 Messung des Temperaturgangs von Frequenz und Widerstand

4.6.1 TK-Meßtechnik
Die Messung des Temperaturgangs von Frequenz und Widerstand („TK-Messung“)
ist bei der Nennbelastung des Quarzes durchzuführen. Die Quarzmeßtechnik basiert
üblicherweise auf der Passiv-Meßtechnik nach (DIN) IEC 444-1, -2 oder -5. Für
geringere Genauigkeit werden gelegentlich Meßsysteme mit Testoszillatoren
verwendet. Geeignete komplette Meßsystem für die TK-Mesung von
Schwingquarzen sind kommerziell erhältlich.
Wegen des Einflusses der Lastkapazität sind Grundwellenquarze unbedingt und
Obertonquarze möglichst bei der spezifizierten Lastresonanz zu messen. Dies kann
mit physikalischen Lastkapazitäten in Serie zum Quarz (siehe Abschnitt 4.3.1) oder
durch die in Abschnitt 4.3.2 beschriebene sofwarebasierte Methode erfolgen. Die
(physikalischen) Lastkondensatoren sollten außerhalb der Temperaturkammer
angebracht sein und einen ausreichend kleinen Temperaturkoeffizienten besitzen.
In den meisten Fällen, d.h zur Bestimmung des regulären TK-Verlaufs, ist eine
Messung bei drei bis fünf Temperaturen ausreichend. Da Schwingquarze auch
dynamische thermische Effekte aufweisen, sollte die Temperatur vor der Messung
ausreichend lange stabilisiert sein (mindestens 3...5 min.) und die
Änderungsgeschwindigkeit beim Wechsel zur nächsten Meßtemperatur sollte nicht
mehr als 10 K/min [Link] schmalbandige TK-Einbrüche (sog. Frequenzdips
durch gekoppelte Moden) messen zu können, ist eine quasi kontinuierliche Messung
im Abstand von 1°C bis 5°C oder eine kontinuierliche Messung mit einer
Temperaturrampe von ca. 1 K/min erforderlich. Derartige Messungen ergeben eine
Verschiebung der TK-Kurve in Richtung des zeitlichen Temperaturgradienten.
Die Meßdaten der Frequenz werden auf eine Referenztemperatur bezogen,
üblicherweise 25°C, und als Frequenzabweichung in ppm angegeben. Zur Prüfung
der Einhaltung der TK-Forderung im gesamten Arbeitstemperaturbereich werden die
ppm-Werte mathematisch an ein Polynom 3. oder 4. Ordnung angepaßt („gefittet“).
Die Meßgenauigkeit und sogenannte TK-Einbrüche (Frequenzdips durch gekoppelte
Moden) werden durch die Abweichung der Meßdaten von der gefitteten Kurve
charakterisiert. (siehe 4.6.2, Bild 4.20). Die TK-Hysterese wird üblicherweise
bestimmt durch die Frequenzdifferenz bei einer zweiten Ansteuerung der
Referenztemperatur.
Die Meßdaten des Widerstands werden auf Überschreiten des maximal zulässigen
Wertes geprüft. In Sonderfällen wird der Widerstandsverlauf über Temperatur durch
Geraden bzw. Geradenstücke approximiert.

4.6.2 Auswertung von TK-Daten

Grundlage ist die TK-Kurve von AT-Schwingquarzen, die mit ausreichender
Genauigkeit durch die sogenannte Bechmann-Formel beschrieben werden kann:
∆f
= A1 (T - Tref) + A2 (T - Tref)2 + A3 (T - Tref)3 (96)
f
mit den Koeffizienten
A1 = -0,08583 ∆ϕ
A2 = 0,39 10-3 +-0,07833 10-3 ∆ϕ
A3 = 109,5 10-6 - 0,033 10-6 ∆ϕ

33
Wenn die Bezugstemperatur Tref, bei der ∆f=0 gesetzt ist, weit von 25°C entfernt ist,
kann ein Glied 4. Ordnung der Form A4 (T - Tref)4 hinzugefügt werden. Dies wird im
folgenden vernachlässigt.
Die Bechmannformel vereinfacht sich, wenn das Polynom statt auf ein beliebiges Tref
auf die Wendepunktstemperatur Tinv bezogen wird:
∆f
[ppm] = a 1 (T - Tinv) + a3 (T - Tinv)3 (97)
f
wobei
a3 = 1,05 10-4 (±10%)
a1 = - 0,085 ∆ϕ
∆ϕ =ϕ zz’ - ϕ 0 (Winkeloffset in Minuten zum „Nullwinkel“ϕ 0)
Die Formel ist mit geänderten Werten von a1, a3 und Tinv auch auf SC-Quarze
anwendbar.
Bei der grafischen Auswertung wird üblicherweise die mathematisch an die
Meßwerte angepaßte TK-Kurve dargestellt, in der die Meßwerte als Punkte markiert
sind. Ein besseres Bild über die Qualität der Kurvenanpassung und über eventuelle
TK-Diskontinuitäten (TK-Dips) gibt eine grafische Darstellung der Differenz zwischen
der gefitteten TK-Kurve und den Meßwerten. Bild 4.20 gibt ein Beispiel wider.

Bild 4.20: TK-Verlauf von Resonanzfrequenz und -widerstand über Temperatur

[Link] Messung bei 2 Temperaturen

Eine Messung bei zwei Temperaturen T1 und T2 liefert als Meßwert eine
Freqenzdifferenz, d.h. es kann nur ein Koeffizient (a1) in der Formel bestimmt
werden, die übrigen zwei (a3 und Tinv) müssen vorausgesetzt werden:
a3 = 1,05 10-4
Tinv = 25°...28°C für planparallele Quarze
Tinv = 28° ... 35°C für Konvexquarze.
Aus der relativen Frequenzdifferenz

34
 f2 - f1
∆f = [ppm] zwischen den beiden Meßtemperaturen erhält man
f1
∆f
a1 = - a3 (T2 -T1) (T2 - Tinv) (98)
T2 - T1
Damit kann dann der gesamte TK-Verlauf nach der obigen Formel berechnet
werden.

[Link] Messung bei 3 Temperaturen

Drei Meßtemperaturen ergeben zwei Frequenzdifferenzen, d.h. es können damit
zwei der drei Konstanten frei bestimmt werden. Es wird daher a3 = 1,05 10-4 fest
vorgegeben. Aus den Frequenzdifferenzen bei den Temperaturen T1 und T3
bezogen auf die Messung bei der mittleren Temperatur T2 berechnen sich dann die
gesuchten Koeffizienten zu
1
a1 = ( ∆T32 (∆f1 - a3 ∆T12) - ∆T12 (∆f3 - a3 ∆T32)) (99)
N
1
a2 = ( ∆T1 (∆f3 - a3 ∆T33) - ∆T32 (∆f1 - a3 ∆T33)) (100)
N
mit
f1 - f2 f3 - f2
∆f1 = [ppm] ∆f3 = [ppm] (101)
f2 f2
∆T1 = T1 - T2 ∆T3 = T3 - T2 (102)
N = ∆T1 ∆T3 (T3-T1) (103)
Die Inversionstemperatur erhält man dann aus
a2
Tinv = T2 - (104)
3 a3
Daraus kann nun die gesamte TK-Kurve entsprechend der obigen Formel berechnet
werden. Die Umkehrpunkte (falls vorhanden) errechnen sich dann aus
a22 - 3 a1 a3
Tmax = Tinv - (105)
3 a3
a22 - 3 a1 a3
Tmin = Tinv + (106)
3 a3

[Link] Messung bei 4 und mehr Temperaturen

Bei vier Meßtemperaturen können alle drei Koeffizienten der TK-Parabel exakt
berechnet werden, ohne daß zusätzliche Annahmen gemacht werden müssen.
Liegen die Meßtemperaturen ungünstig, d.h. sind sie stark asymmetrisch zum
Wendepunkt oder beinhaltet ihr Intervall nicht die beiden Umkehrpunkte Tmax und
Tmin, dann ergeben sich trotz guter mathematischer Anpassung ungenaue
Koeffizientenwerte, insbesondere für a3 und Tinv. In solchen Fällen sollte z. B. a3 auf
Plausibilität überprüft - und bei stärkerer Abweichung dann fest vorgegeben werden
(siehe [Link]).
Bei fünf und mehr Meßtemperaturen wird eine Kurvenanpassung nach der Methode
der kleinsten Fehlerquadrate („least-square fitting“) durchgeführt. Dies kann relativ
einfach z.B. mit Hilfe des SOLVERS des Tabellenkalkulationsprogramms EXCEL
oder mit speziellen Programmen erfolgen. Auch hier gelten die gleichen
Gesichtspunkte bezüglich der Genauigkeit je nach Lage der Meßtemperaturen.

35
4.7 Messung der zeitlichen Stabilität

4.7.1 Kurzzeitstabilität (Phasenrauschen)

Die Messung der Kurzzeitstabilität im Zeitbereich (Allan-Varianz) und im
Frequenzbereich (Phasenrauschen) erfolgt für Schwingquarze meistens in
Testoszillatoren. Diese entsprechen entweder der endgültigen Anwenderschaltung
oder sind speziell entworfene Oszillatoren mit einem möglichst geringen
Eigenbeitrag zum Phasenrauschen. Die Meßmethoden hierfür sind in Kapitel 7
beschrieben. Bei der Verwendung von Testoszillatoren können die Beiträge von
Resonator und Oszillatorschaltung meßtechnisch nicht getrennt werden, es gilt nur
die allgemeine Faustregel, daß das trägernahe Rauschen - d.h. innerhalb der
Gütebandbreite - wesentlich durch den Quarz bestimmt wird und das trägerferne
Grundrauschen (Abstand > 1 ... 10 kHz) vorwiegend durch die Schaltung verursacht
wird.

Es ist aber auch eine passive Messung des dem Schwingquarz inhärenten
Phasenrauschens (englisch: „residual noise“) ohne Testoszillator möglich (siehe Lit.
[34]). Der Meßaufbau ist in Bild 4.21 gezeigt. Das Signal einer möglichst
rauscharmen Quelle (Synthesizer) wird nach der Verstärkung auf einen ausreichend
hohen Pegel (ca. +27dBm) über einen Leistungsteiler in den Meßkanal und den
Referenzkanal aufgeteilt. Das Meßobjekt (DUT - device under test) kann - wie hier
besprochen - ein Quarz sein, aber auch andere aktive und passive Bauelemente wie
Verstärker usw. können mit dem gleichen Aufbau getestet werden. Im Referenzkanal
befindet sich ein Phasenschieber, mit dem 90° Phasendifferenz der beiden Signale
(Phasenquadratur) eingestellt wird.

Bild 4.21: Passive Messung des Phasenrauschens („residual phase noise“) (aus [34])

Der Phasenschieber ist bei niederen Frequenzen als L-C-Glied wie z.B. gemäß Abb.
Bild 4.22 ausgeführt, bei höheren Frequenzen (> 100 MHz) kann es als variable
Leitung realisiert werden.

36
 Bild 4.22: L-C-Phasenschieberschaltung

Beide Kanäle werden auf einen rauscharmen Phasendetektor geleitet und das
Ausgangssignal im Frequenz- oder Zeitbereich analysiert, z.B. mit einem
handelsüblichen Phasenrausch-Meßplatz wie z.B. dem faktischen
„Industriestandard“HP 3048A.

Diese Meßmethode arbeitet im Unterschied zu einem Oszillator mit offener Schleife.

Im trägernahen Bereich innerhalb der Gütebandbreite besteht hier im Idealfall reines
1/f - Funkelrauschen. Dies muß bei der Interpretation des R(f) - Verlaufs beachtet
werden (siehe Bild 7.10 in Kap. 7). Aus dem absoluten Niveau der R(f) - Kurve in
Trägernähe (z.B. bei 1 Hz) kann dann das Eigenrauschen des Quarzes klassifiziert
werden. Die Abweichung von der idealen Geraden mit -10dB/Dekade Steigung ist
ein Maß für irreguläres Rauschverhalten des Resonators. Aus dem gemessenen
inhärenten Resonatorrauschen R(f) im trägernahen 1/f-Bereich kann dann gemäß
dem Leeson Modell (Kapitel 7) der Koeffizient αR in der Leeson Formel (Kapitel 7,
Gleichung (14)) berechnet werden:
1 R(f)
αR = f 2 10 10 (107)
(2 QL f0)²
Die Messung ist recht kritisch und muß sehr sorgfältig und möglichst mehrmals
durchgeführt werden. Vorher sollte das Eigenrauschen des Meßsystems
(Rauschflur) ohne Resonator ermittelt werden.

4.7.2 Langzeitstabilität (Alterung)

Es ist zu unterscheiden zwischen der normalen Alterungsprüfung, die üblicherweise
als passiver Test über 30 Tage bei +85°C durchgeführt wird, und der sog.
erweiterten Alterungsprüfung über 1000 bis 8000 Stunden bei +85°C (siehe Lit. [7]).
Beschleunigte Alterungsprüfungen werden bei +105°C oder +125°C über 168
Stunden ausgeführt. Erweiterte und beschleunigte Alterungsprüfungen dienen nur
zu Informationszwecken. Bei diesen Meßverfahren wird üblicherweise vor Beginn
des Alterungstests und am Ende des Tests Resonanzfrequenz und Widerstand
gemessen und die Änderung mit dem zulässigen Grenzwert verglichen.

Die Messung der Langzeitstabilität von Präzissionsquarzen mit sehr niedriger

Alterungsrate (deutlich kleiner als 1 ppm/Jahr) wird üblicherweise als sog. aktive

37
Messung in speziellen Testoszillatoren bei konstanter Umgebungstemperatur oder
besser in temperaturstabilisierten Oszillatoren (OCXOs) ausgeführt. Wesentlich ist,
daß die Oszillatorschaltung und die Umgebungsbedingungen einen deutlich
kleineren Einfluß auf die Frequenz haben als die zu messende Frequenzalterung
beträgt.

Durch eine Verfeinerung der Passivmeßtechnik zu sehr hoher Präzission läßt sich
auch eine passive Alterungsmessung realisieren, bei der Quarz nur zum Zeitpunkt
der Messung elektrisch angeregt wird.

[Link] Aktive Alterungsmessung

Die Testoszillatoren mit den zu prüfenden Schwingquarzen werden in einer
Temperaturkammer mit einer Stabilität im Bereich 1/100 K ... 1/10 K untergebracht
und schwingen kontinuierlich. Für hohe Genauigkeit im ppb- (10-9) Bereich werden
temperaturstabilisierte Oszillatoren (OCXOs) verwendet, die auf dem Umkehrpunkt
des Quarzes betrieben werden.
Ausgewertet wird die zeitliche Änderung der Oszillatorfrequenz. Die Stabilität der
Oszillatorsschaltung beeinflußt unmittelbar das Meßergebnis, die
frequenzbestimmenden Bauelemente müssen daher eine hohe Langzeitstabilität
aufweisen, ebenso muß die Quarzbelastung kontant sein. Ferner muß die
Temperatur des Quarz-Heizblocks sehr stabil sein. In gewissen Fällen kann der
Einfluß der Testoszillatorschaltung und des Quarzes meßtechnisch separiert
werden, ein Verfahren und experimentelle Ergebnisse sind in Lit. [35] beschrieben.

[Link] Passive Alterungsmessung

Jedes Entnehmen der Quarze aus der Alterungskammer für Zwischenmessungen
führt zu Frequenzverschiebungen infolge des thermischen Streß und verfälscht
somit das Meßergebnis. Besser ist es, die Quarze über die ganze Alterungsperiode
in der Temperaturkammer zu belassen.. Temperaturschwankungen der Kammer
haben direkten Einfluß auf die Meßgenauigkeit, weshalb für höhere Genauigkeit die
Quarze in der Nähe des Umkehrpunkts gemessen werden sollten. Vor jeder
Messung ist das Meßsystem sehr sorgfälig zu kalibrieren. Außerdem ist zu
beachten, daß die Messung bei der spezifizierten Quarzbelastung durchgeführt wird,
wobei mehrere aufeinanderfolgende Messungen bis zum Erreichen des inneren
Gleichgewichts erfolgen sollten.
Vorteil der passiven Alterungsmessung ist, daß neben der Frequenz auch die
Änderung der übrigen Quarzparameter - insbesondere des Resonanzwiderstands -
über Zeit überprüft werden kann. Außerdem werden die Messungen nicht durch
Einflüsse des Testoszillators verfälscht. Nachteilig kann der intermittierende Betrieb
sein, da der Quarz nur zur Messung kurzzeitig angeregt wird.
Geeignete Verbesserungen der IEC444-Methode zum Erreichen einer
Frequenzgenauigkeit von 10-8 ... 5.10-9 werden in Lit. [36] geschildert, E. Hafner hat
seine Mikrobrückenmethode soweit perfektioniert, daß mit seinem (kommerziell
erhältlichen) System in Verbindung mit einer hochstabilen Temperaturkammer mit
einer Stabilität von 1 mK eine Frequenzgenauigkeit von besser 10-10 erreicht werden
kann (Lit. [37]). Die Ergebnisse einer Passivalterung in diesem System werden mit
der Aktivalterung in Lit. [38] und [39] verglichen, wobei trotz der verschiedenen
Betriebsbedingungen eine gute Korrelation beobachtet wurde.

38
[Link] Auswertung von Alterungsdaten
Prinzipiell ist bei Alterungsmessungen zwischen der Einlaufperiode in den ersten ein
bis zwei Tagen und der darauf folgenden Alterungsperiode zu unterscheiden.
Quarze mit vergleichbarer Langzeitalterung können unterschiedlich starkes
Einlaufverhalten zeigen. Zur Bewertung der Alterung werden deshalb z.B. in MIL-C-
49468 (Lit. [16]) nur die Alterungsdaten nach einem Einlauf von 48 Stunden
herangezogen.
Die Zuverlässigkeit von Alterungsprognosen hängt sehr stark von der Zahl der
Meßpunkte und der Länge der Alterungsmessung ab. Für genauere Aussagen bei
Präzissionsquarzen ist eine Alterungsdauer von ca. 2 - 4 Wochen mit mindestens
einmal täglichen Messungen sinnvoll.
Für die Alterungsprognose werden die Meßdaten der Frequenzalterung an eine
mathematische Funktion gefittet. In der Literatur werden hierfür verschiedene
Funktionen verwendet, die für unterschiedlichen Alterungsprozesse stehen oder rein
mathematisch ohne physikalischen Hintergrund sind (Lit. [39] und [41]). Die
gebräuchlichste Alterungsformel ist eine logarithmische Funktion der Form
∆f/f 0 = A0 + A1 log (1+ A2 t) (108)
die auch in den MIL-Standards für „normale“Quarze (MIL-C-3098, Lit. [15]) und für
Präzissionsquarze (MIL-C-49468, Lit. [16]) verwendet werden. Der Koeffizient A2 hat
die Dimension s-1, das heißt A2-1 = τ2 entspricht einer Zeitkonstante für den
Alterungsprozeß.
Die Anpassung der Meßdaten an diese Funktion erfolgt nach der Methode der
kleinsten Fehlerquadrate (least-square-fitting), wofür bei Filler in Literaturreferenz
[40] ein geeignetes Auswerteprogramm beschrieben wird. Ebenso können
einschlägige Programmmodule oder z.B: der EXCEL-SOLVER verwendet werden.

Die Alterungsprognose wird bei Präzissionsquarzen üblicherweise auf einen Punkt

nach 30 Tagen Einlauf bezogen, von dem ab die Alterung pro Monat und Jahr
errechnet wird. Für die Alterung pro Tag wird die Steigung der Alterungskurve am
30. Tag errechnet.

Zu beachten ist, daß die tatsächliche Langzeitalterung auch durch ausgefeilte

mathematische Verfahren nicht exakt vorausgesagt werden kann, eine
Unbestimmtheit der Alterungsrate von bis zu Faktor 2 ist nicht außergewöhnlich,
selbst bei konstanten [Link] Vergleiche der
beobachteten Langzeitalterung mit der aus einer Voralterung über 30 Tage
prognostizierten Alterung werden für verschiedene Quarztypen in Lit. [39] berichetet.
Bei realistischen Betriebsbedingungen mit wechselnden Temperaturen, Ein- und
Ausschaltzyklen usw. kommen weitere Unsicherheitsfaktoren dazu.

4.8 Literaturliste

[1] DIN IEC 444 Messung von Schwingquarz-Kennwerten

Teil 1: Verfahren zur Messung der Resonanzfrequenz und des
Resonanzwiderstandes nach der Null-Phasenmethode in einemπ-Netzwerk
[2] DIN IEC 444 Messung von Schwingquarz-Kennwerten
Teil 2: Messung der dynamischen Kapazität von Schwingquarzen nach der
Phasenoffsetmethode
[3] DIN IEC 444 Messung von Schwingquarz-Kennwerten
Teil 3: Verfahren zur Messung der Zweipol-Parameter von Schwingquarzen bis 200

39
 MHz nach der Phasenmethode in einem π-Netzwerk mit Kompensation der
Parallelkapazität C0
[4] DIN IEC 444 Messung von Schwingquarz-Kennwerten
Teil 4: Verfahren zur Messung der Lastresonanzfrequenz Lf, des
Lastresonanzwiderstandes RL und Berechnung anderer hergeleiteter Werte von
Schwingquarzen bis 30 MHz
[5] DIN IEC 444 Messung von Schwingquarz-Kennwerten
Teil 5: Meßverfahren zur Bestimmung der elektrischen Ersatzschaltungsparameter
von Schwingquarzen mit automatischer Netzwerkanalysatortechnik und
Fehlerkorrektur.
[6] DIN IEC 444 Messung von Schwingquarz-Kennwerten
Teil 6: Messung der Belastungsabhängigkeit (DLD)
[7] DIN EN 168000 (CECC 68000): Fachgrundspezifikation: Schwingquarze
[8] DIN EN 168100 (CECC 68100): Rahmenspezifikation. Schwingquarze
[9] DIN EN 169101 (CECC 68101): Vordruck für Bauartspezifikation: Schwingquarze
[10] DIN EN 168200 (CECC 68200): Rahmenspezifikation. Schwingquarze
(Bauartzulassung)
[11] DIN EN 169201 (CECC 68201): Vordruck für Bauartspezifikation: Schwingquarze
(Bauartzulassung)
[12] DIN 45105 Teil 4: Meßverfahren für Schwingquarze: Messung der Frequenz und
des Resonanzwiderstandes der Nebenresonanzen von Filterquarzen
[13] IEC 283: Methods for the Measurement of Frequency and Equivalent Resistance of
Unwanted Resonances of Filter Crystal Units
[14] IEC 302: Standard Definitions and Methods of Measurement for Piezoelectric
Vibrators operatinng over the Frequency Range up to 30 MHz
[15] MIL-C-3098, Military Specification, General Specification for Quartz Crystal Units
[16] MIL-C-49468, Military Specification, General Specification for Precision Quartz
Crystal Units
[17] Neuscheler,F.: Schwingquarz-Daten - mit Netzwerk-Analysataoren gemessen;
Elektronik, H.19 (18.9.1987), S.155-162
[18] Neubig,B.:Measurement of Quartz Crystal Units up to 500 MHz and Above by the
Use of a Pi-Network with Error Correction; Proc.11th Quartz Devices Conference
(1989), Vol.1, S.60-68
[19] Neubig,B.: Fortschritte auf dem Gebiet der Schwingquarz-Meßtechnik bis 500 MHz;
Tagunagsdokumentation ZVEI-Symposium Schwingquarze ’89; Fachverband
Bauelemente der Elektronik im ZVEI (1989), S.107-126
[20] Neubig,B, Zimmermann,R.: Recent Advances on the Measurement of Quartz
Crystal Units up to 500 MHz and Above by the Use of a Pi-Networtk with Error
Correction; Proc 2nd International Conf. on Frequency Control and Synthesis,
Leicester/UK (1989), IEE Conference Publ. No. 303, S. 11-17
[21] Neubig,B., Schulzke,L.: Improved PI-Network Measurement of All Quartz Crystal
Parameters by Appropriate Modelling of the Test Fixture; Proc. 6th European
Frequency and Time Forum (1992), S 111-117
[22] Rademaker,S.: Determination of Crystal Electrical Parameters With the Direct
Transmission Method (IEC 444-5) Using the SNA-120A Crystal Test Setup; Rapid
th
Measurement of LF Quartz Resonators; Proc. 15 Piezoelectric Devices
Conference (1993); S.41-53
[23] Smith,W.L.: An Overview of a Proposed Standard Method for the Measurement of
the Equivalent Electrical Circuit Parameters of Quartz Crystal Units up to 1 Ghz;
Proc. 6th Quartz Devices Conference (1984), S.1-41
[24] Peach,R.C., Morris,S.E.: A System for Precision Measurement on Quartz Crystal
Resonators, And Bipoles; Proc. 39th Annual Symposium on Frequency Control
(1985), S.527-534
[25] Smith,W.L.: Summary Report of Working Group 6 [Measurements] Activities During
the TC/49 Meeting in Brighton, England 7/3 - 7/7,1989; Proc. 11th Quartz Devices

40
 Conference (1989), S.82-85
[26] Smith,W.L.: EIA Standard 512: Some Further Discussion and Comments; Proc. 7th
Quartz Devices Conference (1985); S.13-51
[27] Neubig,B.: PI-Network Measurement of the Load Resonance frequency Without
Load Capacitor; Proc. 4th European Frequency and Time Forum (1990), S.481-486
Neubig,B.: Error Analysis for Load Resonance Measurements Without a Load
Capacitor; Proc. 12th Piezoelectric Devices Conference (1990), S.75-83
[28] Saunders,J.L.: Drive Level Effects on Transmission Measurement of „AT“Overtone
Resonators; Proc. 5th Quartz Crystal Conference (1983), S. 154-161
[29] Neubig,B.: Measurement of Spurious Resonances of Crystal Units Using Network
Analysers with Error Correction; Proc. 8th European Frequency and Time Forum
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[30] Neubig,B.: Recent Advances In The Measurement of Spurious Resonances Of
Crystal Units; Proc. 9th European Frequency and Time Forum (1995), S.469-472
[31] Koyama,M., Watanabe,Y. ,Sekimoto,H., Oomura,Y.: A Novel Technique for
Measuring Drive Level Dependence of Quartz Unis; Proc. 9th European Frequency
and Time Forum (1995), S.16-19
[32] Koyama,M., Watanabe,Y. ,Sekimoto,H., Oomura,Y.: An experimental Study of Long
Term Aging of Quartz Oscillators; Proc1995 IEEE International Frequency Control
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[33] Koyama,M., Watanabe,Y. ,Sekimoto,H., Oomura,Y.: An Improved Method for
Measuring the DLD-Characteristics of Quartz Resonators; 1996 IEEE International
Frequency Control Symp. (1996)
[34] Montress,G.K.,Parker,T.E.: Introduction to High Stability SAW Oscillators, Part II:
Residual Phase Noise Measurements on Components; Tutorial at 1995 IEEE
International Frequency Control Symp. (1995)
[35] Weaver,G., Hanson,W., Wickard,T.: An Insitu Technique for the Resolution of
Aging Contributions between Quartz Resonators and Oscillator Circuits; Proc. 1996
IEEE International Frequency Control Symp. (1996)
[36] Popovic,V.,Dabic,J.,Popovic-Milovanovic,V.: Precise Measurements of Quartz
Crystals in a PI-Network; Proc. 9th Quartz Devices Conf. (1987), S.21-29
[37] Hafner,E., Jackson,H.W.: Aging Measurements on Quartz Crystals in the Batch
Mode; Proc. 40th Annual Frequency Control Symposium (1986), S.306-312
[38] Neubig,B.: Comparison of Passive and Active Aging of SC-Cut and AT-Cut Crystals;
Proc 10th European Frequency and Time Forum (1996), S.37-43
[39] Neubig,B.: Comparison of Passive and Active Aging of SC-Cut and AT-Cut Crystals;
Proc. 1996 IEEE International Frequency Control Symp. (1996)
[40] Filler,R.L.: Aging Specification, Measurement, and Analysis; Proc. 7th Quartz
Devices Conf. (1985), S.93-104
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Units; Proc. 42nd Annual Frequency Control Symposium (1988), S.404-411

41